4D scanning transmission electron microscopy
4ಡಿ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ) ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಯ (ಎಸ್ಟಿಇಎಂ) ಉಪವಿಭಾಗವಾಗಿದೆ, ಇದು ಪ್ರತಿ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಸ್ಥಳದಲ್ಲಿ ಒಮ್ಮುಖ ಕಿರಣ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ವಿವರ್ತನೆಯ (ಸಿಬಿಇಡಿ) ಮಾದರಿಯನ್ನು ಸೆರೆಹಿಡಿಯಲು ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಅನ್ನು ಬಳಸುತ್ತದೆ. ಈ ತಂತ್ರವು ಪ್ರತಿ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಬಿಂದುವಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದ 2 ಆಯಾಮದ ಪರಸ್ಪರ ಬಾಹ್ಯಾಕಾಶ ಚಿತ್ರವನ್ನು ನೈಜ ಜಾಗದಲ್ಲಿ 2 ಆಯಾಮದ ಪ್ರದೇಶದಾದ್ಯಂತ ಕಿರಣದ ರಾಸ್ಟರ್ಗಳಾಗಿ ಸೆರೆಹಿಡಿಯುತ್ತದೆ, ಆದ್ದರಿಂದ ಇದಕ್ಕೆ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಎಂಬ ಹೆಸರು ಬಂದಿದೆ. ಇದರ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯು ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳಲ್ಲಿನ ವಿಕಸನ ಮತ್ತು ಗಣನೆಯ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಸುಧಾರಿಸುವ ಮೂಲಕ ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿತು. ಈ ತಂತ್ರವು ದೃಶ್ಯ ವಿವರ್ತನ ಚಿತ್ರಣ, ಹಂತದ ದೃಷ್ಟಿಕೋನ ಮತ್ತು ಸ್ಟ್ರೈನ್ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್, ಹಂತದ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ ಇತ್ಯಾದಿಗಳಲ್ಲಿ ಅನ್ವಯಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಎಂಬ ಹೆಸರು ಸಾಹಿತ್ಯದಲ್ಲಿ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿದೆ, ಆದಾಗ್ಯೂ ಇದನ್ನು ಇತರ ಹೆಸರುಗಳಿಂದ ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆಃ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಇಎಲ್ಎಸ್, ಎನ್ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ (ಎನ್-ಆಯಾಮಗಳ ಸಂಖ್ಯೆ 4ಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚಾಗಿರಬಹುದು), ಸ್ಥಾನ ಪರಿಹರಿಸಿದ ವಿವರ್ತನ (ಪಿಆರ್ಡಿ), ಪ್ರಾದೇಶಿಕ ಪರಿಹರಿಸಿದ ವಿವರ್ತನ, ಆವೇಗ-ಪರಿಹರಿಸಿದ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ, "ನ್ಯಾನೊಬಿಯಮ್ ನಿಖರ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ವಿವರ್ತನ", ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ನ್ಯಾನೊ ವಿವರ್ತನ, ನ್ಯಾನೊಬಿಯಮ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ವಿವರ್ತನ, ಅಥವಾ ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ. ಡಿಫ್ರ್ಯಾಕ್ಷನ್ ಮಾದರಿಗಳ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ಪ್ರೋಬ್ ಸ್ಥಾನದ ಕಾರ್ಯವೆಂದು ಪರಿಗಣಿಸಿದ ಆರಂಭಿಕ ನಿದರ್ಶನಗಳಲ್ಲಿ ಒಂದಾದ 1995ರಲ್ಲಿ ಪೀಟರ್ ನೆಲ್ಲಿಸ್ಟ್, ಬಿ. ಸಿ. ಮೆಕ್ಕಲ್ಲಮ್ ಮತ್ತು ಜಾನ್ ರಾಡೆನ್ಬರ್ಗ್ ಅವರು ಸ್ಫಟಿಕೀಯ ಸಿಲಿಕಾನ್ನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಪಿಟಿಚೋಗ್ರಫಿ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ಪ್ರಯತ್ನಿಸಿದರು. ಟ್ರೆಸಿ ಮತ್ತು ಗಿಬ್ಸನ್ 1996ರಲ್ಲಿ ಪ್ರಸ್ತಾಪಿಸಿದ ಫ್ಲಕ್ಯುಯೇಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಎಫ್ಇಎಂ) ತಂತ್ರವು, ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಮಾದರಿಯ ಮೇಲೆ ವಿವಿಧ ಸ್ಥಳಗಳಲ್ಲಿ ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳಲಾದ ಚಿತ್ರಗಳು ಅಥವಾ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳಲ್ಲಿನ ವ್ಯತ್ಯಾಸಗಳ ಪರಿಮಾಣಾತ್ಮಕ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ಸಹ ಒಳಗೊಂಡಿತ್ತು. ಆ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಲಭ್ಯವಿದ್ದ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳ ಸೀಮಿತ ಸಾಮರ್ಥ್ಯಗಳಿಂದಾಗಿ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಕ್ಷೇತ್ರವು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯಾಗಿರಲಿಲ್ಲ. ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಯಲ್ಲಿ (ಟಿಇಎಂ) ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬಳಸುವ ಸಿಸಿಡಿ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ಸೀಮಿತ ದತ್ತಾಂಶ ಸ್ವಾಧೀನ ದರಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದ್ದವು, ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಹೆಚ್ಚಿನ ನಿಖರತೆಯೊಂದಿಗೆ ಎಲ್ಲಿ ಹೊಡೆಯುತ್ತದೆ ಎಂಬುದನ್ನು ಗುರುತಿಸಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗಲಿಲ್ಲ ಮತ್ತು ಕಡಿಮೆ ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿದ್ದವು, ಇದು ಅವುಗಳನ್ನು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ಬಳಸಲು ಅನಪೇಕ್ಷಿತವಾಗಿಸಿತು. 2010ರ ದಶಕದ ಕೊನೆಯಲ್ಲಿ, ಏಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆ, ಹೆಚ್ಚಿನ ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ವ್ಯಾಪ್ತಿ ಮತ್ತು ವೇಗದ ರೀಡ್ ಔಟ್ ವೇಗಗಳೊಂದಿಗೆ ಹೈಬ್ರಿಡ್ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಅರೇ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳ (ಪಿಎಡಿ) ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯು ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಪ್ರಯೋಗಗಳಿಗೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಟ್ಟಿತು. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ದತ್ತಾಂಶ ಸಂಗ್ರಹಣೆಯ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯು ಸ್ಟ್ಯಾಂಡರ್ಡ್ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಂತೆಯೇ ಇದ್ದರೂ, ಪ್ರತಿ ತಂತ್ರವು ವಿಭಿನ್ನ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ವಿಭಿನ್ನ ದತ್ತಾಂಶವನ್ನು ಸಂಗ್ರಹಿಸುತ್ತದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ಹಿಂಭಾಗದ ಫೋಕಲ್ ಪ್ಲೇನ್ನಲ್ಲಿ ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಇದೆ, ಇದು ಪ್ರತಿ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಸ್ಥಳದಲ್ಲಿ ಸಿಬಿಇಡಿ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಸಂಗ್ರಹಿಸುತ್ತದೆ. ಪರಸ್ಪರ ಜಾಗದಲ್ಲಿ ಒಂದು ಪ್ರದೇಶವನ್ನು ಆಯ್ಕೆ ಮಾಡುವ ಮೂಲಕ ಮತ್ತು ಪ್ರತಿ ಸಿಬಿಇಡಿ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿ ಆ ಪ್ರದೇಶದ ಸರಾಸರಿ ತೀವ್ರತೆಯನ್ನು ನೈಜ ಜಾಗದ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ಗೆ ನಿಗದಿಪಡಿಸುವ ಮೂಲಕ ಮಾದರಿಯ ಚಿತ್ರವನ್ನು ಸಿಬಿಇಡಿ ಮಾದರಿಗಳಿಂದ ನಿರ್ಮಿಸಬಹುದು. ಸಿಬಿಇಡಿ ಮಾದರಿಯ ಸಂಗ್ರಹದೊಂದಿಗೆ (ಎನ್) ಎಡಿಎಫ್ ಅಥವಾ ಎಚ್ಎಎಡಿಎಫ್ ಚಿತ್ರವನ್ನು ಏಕಕಾಲದಲ್ಲಿ ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳುವುದು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿದೆ. ಸೆರೆಹಿಡಿದ ಡಾರ್ಕ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಚಿತ್ರವು ಸೆರೆಹಿಡಿದ ಸಿಬಿಇಡಿ ಚಿತ್ರಗಳಿಂದ ನಿರ್ಮಿಸಲಾದ ಬ್ರೈಟ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಚಿತ್ರಕ್ಕೆ ಪೂರಕವಾಗಿದೆ. ಮಧ್ಯದಲ್ಲಿ ರಂಧ್ರವಿರುವ ಟೊಳ್ಳಾದ ಶೋಧಕದ ಬಳಕೆಯು ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಮಾಡುವಾಗ ಹರಡುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳನ್ನು ಇ. ಇ. ಎಲ್. ಎಸ್. ಶೋಧಕಕ್ಕೆ ರವಾನಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ಇದು ರಾಸಾಯನಿಕ ವರ್ಣಪಟಲದ ಮಾಹಿತಿ ಮತ್ತು ರಚನೆಯ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಏಕಕಾಲದಲ್ಲಿ ಸಂಗ್ರಹಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ, ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚಲು ಚಾರ್ಜ್ ಕಪಲ್ಡ್ ಸಾಧನದೊಂದಿಗೆ (ಸಿಸಿಡಿ) ಜೋಡಿಯಾಗಿರುವ ಫಾಸ್ಫೊರೆಸೆಂಟ್ ಸಿಂಟಿಲೇಟರ್ಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ. ಈ ಸಾಧನಗಳು ಉತ್ತಮ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸಂವೇದನೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿದ್ದರೂ, ಅವು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂಗೆ ಅಗತ್ಯವಾದ ರೀಡ್ ಔಟ್ ವೇಗ ಮತ್ತು ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುವುದಿಲ್ಲ. ಹೆಚ್ಚುವರಿಯಾಗಿ, ಸಿಂಟಿಲೇಟರ್ನ ಬಳಕೆಯು ಸಿಂಟಿಲೇಟರ್ನೊಂದಿಗೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ನ ಪರಸ್ಪರ ಕ್ರಿಯೆಯಿಂದಾಗಿ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಪಾಯಿಂಟ್ ಸ್ಪ್ರೆಡ್ ಫಂಕ್ಷನ್ (ಪಿಎಸ್ಎಫ್) ಅನ್ನು ಇನ್ನಷ್ಟು ಹದಗೆಡಿಸಬಹುದು. ಇದಕ್ಕೆ ವ್ಯತಿರಿಕ್ತವಾಗಿ, ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ವಾರ್ಷಿಕ STEM ಶೋಧಕಗಳು ಅಗತ್ಯವಾದ ರೀಡ್ ಔಟ್ ವೇಗವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ, ಆದರೆ ಸಂಪೂರ್ಣ CBED ಮಾದರಿಯನ್ನು ಸಂಗ್ರಹಿಸುವ ಬದಲು ಶೋಧಕವು ಸಂಗ್ರಹಿಸಿದ ತೀವ್ರತೆಯನ್ನು ಕೋನಗಳ ಶ್ರೇಣಿಯ ಮೇಲೆ ಒಂದೇ ದತ್ತಾಂಶ ಬಿಂದುವಿನಲ್ಲಿ ಸಂಯೋಜಿಸುತ್ತದೆ. 2010ರ ದಶಕದಲ್ಲಿ ಏಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆ, ವೇಗದ ರೀಡ್ ಔಟ್ ವೇಗ ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯ ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಅನ್ನು ಕಾರ್ಯಸಾಧ್ಯವಾದ ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ವಿಧಾನವಾಗಿ ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸಿದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಶೋಧಕಗಳನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಏಕಶಿಲೆಯ ಸಕ್ರಿಯ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಸಂವೇದಕ (ಎಂಎಪಿಎಸ್) ಅಥವಾ ಹೈಬ್ರಿಡ್ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಅರೇ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ (ಪಿಎಡಿ) ಆಗಿ ನಿರ್ಮಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಏಕಶಿಲೆಯ ಸಕ್ರಿಯ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಸಂವೇದಕ (ಎಂಎಪಿಎಸ್) ಒಂದು ಎಂಎಪಿಎಸ್ ಶೋಧಕವು ಪೂರಕ ಲೋಹ-ಆಕ್ಸೈಡ್-ಅರೆವಾಹಕ (ಸಿಎಮ್ಒಎಸ್) ಚಿಪ್ ಅನ್ನು ಹೊಂದಿದ್ದು, ಡೋಪ್ಡ್ ಎಪಿಟಾಕ್ಸಿಯಲ್ ಮೇಲ್ಮೈ ಪದರದೊಂದಿಗೆ ಜೋಡಿಯಾಗಿರುತ್ತದೆ, ಇದು ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿಯ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳನ್ನು ಅನೇಕ ಕಡಿಮೆ ಶಕ್ತಿಯ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳಾಗಿ ಪರಿವರ್ತಿಸುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿಯ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳಿಗೆ ನೇರವಾಗಿ ಒಡ್ಡಿಕೊಳ್ಳುವುದರಿಂದ ವಿಕಿರಣದ ಹಾನಿಯು ಪ್ರಮುಖ ಕಾಳಜಿಯಾಗಿರುವುದರಿಂದ ಎಂಎಪಿಎಸ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ವಿಕಿರಣವನ್ನು ಗಟ್ಟಿಯಾಗಿಸಬೇಕು. ಅದರ ಏಕಶಿಲೆಯ ಸ್ವರೂಪ ಮತ್ತು ನೇರವಾದ ವಿನ್ಯಾಸದಿಂದಾಗಿ, ಎಂಎಪಿಎಸ್ ಶೋಧಕಗಳು 4000 x 4000 ರ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಸಾಂದ್ರತೆಯನ್ನು ಸಾಧಿಸಬಹುದು. ಕಡಿಮೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಪ್ರಮಾಣಗಳೊಂದಿಗೆ ಜೋಡಿಸಿದಾಗ ಈ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಹೆಚ್ಚಿನ ದಕ್ಷತೆಯ ಚಿತ್ರಣಕ್ಕಾಗಿ ಏಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಎಣಿಕೆಯನ್ನು ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚುವರಿಯಾಗಿ, ಎಂಎಪಿಎಸ್ ಶೋಧಕಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಹೆಚ್ಚಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಗಳನ್ನು ಮತ್ತು ವೇಗದ ರೀಡ್ ಔಟ್ ವೇಗವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ, ಆದರೆ ಸೀಮಿತ ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯಿಂದ ಬಳಲುತ್ತವೆ. ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಅರೇ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ (ಪಿಎಡಿ) ಪಿಎಡಿ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ಇಂಟಿಗ್ರೇಟೆಡ್ ಸರ್ಕ್ಯೂಟ್ಗೆ ಬಂಧಿಸಲಾದ ಫೋಟೊಡಿಯೋಡ್ ಬಂಪ್ ಅನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುತ್ತವೆ, ಅಲ್ಲಿ ಪ್ರತಿ ಬೆಸುಗೆ ಬಂಪ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನಲ್ಲಿ ಒಂದೇ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಅನ್ನು ಪ್ರತಿನಿಧಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ಶೋಧಕಗಳು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ 128 x 128ರ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ಕಡಿಮೆ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಸಾಂದ್ರತೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ ಆದರೆ 32 ಬಿಟ್ಗಳ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯನ್ನು ಸಾಧಿಸಬಹುದು. ಈ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು 1 ಎಮ್ಎಸ್/ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ತುಲನಾತ್ಮಕವಾಗಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ರೀಡ್ ಔಟ್ ವೇಗವನ್ನು ಸಾಧಿಸಬಹುದು ಆದರೆ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿನ ತಮ್ಮ ವಾರ್ಷಿಕ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಕೌಂಟರ್ಪಾರ್ಟ್ಸ್ಗೆ ಹೋಲಿಸಿದರೆ ಇನ್ನೂ ಕೊರತೆಯಿದೆ, ಇದು 10 ಮೈಕ್ರೋ/ಪಿಕ್ಸೆಲ್ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ರೀಡ್ ಔಟ್ ವೇಗವನ್ನು ಸಾಧಿಸಬಹುದು. ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಶಬ್ದದ ಕಾರ್ಯಕ್ಷಮತೆಯನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಅದರ ಡಿಟೆಕ್ಟಿವ್ ಕ್ವಾಂಟಮ್ ದಕ್ಷತೆಯಿಂದ (DQE) ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತದೆಃ ಔಟ್ಪುಟ್ ಸಿಗ್ನಲ್ ಟು ನಾಯ್ಸ್ ಅನುಪಾತವು ಎಲ್ಲಿ ಸ್ಕ್ವೇರ್ಡ್ ಆಗಿದೆ ಮತ್ತು ಇನ್ಪುಟ್ ಸಿಗ್ನಲ್ ಟು ನಾಯ್ಸ್ ಅನುಪಾತವು ಸ್ಕ್ವೇರ್ಡ್ ಆಗಿದೆ. ಆದರ್ಶಪ್ರಾಯವಾಗಿ ಸಂವೇದಕದ ಡೀಕ್ಯೂಇ 1 ಆಗಿದ್ದು ಸಂವೇದಕವು ಶೂನ್ಯ ಶಬ್ದವನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುತ್ತದೆ ಎಂಬುದನ್ನು ಸೂಚಿಸುತ್ತದೆ. ಎಂಎಪಿಎಸ್, ಎಪಿಎಸ್ ಮತ್ತು ಇತರ ನೇರ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳ ಡಿಕ್ಯೂಇ ತಮ್ಮ ಸಿಸಿಡಿ ಕ್ಯಾಮರಾ ಪ್ರತಿರೂಪಗಳಿಗಿಂತ ಹೆಚ್ಚಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಕಂಪ್ಯೂಟೇಶನಲ್ ವಿಧಾನಗಳು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿನ ಒಂದು ಪ್ರಮುಖ ಸಮಸ್ಯೆಯೆಂದರೆ ತಂತ್ರದಿಂದ ಸಂಗ್ರಹಿಸಲಾದ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪ್ರಮಾಣದ ದತ್ತಾಂಶ. ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ನ ಒಂದು ಗಂಟೆಯ ಅವಧಿಯಲ್ಲಿ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವ 100 ಕ್ಕೂ ಹೆಚ್ಚು ಟಿಬಿ ದತ್ತಾಂಶದೊಂದಿಗೆ, ಸೂಕ್ತವಾದ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವುದು ಸವಾಲಿನ ಸಂಗತಿಯಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಇದಕ್ಕೆ ಮುಂದುವರಿದ ಗಣನೆಯ ಅಗತ್ಯವಿದೆ. ಅಂತಹ ದೊಡ್ಡ ದತ್ತಾಂಶಗಳ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯು ಸಾಕಷ್ಟು ಸಂಕೀರ್ಣವಾಗಿರಬಹುದು ಮತ್ತು ಈ ದತ್ತಾಂಶವನ್ನು ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಗೊಳಿಸಲು ಕಂಪ್ಯೂಟೇಶನಲ್ ವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಲಾಗುತ್ತಿದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗಾಗಿ ಅನೇಕ ಕೋಡ್ ರೆಪೊಸಿಟರಿಗಳು ಪ್ರಸ್ತುತ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯಲ್ಲಿವೆಃ ಹೈಪರ್ ಸ್ಪೈ, ಲಿಬರ್ ಟಿಇಎಂ, ಪೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ, ಮತ್ತು. ಈ ದೊಡ್ಡ ದತ್ತಾಂಶ ಸೆಟ್ಗಳು ಕೃತಕ ಬುದ್ಧಿಮತ್ತೆ (ಎಐ) ಮತ್ತು ಯಂತ್ರ ಕಲಿಕೆ (ಎಂಎಲ್) ಕ್ರಮಾವಳಿಗಳನ್ನು ಟಿಇಎಂ ಪ್ರಯೋಗಗಳಲ್ಲಿ ಅನುಷ್ಠಾನಗೊಳಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ, ಅಲ್ಲಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕರು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಪರಿಗಣಿಸದ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ಎಐ ಬಹಿರಂಗಪಡಿಸಬಹುದು. ಭೌತಿಕವಾಗಿ ಅರ್ಥಪೂರ್ಣ ಚೌಕಟ್ಟುಗಳಲ್ಲಿ ನೆಲೆಗೊಂಡಾಗ, ಎ. ಐ ಮತ್ತು ಎಂ. ಎಲ್ ದೊಡ್ಡ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ದತ್ತಾಂಶಗಳಲ್ಲಿ ವೈಶಿಷ್ಟ್ಯವನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವಲ್ಲಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ದಕ್ಷತೆಗೆ ಕಾರಣವಾಗಬಹುದು. ವೈಶಿಷ್ಟ್ಯದ ಗುರುತಿಸುವಿಕೆಯ ಹೊರತಾಗಿ, ಪರಿಣಾಮಕಾರಿ ಮುನ್ಸೂಚಕ ವೆಚ್ಚ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯಿಂದಾಗಿ ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ವಿನ್ಯಾಸವನ್ನು ತಿಳಿಸಲು ಎಐ ಮತ್ತು ಎಂಎಲ್ ಸಹಾಯ ಮಾಡಬಹುದು. ಆದಾಗ್ಯೂ, ಈ ರೀತಿಯ AI ಚಾಲಿತ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗೆ, ಪ್ರಸ್ತುತ ಅಸ್ತಿತ್ವದಲ್ಲಿಲ್ಲದ ಮಾಹಿತಿಯ ದತ್ತಸಂಚಯಗಳ ತರಬೇತಿ ಅಗತ್ಯವಿರುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚುವರಿಯಾಗಿ, ದತ್ತಾಂಶ ಗುಣಮಟ್ಟಕ್ಕಾಗಿ ಮಾಪನಗಳ ಕೊರತೆ, ವಿವಿಧ ತಯಾರಕರಲ್ಲಿ ಕಳಪೆ ಕ್ರಾಸ್-ಪ್ಲಾಟ್ಫಾರ್ಮ್ ಬೆಂಬಲದಿಂದಾಗಿ ಸೀಮಿತ ಸ್ಕೇಲೆಬಿಲಿಟಿ ಮತ್ತು ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ ಮತ್ತು ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ವಿಧಾನಗಳಲ್ಲಿ ಪ್ರಮಾಣೀಕರಣದ ಕೊರತೆಯು ವಿವಿಧ ಡೇಟಾಸೆಟ್ಗಳಲ್ಲಿ ಹೋಲಿಕೆ ಮತ್ತು ಪುನರುತ್ಪಾದನೆಯ ಪ್ರಶ್ನೆಗಳನ್ನು ಹುಟ್ಟುಹಾಕುತ್ತದೆ. ಆಯ್ದ ಅಪ್ಲಿಕೇಶನ್ಗಳು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಅನ್ನು ವ್ಯಾಪಕ ಶ್ರೇಣಿಯ ಅಪ್ಲಿಕೇಶನ್ಗಳಲ್ಲಿ ಬಳಸಲಾಗಿದೆ, ಅತ್ಯಂತ ಸಾಮಾನ್ಯವಾದ ಬಳಕೆಗಳು ವರ್ಚುವಲ್ ಡಿಫ್ರಾಕ್ಷನ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್, ಓರಿಯೆಂಟೇಶನ್ ಮತ್ತು ಸ್ಟ್ರೈನ್ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್ ಮತ್ತು ಫೇಸ್ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಅನಾಲಿಸಿಸ್ ಅನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿವೆ. ಈ ತಂತ್ರವನ್ನು ಮಧ್ಯಮ ಶ್ರೇಣಿಯ ಕ್ರಮ ಮಾಪನ, ಹೈಯರ್ ಆರ್ಡರ್ ಲೌ ಝೋನ್ (HOLZ) ಚಾನಲಿಂಗ್ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್, ಪೊಸಿಷನ್ ಆವರೇಜ್ ಸಿಬಿಇಡಿ, ಫ್ಲಕ್ಯುಯೇಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ, ಬಯೋಮೆಟೀರಿಯಲ್ಸ್ ಕ್ಯಾರೆಕ್ಟರೈಸೇಶನ್ ಮತ್ತು ವೈದ್ಯಕೀಯ ಕ್ಷೇತ್ರಗಳು (ಔಷಧೀಯ ವಸ್ತುಗಳ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಟ್ರಕ್ಚರ್ ಮತ್ತು ಪೆಪ್ಟೈಡ್ ಸ್ಫಟಿಕಗಳ ಓರಿಯೆಂಟೇಶನ್ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್) ಗಳಲ್ಲಿ ಸಹ ಅನ್ವಯಿಸಲಾಗಿದೆ. ಈ ಪಟ್ಟಿಯು ಯಾವುದೇ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಸಮಗ್ರವಾಗಿಲ್ಲ ಮತ್ತು ಕ್ಷೇತ್ರವು ಇನ್ನೂ ಚಿಕ್ಕದಾಗಿರುವುದರಿಂದ ಹೆಚ್ಚಿನ ಅಪ್ಲಿಕೇಶನ್ಗಳನ್ನು ಸಕ್ರಿಯವಾಗಿ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಲಾಗುತ್ತಿದೆ. ವರ್ಚುವಲ್ ಡಿಫ್ರಾಕ್ಷನ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಎಂಬುದು ಡಿಫ್ರಾಕ್ಷನ್ ಮಾದರಿಗಳಿಂದ ನೈಜ ಬಾಹ್ಯಾಕಾಶ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸಲು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಲಾದ ಒಂದು ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ಈ ತಂತ್ರವನ್ನು 90ರ ದಶಕದಿಂದಲೂ ವಸ್ತು ರಚನೆಗಳನ್ನು ನಿರೂಪಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತಿದೆ ಆದರೆ ಇತ್ತೀಚೆಗೆ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಅನ್ವಯಿಕೆಗಳಲ್ಲಿ ಅನ್ವಯಿಸಲಾಗಿದೆ. ಈ ತಂತ್ರವನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ನ್ಯಾನೋ ವಿವರ್ತನ (ಸೆಂಡ್) ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದರಲ್ಲಿ 4 ಜೋಡಿ ಕಾಂತೀಯ ಸುರುಳಿಗಳನ್ನು ಒಮ್ಮುಖವಾದ ಶೋಧಕವನ್ನು ತಿರುಗಿಸಲು ಮತ್ತು ಕಿರಣವನ್ನು ಮೇಲ್ಮೈಗೆ ಅಡ್ಡಲಾಗಿ ತಿರುಗಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. "ವರ್ಚುವಲ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್" ಒಂದು ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಅಲ್ಲ, ಬದಲಿಗೆ ಡೇಟಾ ಪ್ರೊಸೆಸಿಂಗ್ನ ಒಂದು ವಿಧಾನವಾಗಿದ್ದು, ಇದು ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ-ಕ್ಷೇತ್ರ ಮತ್ತು ಡಾರ್ಕ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ರಚಿಸಲು ಪ್ರತಿ ರಾಸ್ಟರ್ ಸ್ಥಾನದಲ್ಲಿ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳಲ್ಲಿ ಪಿಕ್ಸೆಲ್ಗಳ ಉಪವಿಭಾಗವನ್ನು ಸಂಯೋಜಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ಚಿತ್ರಗಳ ಸಂಸ್ಕರಣೆಯನ್ನು ಮೊದಲು ಎಲ್ಲಾ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ಗಳ ಮೇಲೆ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ಸರಾಸರಿ ಮಾಡುವ ಮೂಲಕ ನಡೆಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ನಂತರ ವಿವರ್ತನ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿ ಆಸಕ್ತಿಯ ಪ್ರದೇಶವನ್ನು ಆಯ್ಕೆ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ, ಕಡಿಮೆ ಡೇಟಾಸೆಟ್ನಲ್ಲಿ ವರ್ಚುವಲ್ ದ್ಯುತಿರಂಧ್ರವನ್ನು ಎಳೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಕಂಪ್ಯೂಟೇಶನಲ್ ವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಚಿತ್ರವನ್ನು ನಿರ್ಮಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ವರ್ಚುವಲ್ ದ್ಯುತಿರಂಧ್ರವು ಯಾವುದೇ ಗಾತ್ರ/ಆಕಾರವನ್ನು ಬಯಸಬಹುದು ಮತ್ತು ಒಂದೇ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ನಿಂದ ಸಂಗ್ರಹಿಸಲಾದ 4ಡಿ ಡೇಟಾಸೆಟ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಿ ರಚಿಸಬಹುದು. ವಿವಿಧ ದ್ಯುತಿರಂಧ್ರಗಳನ್ನು ಅನುಕರಿಸುವ ಈ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ವಿಧಾನಗಳಿಂದ ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಕಾರ್ಯಾಚರಣೆಯಲ್ಲಿನ ವಿಶಿಷ್ಟ ದೌರ್ಬಲ್ಯಗಳನ್ನು ನಿವಾರಿಸುತ್ತದೆ ಏಕೆಂದರೆ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಬ್ರೈಟ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಮತ್ತು ಡಾರ್ಕ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳನ್ನು ಸ್ಥಿರ ಕೋನಗಳಲ್ಲಿ ಇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಬದಲಾಯಿಸಲಾಗುವುದಿಲ್ಲ. 4ಡಿ ಡೇಟಾಸೆಟ್ನೊಂದಿಗೆ ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ/ಡಾರ್ಕ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ಅನುಕ್ರಮವಾಗಿ ವಿವರ್ತನ ಮತ್ತು ಹರಡುವ ಕಿರಣಗಳಿಂದ ವಿವರ್ತನೆಯ ತೀವ್ರತೆಗಳನ್ನು ಸಂಯೋಜಿಸುವ ಮೂಲಕ ಪಡೆಯಬಹುದು. ಈ ಮಾದರಿಗಳಿಂದ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ರಚಿಸುವುದು ನ್ಯಾನೊಮೀಟರ್ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಅನ್ನು ನೀಡುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಇದನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ನ್ಯಾನೊವಸ್ತುಗಳ ರಚನೆಯನ್ನು ನಿರೂಪಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ಸೂಚ್ಯಂಕಗೊಳಿಸಬಹುದು ಮತ್ತು ದೃಷ್ಟಿಕೋನ ಮತ್ತು ಹಂತದ ನಕ್ಷೆಗಾಗಿ ವಿಶ್ಲೇಷಿಸಬಹುದು, ಅಲ್ಲಿ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ಗಳಿಂದ ನೈಜ ಬಾಹ್ಯಾಕಾಶ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ನಿರ್ಮಿಸಬಹುದು. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ವರ್ಚುವಲ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಮಾಡುವ ಅನುಕೂಲಗಳು ಹೀಗಿವೆಃ ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಲ್ಲಿ ಸಾಧ್ಯವಾಗದ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಜ್ಯಾಮಿತಿಗಳನ್ನು ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸುವುದು, ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗೆ ಹೊಡೆಯುವ ಯಾವುದೇ ಕೋನದಲ್ಲಿ ಚದುರಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಬಳಕೆಗೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುವುದು, ಚಿತ್ರಗಳ ಮೇಲೆ ಶಬ್ದಕ್ಕೆ ಸಂಕೇತವನ್ನು ಸುಧಾರಿಸುವುದು ಮತ್ತು ಮಾದರಿ ಬಾಗುವಿಕೆ/ಕ್ರಿಯಾತ್ಮಕ ಚದುರುವಿಕೆಯ ಘಟನೆಗಳಿಗೆ ಪ್ರತಿರೋಧ. ಇಂಟರ್ಫೇಸ್ಗಳನ್ನು ನಕ್ಷೆ ಮಾಡಲು, ವರ್ಧಿತ ಡಾರ್ಕ್ ಫೀಲ್ಡ್ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ರೂಪಿಸಲು ವಿವರ್ತನ ಸಮತಲದ ಆಯ್ದ ಪ್ರದೇಶಗಳಿಂದ ತೀವ್ರತೆಯನ್ನು ಆಯ್ಕೆ ಮಾಡಲು, ನ್ಯಾನೊಸ್ಕೇಲ್ ಅವಕ್ಷೇಪಗಳ ಸ್ಥಾನಗಳನ್ನು ನಕ್ಷೆ ಮಾಡಲು, ಕಿರಣ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಬ್ಯಾಟರಿ ಕ್ಯಾಥೋಡ್ ವಸ್ತುಗಳ ಹಂತದ ನಕ್ಷೆಗಳನ್ನು ರಚಿಸಲು ಮತ್ತು ಲೋಹ-ಸಾವಯವ ಚೌಕಟ್ಟುಗಳಲ್ಲಿ (ಎಂಒಎಫ್) ಸ್ಫಟಿಕೀಯತೆಯ ಮಟ್ಟವನ್ನು ಅಳೆಯಲು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಅನ್ನು ಬಳಸಲಾಗಿದೆ. ಹಂತದ ಓರಿಯೆಂಟೇಶನ್ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್ ಹಂತದ ಓರಿಯೆಂಟೇಶನ್ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್ ಅನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಎಸ್ಇಎಂನಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಹಿಂಭಾಗದಲ್ಲಿ ಚದುರಿದ ವಿವರ್ತನೆಯೊಂದಿಗೆ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದು ಪಾಲಿಕ್ರಿಸ್ಟಲೈನ್ ವಸ್ತುಗಳಲ್ಲಿ ಧಾನ್ಯದ ದೃಷ್ಟಿಕೋನದ 2ಡಿ ನಕ್ಷೆಗಳನ್ನು ನೀಡುತ್ತದೆ. ಕಿಕುಚಿ ರೇಖೆಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿಯೂ ಈ ತಂತ್ರವನ್ನು ಮಾಡಬಹುದು, ಇದು ಕಿಕುಚಿ ರೇಖೆಗಳ ರಚನೆಯು ಹರಡುವ ಚದುರುವಿಕೆಯನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿರುವುದರಿಂದ ದಪ್ಪ ಮಾದರಿಗಳಿಗೆ ಹೆಚ್ಚು ಅನ್ವಯಿಸುತ್ತದೆ. ಪರ್ಯಾಯವಾಗಿ, ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ಒಬ್ಬರು ಹೆಚ್ಚಿನ ಸಂಖ್ಯೆಯ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ದಾಖಲಿಸಲು ಪೂರ್ವಭಾವಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ವಿವರ್ತನೆಯನ್ನು (ಪಿಇಡಿ) ಬಳಸಬಹುದು ಮತ್ತು ತಿಳಿದಿರುವ ಮಾದರಿಗಳಿಗೆ ಹೋಲಿಸುವ ಮೂಲಕ, ಕಣಗಳ ಸಾಪೇಕ್ಷ ದೃಷ್ಟಿಕೋನವನ್ನು ನಿರ್ಧರಿಸಬಹುದು. ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಸ್ಪಾಟ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಎಂಬ ತಂತ್ರದಲ್ಲಿ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಅನ್ನು ದೃಷ್ಟಿಕೋನಗಳನ್ನು ನಕ್ಷೆ ಮಾಡಲು ಸಹ ಬಳಸಬಹುದು. ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ಟಿಇಎಂ ತಂತ್ರಗಳ ಬಳಕೆಯು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ವಿಧಾನಕ್ಕಿಂತ ಉತ್ತಮ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ಗೆ ಕಾರಣವಾಗುತ್ತದೆ ಆದರೆ ಡಿಪಿಗಳು ತುಂಬಾ ವಿರೂಪಗೊಳ್ಳುವುದರಿಂದ ಹೆಚ್ಚಿನ ಒತ್ತಡವಿರುವ ಪ್ರದೇಶಗಳಲ್ಲಿ ವಿಫಲವಾಗಬಹುದು. ಬ್ರಾಗ್ ಸ್ಪಾಟ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್ನಲ್ಲಿ, ಮೊದಲ ಪರಸ್ಪರ ಸಂಬಂಧದ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯ ವಿಧಾನವನ್ನು 0 (ಯಾವುದೇ ಪರಸ್ಪರ ಸಂಬಂಧವಿಲ್ಲ) ಮತ್ತು 1 (ನಿಖರವಾದ ಹೊಂದಾಣಿಕೆ) ನಡುವಿನ ಪರಸ್ಪರ ಸಂಬಂಧದ ವಿಧಾನವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಗುಂಪು ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳಿಗೆ (ಡಿಪಿ) ನಡೆಸಲಾಗುತ್ತದೆ; ನಂತರ ಡಿಪಿಗಳನ್ನು ಪರಸ್ಪರ ಸಂಬಂಧದ ಮಿತಿಯನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಅವುಗಳ ಪರಸ್ಪರ ಸಂಬಂಧದಿಂದ ವರ್ಗೀಕರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ನಂತರ ಪ್ರತಿ ಗುಂಪಿನಿಂದ ಪರಸ್ಪರ ಸಂಬಂಧದ ಚಿತ್ರವನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು. ಪ್ರತಿ ಗುಂಪಿನಿಂದ ಒಟ್ಟಾರೆ ಪ್ರತಿನಿಧಿ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಪಡೆಯಲು ಇವುಗಳನ್ನು ಒಟ್ಟುಗೂಡಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಸರಾಸರಿ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ವಿಭಿನ್ನ ದಿಕ್ಕುಗಳಿಗೆ ಬಣ್ಣಗಳನ್ನು ನಿಗದಿಪಡಿಸಬಹುದು, ಇದು ಪ್ರತ್ಯೇಕ ಧಾನ್ಯದ ದಿಕ್ಕುಗಳನ್ನು ದೃಶ್ಯೀಕರಿಸಲು ಸಹಾಯ ಮಾಡುತ್ತದೆ. ಸರಿಯಾದ ಟಿಲ್ಟಿಂಗ್ ಮತ್ತು ಪ್ರೀಸೆಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಡಿಫ್ರಾಕ್ಷನ್ (PED) ಅನ್ನು ಬಳಸುವುದರೊಂದಿಗೆ ಧಾನ್ಯದ ದೃಷ್ಟಿಕೋನ ಮತ್ತು ವಿತರಣೆಯ 3D ಟೋಮೋಗ್ರಾಫಿಕ್ ರೆಂಡರಿಂಗ್ಗಳನ್ನು ಮಾಡಲು ಸಹ ಸಾಧ್ಯವಿದೆ. ಈ ತಂತ್ರವು ಗಣನೆಯ ತೀವ್ರತೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುವುದರಿಂದ, ಇತ್ತೀಚಿನ ಪ್ರಯತ್ನಗಳು ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗೆ ಯಂತ್ರ ಕಲಿಕೆಯ ವಿಧಾನದ ಮೇಲೆ ಕೇಂದ್ರೀಕೃತವಾಗಿವೆ. ಸ್ಟ್ರೈನ್ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್ ಟಿಇಎಂ ಸ್ಥಳೀಯ ತಳಿಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಬಹುದು ಮತ್ತು ಇದನ್ನು ಸಾಂದ್ರೀಕೃತ ಕಿರಣದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ವಿವರ್ತನೆಯನ್ನು ಸಿಬಿಇಡಿ ಬಳಸಿ ಮಾದರಿಗಳಲ್ಲಿನ ತಳಿಗಳನ್ನು ನಕ್ಷೆ ಮಾಡಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಲ್ಯಾಟಿಸ್ ನಿಯತಾಂಕದಲ್ಲಿನ ಬದಲಾವಣೆಗಳನ್ನು ನೋಡಲು ಮಾದರಿಯ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಯ ಅನಿಯಂತ್ರಿತ ಪ್ರದೇಶವನ್ನು ಒತ್ತಡಕ್ಕೊಳಗಾದ ಪ್ರದೇಶದೊಂದಿಗೆ ಹೋಲಿಸುವುದು ಈ ತಂತ್ರದ ಆಧಾರವಾಗಿದೆ. ಎಸ್ಟಿಇಎಂನೊಂದಿಗೆ, ಮಾದರಿಯ ಪ್ರದೇಶದಿಂದ ಭಿನ್ನವಾಗಿರುವ ಡಿಸ್ಕ್ ಸ್ಥಾನಗಳು ಪ್ರಾದೇಶಿಕ ಒತ್ತಡದ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒದಗಿಸಬಹುದು. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ದತ್ತಾಂಶಗಳೊಂದಿಗಿನ ಈ ತಂತ್ರದ ಬಳಕೆಯು ಸಾಕಷ್ಟು ಒಳಗೊಳ್ಳುವ ಲೆಕ್ಕಾಚಾರಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿದೆ. ಈ ಹಿಂದೆ ಚರ್ಚಿಸಿದಂತೆ, ಸೆಂಡ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು, ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ ಮತ್ತು ಗಾಢವಾದ ಕ್ಷೇತ್ರ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ಅನುಕ್ರಮವಾಗಿ ನೇರ ಮತ್ತು ವಿವರಿತ ಕಿರಣಗಳ ಏಕೀಕರಣದ ಮೂಲಕ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಗಳಿಂದ ಪಡೆಯಬಹುದು. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಕಾರ್ಯಾಚರಣೆಯ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಎಡಿಎಫ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಅನ್ನು ದೊಡ್ಡ ಕೋನಗಳಿಗೆ ಚದುರಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳ ಸಂಗ್ರಹದ ಮೂಲಕ ಆಸಕ್ತಿಯ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಪ್ರದೇಶವನ್ನು ದೃಶ್ಯೀಕರಿಸಲು ಬಳಸಬಹುದು. ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಮತ್ತು ಸ್ಟ್ರೈನ್ ಮಾಹಿತಿಯ ನಡುವೆ ವಿನಿಮಯವಿದೆ; ಏಕೆಂದರೆ ದೊಡ್ಡ ಶೋಧಕಗಳು ದೊಡ್ಡ ಪ್ರಮಾಣದಲ್ಲಿ ಸರಾಸರಿ ಒತ್ತಡದ ಅಳತೆಗಳನ್ನು ಮಾಡಬಹುದು, ಆದರೆ ಸಣ್ಣ ಶೋಧಕ ಗಾತ್ರಗಳಿಗೆ ಚಲಿಸುವುದರಿಂದ ಹೆಚ್ಚಿನ ನೈಜ ಸ್ಥಳದ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ನೀಡುತ್ತದೆ. ವೀಕ್ಷಣೆಯ ಕ್ಷೇತ್ರವನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸಲು ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಮಿತಿಯನ್ನು ಹೊರತುಪಡಿಸಿ ಅಂತರ ಶೋಧಕಗಳಂತಹ ಈ ಸಮಸ್ಯೆಯನ್ನು ಎದುರಿಸಲು ಮಾರ್ಗಗಳಿವೆ. ಈ ಸ್ಟ್ರೈನ್ ಮ್ಯಾಪಿಂಗ್ ತಂತ್ರವನ್ನು ಅನೇಕ ಸ್ಫಟಿಕೀಯ ವಸ್ತುಗಳಲ್ಲಿ ಅನ್ವಯಿಸಲಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಅರೆ-ಸ್ಫಟಿಕೀಯ ಮತ್ತು ಅಸ್ಫಾಟಿಕ ವಸ್ತುಗಳಿಗೆ (ಲೋಹದ ಕನ್ನಡಕಗಳಂತಹ) ವಿಸ್ತರಿಸಲಾಗಿದೆ, ಏಕೆಂದರೆ ಅವು ಸಹ ಹೆಚ್ಚಿನ ಒತ್ತಡದ ಪ್ರದೇಶಗಳಲ್ಲಿ ಸರಾಸರಿ ಪರಮಾಣು ಅಂತರದಿಂದ ವ್ಯತ್ಯಾಸಗಳನ್ನು ಪ್ರದರ್ಶಿಸುತ್ತವೆ ಹಂತದ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಅನಾಲಿಸಿಸ್ ಡಿಫರೆನ್ಷಿಯಲ್ ಹಂತದ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಡಿಫರೆನ್ಷಿಯಲ್ ಫೇಸ್ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್ ತಂತ್ರವನ್ನು (ಡಿಪಿಸಿ) ಪ್ರತಿ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಬಿಂದುವಿನಲ್ಲಿ ಕ್ಷೇತ್ರದಿಂದ ಉಂಟಾಗುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣದ ವಿಚಲನವನ್ನು ಅಳೆಯುವ ಮೂಲಕ ಮಾದರಿಗಳಲ್ಲಿ ಸ್ಥಳೀಯ ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಕ್ಷೇತ್ರವನ್ನು ನಕ್ಷೆ ಮಾಡಲು ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ಬಳಸಬಹುದು. ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕವಾಗಿ ಕಿರಣದ ಚಲನೆಯನ್ನು ಕಿರಣವನ್ನು ಸುತ್ತುವರೆದಿರುವ ವಿಭಜಿತ ವಾರ್ಷಿಕ ಕ್ಷೇತ್ರ ಶೋಧಕಗಳನ್ನು ಬಳಸಿ ಟ್ರ್ಯಾಕ್ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ವಿಭಜಿತ ಶೋಧಕಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಡಿಪಿಸಿ ಪರಮಾಣು ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಅನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಮತ್ತು ಸಿಬಿಇಡಿ ಮಾದರಿಗಳ "ದ್ರವ್ಯರಾಶಿಯ ಕೇಂದ್ರದ" ಚಲನೆಯನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚಲು ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ನ ಬಳಕೆಯು ವಿಭಜಿತ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳನ್ನು ಬಳಸುವುದರೊಂದಿಗೆ ಹೋಲಿಸಬಹುದಾದ ಫಲಿತಾಂಶಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ ಎಂದು ಕಂಡುಬಂದಿದೆ. ಮಾದರಿ ದೃಷ್ಟಿಕೋನದೊಂದಿಗೆ ಜೋಡಿಸಲು ವಿಭಜಿತ ಶೋಧಕವನ್ನು ತಿರುಗಿಸುವ ಅಗತ್ಯವಿಲ್ಲದೇ ಎಲ್ಲಾ ದಿಕ್ಕುಗಳ ಉದ್ದಕ್ಕೂ ಹಂತದ ಬದಲಾವಣೆಯ ಅಳತೆಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಲು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಅನುಮತಿಸುತ್ತದೆ. ಸ್ಥಳೀಯ ವಿದ್ಯುತ್ ಕ್ಷೇತ್ರಕ್ಕೆ ಸಮಾನಾಂತರವಾಗಿ ಸ್ಥಳೀಯ ಧ್ರುವೀಕರಣವನ್ನು ಅಳೆಯುವ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನೊಂದಿಗೆ ಪ್ರದರ್ಶಿಸಲಾಗಿದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನೊಂದಿಗಿನ ಡಿಪಿಸಿ ಚಿತ್ರಣವು ವಿಭಜಿತ ಶೋಧಕಗಳೊಂದಿಗಿನ ಡಿಪಿಸಿಗಿಂತ 2 ಕ್ರಮಗಳಷ್ಟು ನಿಧಾನವಾಗಿರುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ದೊಡ್ಡ ನಾಲ್ಕು ಆಯಾಮದ ದತ್ತಾಂಶಗಳ ಸುಧಾರಿತ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯ ಅಗತ್ಯವಿರುತ್ತದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ದತ್ತಾಂಶ ಸಮೂಹದಲ್ಲಿರುವ ಅತಿಕ್ರಮಿಸುವ ಸಿಬಿಇಡಿ ಅಳತೆಗಳು ಪಿಟಿಚೋಗ್ರಫಿ ತಂತ್ರವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಸಂಕೀರ್ಣ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಪ್ರೋಬ್ ಮತ್ತು ಸಂಕೀರ್ಣ ಮಾದರಿ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ನಿರ್ಮಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ದತ್ತಾಂಶದೊಂದಿಗೆ ಪಿಟಿಚೋಗ್ರಾಫಿಕ್ ಪುನರ್ನಿರ್ಮಾಣಗಳು ಎಡಿಎಫ್, ಬಿಎಫ್, ಎಬಿಎಫ್ ಮತ್ತು ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ವಿಭಜಿತ ಡಿಪಿಸಿ ಚಿತ್ರಣಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚಿನ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಅನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತವೆ ಎಂದು ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ. 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಈ ತಂತ್ರದ ಹೆಚ್ಚಿನ ಸಿಗ್ನಲ್-ಟು-ಶಬ್ದ ಅನುಪಾತವು ಜೈವಿಕ ಮಾದರಿಗಳಂತಹ ವಿಕಿರಣ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ಚಿತ್ರಿಸಲು ಆಕರ್ಷಕವಾಗಿಸುತ್ತದೆ. ಮಧ್ಯದಲ್ಲಿ ರಂಧ್ರವಿರುವ ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಬಳಕೆಯು ಚದುರಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣವನ್ನು ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್ಗೆ ಹಾದುಹೋಗಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ, ಇದು 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ರಾಸಾಯನಿಕ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯೊಂದಿಗೆ ಪಿಟಿಚೋಗ್ರಾಫಿಕ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ಅನುಮತಿಸುತ್ತದೆ ಎಂದು ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಮಿಡಿ ಸ್ಟೆಮ್ ಈ ತಂತ್ರವು ಮಿಡಿ-ಸ್ಟೆಮ್ (ಹೊಂದಿಕೆಯಾಗುವ ಬೆಳಕು ಮತ್ತು ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೊಮೆಟ್ರಿ-ಸ್ಟೆಮ್), ಕಡಿಮೆ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿದೆಯಾದರೂ, ಹೆಚ್ಚಿನ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಹಂತದ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ರಚಿಸಲು ಪಿಟಿಚೋಗ್ರಫಿಯೊಂದಿಗೆ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ರಂಧ್ರವನ್ನು ರೂಪಿಸುವ ಪ್ರೋಬ್ನಲ್ಲಿ 0 ಮತ್ತು π/2 ಹಂತದ ಶಿಫ್ಟ್ ವಲಯಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಫೇಸ್ ಪ್ಲೇಟ್ನ ನಿಯೋಜನೆಯು ಪರಿಣಾಮವಾಗಿ ಸಿ. ಬಿ. ಇ. ಡಿ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿ ಕೇಂದ್ರೀಕೃತ ಉಂಗುರಗಳ ಸರಣಿಯನ್ನು ಸೃಷ್ಟಿಸುತ್ತದೆ. 0 ಮತ್ತು π/2 ಪ್ರದೇಶಗಳ ನಡುವಿನ ಎಣಿಕೆಗಳಲ್ಲಿನ ವ್ಯತ್ಯಾಸವು ಸ್ಥಳೀಯ ಮಾದರಿ ಹಂತದ ನೇರ ಮಾಪನಕ್ಕೆ ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ವಿವಿಧ ಪ್ರದೇಶಗಳಲ್ಲಿನ ಎಣಿಕೆಗಳನ್ನು ಸಂಕೀರ್ಣ ಸ್ಟ್ಯಾಂಡರ್ಡ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಜ್ಯಾಮಿತಿಗಳ ಮೂಲಕ ಅಥವಾ 4ಡಿ ಎಸ್ಟಿಇಎಂನಲ್ಲಿ ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಬಳಕೆಯ ಮೂಲಕ ಅಳೆಯಬಹುದು. ಪಿಕ್ಸೆಲೇಟೆಡ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ಈ ತಂತ್ರವನ್ನು ಪರಮಾಣು ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ನೊಂದಿಗೆ ಬಳಸುತ್ತವೆ ಎಂದು ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ. (ಮಿಡಿ)-ಸ್ಟೆಮ್ ಡಿಪಿಸಿ ಅಥವಾ ಪಿಟಿಚೋಗ್ರಫಿಗಿಂತ ಕಡಿಮೆ ಹೈ-ಪಾಸ್ ಫಿಲ್ಟರಿಂಗ್ನೊಂದಿಗೆ ಇಮೇಜ್ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುತ್ತದೆ ಆದರೆ ಆ ತಂತ್ರಗಳಿಗಿಂತ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪ್ರಾದೇಶಿಕ ಆವರ್ತನಗಳಲ್ಲಿ ಕಡಿಮೆ ಪರಿಣಾಮಕಾರಿಯಾಗಿದೆ. (ಮಿಡಿ)-ಪ್ರತ್ಯೇಕವಾಗಿ ಬಳಸುವ ತಂತ್ರಕ್ಕಿಂತ ವ್ಯತಿರಿಕ್ತ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒದಗಿಸುವಲ್ಲಿ ಪಿಟಿಚೋಗ್ರಫಿಯೊಂದಿಗೆ ಬಳಸುವ ಸ್ಟೆಮ್ ಹೆಚ್ಚು ಪರಿಣಾಮಕಾರಿಯಾಗಿದೆ ಎಂದು ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣ ಪ್ರೇರಿತ ಶೇಖರಣೆ ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಟಿಇಎಂ) ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಎಸ್ಟಿಇಎಂ) ಎನರ್ಜಿ ಫಿಲ್ಟರ್ಡ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಇಎಫ್ಟಿಇಎಂ) ಹೈ-ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಎಚ್ಆರ್ಟಿಇಎಂ) ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಕಾನ್ಫೋಕಲ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಎಸ್ಸಿಇಎಂ) ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಎಸ್ಇಎಂ) ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಷನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಗಾಗಿ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ಉಲ್ಲೇಖಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ತಂತ್ರಗಳು