Diffusion layer
ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಕೆಮಿಸ್ಟ್ರಿಯಲ್ಲಿ, ಪ್ರಸರಣ ಪದರವನ್ನು, ಐ. ಯು. ಪಿ. ಎ. ಸಿ. ಯ ಪ್ರಕಾರ, "ಬೃಹತ್ ದ್ರಾವಣದಲ್ಲಿನ ಸಾಂದ್ರತೆಗಳು ಅವುಗಳ ಮೌಲ್ಯಕ್ಕಿಂತ ಭಿನ್ನವಾಗಿರುವ ವಿದ್ಯುದ್ವಾರದ ಸುತ್ತಮುತ್ತಲಿನ ಪ್ರದೇಶ" ಎಂದು ವ್ಯಾಖ್ಯಾನಿಸಲಾಗಿದೆ. ಪ್ರಸರಣ ಪದರದ ದಪ್ಪದ ವ್ಯಾಖ್ಯಾನವು ಅನಿಯಂತ್ರಿತವಾಗಿದೆ ಏಕೆಂದರೆ ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಬೃಹತ್ ದ್ರಾವಣದಲ್ಲಿನ ಮೌಲ್ಯವನ್ನು ಲಕ್ಷಣರಹಿತವಾಗಿ ಸಮೀಪಿಸುತ್ತದೆ. ಹೀಗಾಗಿ ಪ್ರಸರಣ ಪದರವು ವಿಶ್ಲೇಷಕದ ಪ್ರಸರಣ ಗುಣಾಂಕವನ್ನು () ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ವೋಲ್ಟಾಮೆಟ್ರಿಕ್ ಅಳತೆಗಳಿಗೆ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ದರವನ್ನು (ವಿ/ಎಸ್) ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ. ಇದನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಕೆಲವು ಗುಣಾಕಾರಗಳೆಂದು ಪರಿಗಣಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ (ಎಲ್ಲಿ = ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ದರ). ದ್ರಾವಣದ ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಫಿಕ್ನ ನಿಯಮಗಳಿಂದ ಪಡೆದ ಅಭಿವ್ಯಕ್ತಿಯ ಪ್ರಕಾರ ಬದಲಾಗುವುದರಿಂದ ಮೌಲ್ಯವು ಭೌತಿಕವಾಗಿ ಪ್ರಸ್ತುತವಾಗಿದೆಃ ದೋಷ ಕಾರ್ಯ ಎಲ್ಲಿದೆ. ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಬೃಹತ್ ಸಾಂದ್ರತೆಯ ಸರಿಸುಮಾರು 52 ಪ್ರತಿಶತವಾಗಿದ್ದಾಗಃ ನಿಧಾನಗತಿಯ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ದರಗಳಲ್ಲಿ, ಮೈಕ್ರೋಮೀಟರ್ಗಳ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ಪ್ರಸರಣ ಪದರವು ದೊಡ್ಡದಾಗಿರುತ್ತದೆ, ಆದರೆ ವೇಗದ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ದರಗಳಲ್ಲಿ ಪ್ರಸರಣ ಪದರವು ನ್ಯಾನೊಮೀಟರ್ಗಳ ದಪ್ಪವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಈ ಸಂಬಂಧವನ್ನು ಭಾಗಶಃ ಕಾಟ್ರೆಲ್ ಸಮೀಕರಣದಿಂದ ವಿವರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಆವರ್ತಕ ವೋಲ್ಟಾಮೆಟ್ರಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದಂತೆ, ಪ್ರಸರಣ ಪದರವು ಬೃಹತ್ ದ್ರಾವಣದ ಪರಿಮಾಣಕ್ಕೆ ಹೋಲಿಸಿದರೆ ಅತ್ಯಲ್ಪ ಪರಿಮಾಣವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ. ಈ ಕಾರಣಕ್ಕಾಗಿ, ಆವರ್ತಕ ವೋಲ್ಟಾಮೆಟ್ರಿ ಪ್ರಯೋಗಗಳು ತಾಜಾ ಅನಲೈಟ್ನ ಅಕ್ಷಯವಾದ ಪೂರೈಕೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿವೆ. ಉಲ್ಲೇಖಗಳ ಪ್ರಸರಣ