SEM-XRF
ಎಸ್ಇಎಂ-ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ ಎಂಬುದು ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್ (ಎಸ್ಇಎಂ) ಗೆ (ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಮೈಕ್ರೋ-ಫೋಕಸ್) ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಜನರೇಟರ್ (ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಮೂಲ) ಅನ್ನು ಸೇರಿಸಲು ಸ್ಥಾಪಿತವಾದ ತಾಂತ್ರಿಕ ಪದವಾಗಿದೆ. ಸಣ್ಣ-ಸ್ಥಳದ ಕಡಿಮೆ-ಶಕ್ತಿಯ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಕೊಳವೆಗಳು ಮತ್ತು ಪಾಲಿಕೈಪಿಲರಿ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ದೃಗ್ವಿಜ್ಞಾನದ ಕ್ಷೇತ್ರಗಳಲ್ಲಿನ ತಾಂತ್ರಿಕ ಪ್ರಗತಿಯು ಶಕ್ತಿ-ಪ್ರಸರಣದ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (ಇ. ಡಿ. ಎಸ್., ಇ. ಡಿ. ಎಕ್ಸ್., ಇ. ಡಿ. ಎಕ್ಸ್. ಎಸ್. ಅಥವಾ ಎಕ್ಸ್. ಇ. ಡಿ. ಎಸ್.) ಹೊಂದಿದ ಎಸ್. ಇ. ಎಂ. ಗೆ ಜೋಡಿಸಬಹುದಾದ ಕಾಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಮೈಕ್ರೋ-ಫೋಕಸ್ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಮೂಲಗಳ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಗೆ ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಟ್ಟಿದೆ. ಬಲಭಾಗದಲ್ಲಿರುವ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಿರುವಂತೆ, ಮೈಕ್ರೋ-ಫೋಕಸ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಫ್ಲೋರೊಸೆನ್ಸ್ (ಮೈಕ್ರೋಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್) ಅನ್ನು ಎಸ್ಇಎಂನೊಂದಿಗೆ ನಿರ್ವಹಿಸಿದಾಗ, ಅರ್ಹತೆಯ ಮೂಲಭೂತ ವಿಶ್ಲೇಷಣಾತ್ಮಕ ವಿಶ್ಲೇಷಣಾತ್ಮಕ ಅಂಕಿಅಂಶಗಳನ್ನು ಜಾಡಿನ ಮಟ್ಟದ ಪ್ರಮಾಣೀಕರಣ ಮತ್ತು ಬೃಹತ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ ಸಾಧ್ಯವಿರುವ ಹಂತಕ್ಕೆ ವಿಸ್ತರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅನುಕ್ರಮವಾಗಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳೊಂದಿಗೆ ಮತ್ತು ಫೋಟಾನ್ಗಳೊಂದಿಗೆ ಪ್ರಚೋದಿತವಾದ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ವರ್ಣಪಟಲದಿಂದ ಪಡೆದ ವಿಶ್ಲೇಷಣಾತ್ಮಕ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಸಂಯೋಜಿಸುವ ಮೂಲಕ, ಕಡಿಮೆ ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ಪರಮಾಣು ಸಂಖ್ಯೆಯ ಮುಖ್ಯ ಅಂಶಗಳು ಮತ್ತು ಜಾಡಿನ ಅಂಶಗಳನ್ನು ವಿಶ್ಲೇಷಿಸಬಹುದು-ಆದಾಗ್ಯೂ ವಿಭಿನ್ನ ಪ್ರಾದೇಶಿಕ ನಿರ್ಣಯಗಳೊಂದಿಗೆ. 1986ರಲ್ಲಿ, ಸ್ಯಾಂಡಿಯಾ ಮತ್ತು ಲಾರೆನ್ಸ್ ಲಿವರ್ಮೋರ್ ನ್ಯಾಷನಲ್ ಲ್ಯಾಬ್ಸ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಸೂಕ್ಷ್ಮ-ಪ್ರತಿದೀಪಕದ ಮೇಲೆ ಪರಿಣಾಮ ಬೀರುವ ನಿಯತಾಂಕಗಳ ಬಗ್ಗೆ (ಕೆವೆಕ್ಸ್ ಕಾರ್ಪೊರೇಶನ್ನೊಂದಿಗೆ) ಒಂದು ಪ್ರಬಂಧವನ್ನು ಸಹ-ರಚಿಸಿದರು. 1988ರಲ್ಲಿ ಅನುಸರಿಸಿದಂತೆ, ಕ್ರಾಸ್ & ವೆರ್ರಿ ಒಂದು ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಸೂಕ್ಷ್ಮ-ಪ್ರತಿದೀಪಕ ವಿಶ್ಲೇಷಕವನ್ನು ವಿವರಿಸಿದ್ದು, ಇದು ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಪ್ರತಿದೀಪಕದ ವಿನಾಶಕಾರಿಯಲ್ಲದ ವಿಶ್ಲೇಷಣಾತ್ಮಕ ವಿಧಾನವನ್ನು ತುಲನಾತ್ಮಕವಾಗಿ ಸಣ್ಣ ಪ್ರಾದೇಶಿಕ ತಾರತಮ್ಯದೊಂದಿಗೆ (50 ಮೈಕ್ರಾನ್ ಗಿಂತ ಕಡಿಮೆ) ಸಂಯೋಜಿಸುತ್ತದೆ, ಅಂದರೆ ಸಂಯೋಜನೆ (ರಸಾಯನಶಾಸ್ತ್ರ), ದಪ್ಪ ಮತ್ತು ಸೂಕ್ಷ್ಮ-ರಚನಾತ್ಮಕ ಅಳತೆಗಳನ್ನು ಕೆಲವು ಸೆಕೆಂಡುಗಳಲ್ಲಿ ವಿವಿಧ ವೈವಿಧ್ಯಮಯ ವಸ್ತುಗಳ ಮೇಲೆ ಮಾಡಬಹುದು. X-Y ಹಂತದೊಂದಿಗೆ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಮಾಡುವ ಮೂಲಕ, ಪರಿಮಾಣಾತ್ಮಕ ಅಥವಾ ಗುಣಾತ್ಮಕ ಸೂಕ್ಷ್ಮ-ರಚನಾತ್ಮಕ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಸಂಗ್ರಹಿಸಬಹುದು ಎಂದು ತೋರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಈ ಎರಡೂ ಪ್ರಬಂಧಗಳು ಎಸ್ಇಎಂನೊಂದಿಗೆ ಮೈಕ್ರೋ-ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಫ್ಲೋರೊಸೆನ್ಸ್ನ ಮುಂಬರುವ ಏಕೀಕರಣದ ಪೂರ್ವವೀಕ್ಷಣೆಯನ್ನು ಒದಗಿಸಿದವು. 1991 ರ ಹೊತ್ತಿಗೆ, ಎಸ್ಇಎಂ ಸನ್ನಿವೇಶದಲ್ಲಿ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಸೂಕ್ಷ್ಮ-ಪ್ರತಿದೀಪಕ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ನಡೆಸುವ ಸಾಧ್ಯತೆಗಳನ್ನು ವಿವರಿಸುವ ವಿಮರ್ಶೆ ಲೇಖನವನ್ನು ಪೊಜ್ಸ್ಗೈ ಪ್ರಕಟಿಸಿದರು. ಮುಖ್ಯ ವಿಧಾನಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಕಾಲಮ್ ಅನ್ನು ಪ್ರಸರಣ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಕೊಳವೆಯಾಗಿ ಪರಿವರ್ತಿಸುವುದು, ಸೂಕ್ಷ್ಮ-ಕೇಂದ್ರಿತ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಕೊಳವೆಗಳನ್ನು ಬಳಸುವುದು, ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಕೊಳವೆಗಳನ್ನು ಕ್ಯಾಪಿಲ್ಲರಿ ತಂತ್ರಗಳೊಂದಿಗೆ ಸಂಯೋಜಿಸುವುದು, ಜೊತೆಗೆ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಕೊಳವೆಗಳನ್ನು ಏಕವರ್ಣಕಗಳೊಂದಿಗೆ ಸಂಯೋಜಿಸುವುದು ಮತ್ತು ಸಿಂಕ್ರೋಟ್ರಾನ್ ವಿಕಿರಣವನ್ನು ಅನ್ವಯಿಸುವುದು. SEM-XRF ಅನ್ನು ಮೊದಲ ಬಾರಿಗೆ ಮಾರ್ಚ್ 2005 ರಲ್ಲಿ IXRF ಸಿಸ್ಟಮ್ಸ್ (ಆಸ್ಟಿನ್, TX) ವಾಣಿಜ್ಯೀಕರಿಸಿತು. ಬ್ರೂಕರ್ ಕಾರ್ಪೊರೇಷನ್ (ಬಿಲ್ಲೆರಿಕಾ, ಎಂಎ) ಆಗಸ್ಟ್ 2013 ರಲ್ಲಿ ಅನುಸರಿಸಿತು. ಬಾಹ್ಯ ಉಲ್ಲೇಖಗಳು ಅಡ್ವಾನ್ಸ್ಡ್ ಎಲಿಮೆಂಟಲ್ ಅನಾಲಿಸಿಸ್ ಅನ್ನು ಎಸ್ಇಎಂನಲ್ಲಿ ಇಡಿ-ಇಪಿಎಂಎ, ಡಬ್ಲ್ಯುಡಿ-ಇಪಿಎಂಎ ಮತ್ತು ಎಂಯು-ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ನೊಂದಿಗೆ ಸಂಪರ್ಕಿಸುತ್ತವೆ. ವಿ. ಡಿ. ಹೋಡೋರೋಬಾ ಮತ್ತು ಇತರರು. ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಮತ್ತು ಮೈಕ್ರೋಅನಾಲಿಸಿಸ್ 17:600-601, ಜುಲೈ 2011. ಎಸ್ಇಎಂ-ಇಡಿಎಸ್ ಮತ್ತು ಮೈಕ್ರೋ-ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್-ಎಸ್ಇಎಂನಿಂದ ಇಂಗಾಲ-ಲೇಪಿತ ಶೆರ್ಡ್ನ ಮೇಲೆ ಕಬ್ಬಿಣ-ಆಧಾರಿತ ಕುಂಬಾರ ವರ್ಣದ್ರವ್ಯದ ಪತ್ತೆಯನ್ನು ಹೋಲಿಸುವುದು. ಮೈಕೆಲ್ ಪೆಂಡಲ್ಟನ್ ಮತ್ತು ಇತರರು. ಯೇಲ್ ಜರ್ನಲ್ ಆಫ್ ಬಯಾಲಜಿ ಅಂಡ್ ಮೆಡಿಸಿನ್. 87 (1): 15-20, ಮಾರ್ಚ್ 2014. ಎಸ್ಇಎಂನಲ್ಲಿ ಮೈಕ್ರೋ-ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ ಪ್ರಚೋದನೆ. ಎಂ. ಹಷ್ಕೆ, ಎಫ್. ಎಗರ್ಟ್ ಮತ್ತು ಡಬ್ಲ್ಯೂ. ಟಿ. ಎಲಾಮ್. ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೆಟ್ರಿ. ಸಂಪುಟ. 36, ನಂ. 4, ಪು. 254-259 (2007). ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್ಗಳಲ್ಲಿ ಮೈಕ್ರೋ-ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್. ಮೈಕೆಲ್ ಹಷ್ಕೆ ಮತ್ತು ಸ್ಟೀಫನ್ ಬೋಹೆಮ್. ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಮತ್ತು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಭೌತಶಾಸ್ತ್ರದಲ್ಲಿ ಪ್ರಗತಿ. ಸಂಪುಟ. 199, p 1-60, (2017). ಪ್ರಯೋಗಾಲಯದ ಮೂಲಗಳೊಂದಿಗೆ ಕೋನ-ಪರಿಹರಿಸಿದ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಫ್ಲೋರೊಸೆನ್ಸ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೆಟ್ರಿಗಾಗಿ ಹೊಂದಿಕೊಳ್ಳುವ ಸೆಟಪ್. ಎಂ. ಸ್ಪಾನಿಯರ್, ಸಿ. ಹೆರ್ಜಾಗ್, ಡಿ. ಗ್ರೋಟ್ಜ್, ಎಫ್. ಕ್ರಾಮರ್, ಐ. ಮಾಂಟೌವಾಲೌ, ಜೆ. ಲುಬೆಕ್, ಜೆ. ವೆಸರ್, ಸಿ. ಸ್ಟ್ರೀಕ್, ಡಬ್ಲ್ಯೂ. ಮಾಲ್ಜರ್, ಬಿ. ಬೆಕ್ಹಾಫ್, ಬಿ. ಕಾನ್ಗೀಸರ್. ವೈಜ್ಞಾನಿಕ ಉಪಕರಣಗಳ ವಿಮರ್ಶೆ, ಸಂಪುಟ 87, ಸಂಖ್ಯೆ 3, (035108), (2016). ಮೈಕೆಲ್ ಹಷ್ಕೆ, ಲ್ಯಾಬೋರೇಟರಿ ಮೈಕ್ರೋ-ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಫ್ಲೋರೊಸೆನ್ಸ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ, ಸಂಪುಟ. 55 (2014). ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಪ್ರತಿದೀಪಕವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಪರಿಸರ ವಿಜ್ಞಾನದಲ್ಲಿನ ಪ್ರವೃತ್ತಿಗಳು. ಉರ್ಸುಲಾ ಎಲಿಜಬೆತ್ ಆಡ್ರಿಯಾನ್ ಫಿಟ್ಸ್ಚೆನ್ ಮತ್ತು ಗೆರಾಲ್ಡ್ ಫಾಲ್ಕೆನ್ಬರ್ಗ್. ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಚಿಮಿಕಾ ಆಕ್ಟಾ ಪಾರ್ಟ್ ಬಿಃ ಅಟಾಮಿಕ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ, ಸಂಪುಟ 66, ಸಂಖ್ಯೆ 8, p 567-580 (2011). ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಾದ ಲೆಕ್ಕಾಚಾರದೊಂದಿಗೆ ಜೋಡಿಸುವ ಮಾಪನದ ಮೂಲಕ ಎಸ್ಇಎಂನಲ್ಲಿ ಮೈಕ್ರೋ-ಫೋಕಸ್ ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ಗಾಗಿ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಮಸೂರದ ನೈಜ ಪ್ರಸರಣವನ್ನು ನಿರ್ಧರಿಸುವುದು. ವಿ.-ಡಿ. ಹೊಡೋರೋಬಾ & ಎಮ್. ಪ್ರೋಕೋಪ್. ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೆಟ್ರಿ, ಸಂಪುಟ 38, ಸಂಖ್ಯೆ 3, p 216-221, (2009). ಎಸ್ಇಎಂ ಪ್ರೊಕೊಪ್, ಮ್ಯಾಥಿಯಸ್ ಇತ್ಯಾದಿಗಳೊಂದಿಗೆ ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗಾಗಿ ಮೈಕ್ರೋ-ಫೋಕಸ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಮೂಲದ ಕಡಿಮೆ-ಶಕ್ತಿಯ ಕಾರ್ಯಕ್ಷಮತೆಯ ಸುಧಾರಣೆಗಳು. ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೆಟ್ರಿಃ ಆನ್ ಇಂಟರ್ನ್ಯಾಷನಲ್ ಜರ್ನಲ್ 38.4 (2009): 308-311. ಎಸ್ಇಎಂನಲ್ಲಿ ಸುಧಾರಿತ ಇಡಿಎಸ್ ಮತ್ತು ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗಾಗಿ ಮೈಕ್ರೋಫೋಕಸ್ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಮೂಲ. ಪ್ರೋಕೋಪ್, ಮ್ಯಾಥಿಯಸ್, ವಾಸಿಲೆ-ಡಾನ್ ಹೊಡೋರೋಬಾ ಮತ್ತು ವನೆಸ್ಸಾ ರಾಕ್ವಿಟ್ಜ್. ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ಮತ್ತು ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ/ಯುರೋಪಿಯನ್ ಆವೃತ್ತಿ. p 10-13 (ಮೇ, 2011). ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಕ್ಕೆ ಹೆಚ್ಚುವರಿ ವಿಶ್ಲೇಷಣಾತ್ಮಕ ವಿಧಾನವಾಗಿ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಪ್ರತಿದೀಪಕ. ಪ್ರೋಕೋಪ್, ಎಮ್., ಹೋಡೋರೋಬಾ, ವಿ. ಮೈಕ್ರೋಚಿಮ್ ಆಕ್ಟಾ ಸಂಪುಟ 161, ಪು 413-419 (2008). ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯಲ್ಲಿ ಕಾಂಪ್ಟನ್-ಟು-ರೇಲ್ಲೀ ತೀವ್ರತೆಯ ಅನುಪಾತವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಳ್ಳುವ ಮೂಲಕ ಸುಧಾರಿತ ರಾಸಾಯನಿಕ ಸಂಯೋಜನೆಯನ್ನು ಪಡೆಯುವುದು. ಹೋಡೋರೋಬಾ, ವಾಸಿಲೆ-ಡಾನ್ ಮತ್ತು ವನೆಸ್ಸಾ ರಾಕ್ವಿಟ್ಜ್. ವಿಶ್ಲೇಷಣಾತ್ಮಕ ರಸಾಯನಶಾಸ್ತ್ರ 86.14 (2014): 6858-6864. ಪೆಂಡಲ್ಟನ್, ಎಮ್. ಡಬ್ಲ್ಯೂ., ಮತ್ತು ಇತರರು. ಎಸ್ಇಎಂ-ಇಡಿಎಸ್ ಮತ್ತು ಮೈಕ್ರೋ-ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್-ಎಸ್ಇಎಂ ಮೂಲಕ ರುಥೇನಿಯಂ-ಲೇಪಿತ ಪುರಾತತ್ವ ಕುಂಬಾರಿಕೆಗಳ ಮೇಲೆ ಕಬ್ಬಿಣ ಆಧಾರಿತ ವರ್ಣದ್ರವ್ಯಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವುದು. ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ಮತ್ತು ಸೂಕ್ಷ್ಮ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ 20.S3 (2014): 2030-2031. ರಾಕ್ವಿಟ್ಜ್, ವನೆಸ್ಸಾ ಮತ್ತು ಇತರರು. ಡಿಟೆಕ್ಷನ್ ಮಿತಿಗಳ ಅಳತೆ, ಆಪ್ಟಿಮೈಸೇಶನ್ ಮತ್ತು ಮುನ್ಸೂಚನೆ-ಆರ್. ಓ. ಎಚ್. ಎಸ್ ಸಂಬಂಧಿತ ಅಂಶಗಳ ಉದಾಹರಣೆಯ ಮೇಲೆ ಟ್ರೇಸ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗಾಗಿ ಎಸ್. ಇ. ಎಂ./ಇ. ಡಿ. ಎಸ್. ನೊಂದಿಗೆ ಎಂ. ಯು.-ಎಕ್ಸ್. ಆರ್. ಎಫ್. ನ ಕಾರ್ಯಕ್ಷಮತೆ. ಜರ್ನಲ್ ಆಫ್ ಅನಾಲಿಟಿಕಲ್ ಅಟಾಮಿಕ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೆಟ್ರಿ 28.9 (2013): 1466-1474. ಸೀಬರ್, ಜಾನ್ ಆರ್. ಮತ್ತು ಆಡಮ್ ಮಾರ್ಟೆನ್ಸನ್. "ಹೆಚ್ಚಿನ ವಿಶ್ವಾಸಾರ್ಹತೆಯ ಅನ್ವಯಗಳಲ್ಲಿ ಬೆಸುಗೆಗಾಗಿ ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ ಮತ್ತು ಎಸ್ಇಎಂ-ಇಡಿಎಸ್ ಮೂಲಭೂತ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯ ಫಲಿತಾಂಶಗಳ ಮೌಲ್ಯಮಾಪನ ಮತ್ತು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವಿಕೆ". ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೆಟ್ರಿ 43.5 (2014): 259-268. ಮೈಕ್ರೊ ಎಕ್ಸ್ಆರ್ಎಫ್ ಎಲಿಮೆಂಟ್ ನಕ್ಷೆಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಬೀಮ್ ಉತ್ಪಾದಿಸಿದ ಕೊರೋಲರಿಗಿಂತ ಕಡಿಮೆ ಸಾಂದ್ರತೆಗಳಲ್ಲಿ ಅಂಶಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವ ಹೊಸ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆಃ ಒಂದು ಗಾರ್ನೆಟ್ ಸ್ಕಿಸ್ಟ್ ಉದಾಹರಣೆ. "ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಮತ್ತು ಮೈಕ್ರೊಅನಾಲಿಸಿಸ್ 15.S2 (2009): 34-35. ಎರಡು ವಾಣಿಜ್ಯ ಮಾರಾಟಗಾರರು ಈ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತಾರೆಃ Xb ಮೈಕ್ರೋ-XRF ಕ್ವಾಂಟಾಕ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋ-XRF ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ತಂತ್ರಗಳು.