「대한민국 엔지니어상」8월 수상자 선정- (주)유니테스트 *** 책임연구원, 주성엔지니어링(주) *** 부장 -
□ 미래창조과학부(장관 최양희)와 한국산업기술진흥협회(회장 박용현)는 ㈜유니테스트 *** 책임연구원과 주성엔지니어링㈜ *** 부장을 대한민국 엔지니어상 8월 수상자로 선정하였다.
□ *** 책임연구원은 반도체 기억장치에 대한 시험 속도를 최대한 단축하면서 불량 분석 및 수리가 가능한 시험 장비를 개발하여 세계시장에서 반도체 기억장치 시험 장비의 기술경쟁력을 확보한 공로를 인정받아 수상자로 선정되었다.
o *** 책임연구원은 번인 시험(Burn-In test)*과 코어 시험(Core test)**으로 분리되어 있는 시험 절차를 통합하여 시험 시간을 단축하고 시험장비의 가격경쟁력과 시험결과의 신뢰성을 확보하였다.
* 번인 시험(Burn-In test) : 노화현상에 의한 불량을 검출하는 시험
** 코어 시험(Core test) : 기억장치 코어 기능의 불량을 검출하는 시험
o *** 책임연구원“외산 반도체 기억장치 시험 장비가 국산 제품으로 채워지는 것을 보면서 가슴 뿌듯함을 느낀다.”며, “국내 반도체 기억장치 시험 장비의 기술경쟁력 향상을 위해 더욱 정진하겠다.”고 수상 소감을 밝혔다.
대한민국 엔지니어상 8월수상자
무슨 시험이 노화상태에 의한 불량 반도체를 검사하지
번인 시험