PBIST
প্রোগ্রামেবল বিল্ট-ইন সেলফ-টেস্ট (পিবিআইএসটি) একটি মেমোরি ডিএফটি বৈশিষ্ট্য যা চিপের মধ্যেই সমস্ত প্রয়োজনীয় পরীক্ষা ব্যবস্থাকে অন্তর্ভুক্ত করে। অন-চিপ বাস্তবায়িত টেস্ট সিস্টেমগুলি নিম্নরূপঃ অ্যালগরিদমিক অ্যাড্রেস জেনারেটর অ্যালগরিদমিক ডেটা জেনারেটর প্রোগ্রাম স্টোরেজ ইউনিট লুপ নিয়ন্ত্রণ প্রক্রিয়া পিবিআইএসটি মূলত বড় মেমরি চিপ দ্বারা গৃহীত হয়েছিল যার উচ্চ পিন গণনা রয়েছে এবং উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সিতে কাজ করে, যার ফলে উৎপাদন পরীক্ষকদের ক্ষমতা অতিক্রম করে। পি. বি. আই. এস. টি-র উদ্দেশ্য হল আরও পরিশীলিত এবং খুব ব্যয়বহুল পরীক্ষকদের বিকাশ এবং ক্রয় এড়ানো। প্রসেসরের অভ্যন্তরীণ পি. বি. আই. এস. টি এবং বাহ্যিক পরীক্ষক পরিবেশের মধ্যে ইন্টারফেসটি স্ট্যান্ডার্ড জে. টি. এ. জি টি. এ. পি নিয়ামক পিনের মাধ্যমে হয়। অ্যালগরিদম এবং নিয়ন্ত্রণগুলি টিএপি নিয়ন্ত্রকের টেস্ট ডেটা ইনপুট (টিডিআই) পিনের মাধ্যমে চিপে দেওয়া হয়। পি. বি. আই. এস. টি পরীক্ষার চূড়ান্ত ফলাফল টেস্ট ডেটা আউটপুট (টি. ডি. ও) পিনের মাধ্যমে পড়া হয়। পি. বি. আই. এস. টি উৎপাদন পরীক্ষা পদ্ধতি দ্বারা আরোপিত সম্পূর্ণ অ্যালগরিদমিক মেমরি পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তা সমর্থন করে। সমস্ত প্রয়োজনীয় পরীক্ষার অ্যালগরিদমগুলিকে সমর্থন করার জন্য, পি. বি. আই. এস. টি-র অবশ্যই ডিভাইসে স্থানীয়ভাবে প্রয়োজনীয় প্রোগ্রামগুলি সংরক্ষণ করার ক্ষমতা থাকতে হবে। এটি অবশ্যই বিভিন্ন অ্যাড্রেস জেনারেশন স্কিম, বিভিন্ন পরীক্ষার ডেটা প্যাটার্ন জেনারেশন, লুপিং স্কিম এবং ডেটা তুলনা করতে সক্ষম হতে হবে। বেশিরভাগ প্রোগ্রামেবল মেমরি বিআইএসটি পদ্ধতির উপর কাজ মেমরি পরীক্ষার অ্যালগরিদমের প্রোগ্রামযোগ্যতা নিয়ে উদ্বেগ প্রকাশ করে। প্রস্তাবিত প্রোগ্রামেবল মেমোরি বি. আই. এস. টি-র বেশ কয়েকটি সুবিধা রয়েছেঃ এটি পরীক্ষার অ্যালগরিদম এবং পরীক্ষার তথ্য উভয়ই প্রোগ্রামিং করতে সক্ষম করে। এটি কম খরচে পরীক্ষার অ্যালগরিদম প্রোগ্রামযোগ্যতা প্রয়োগ করে, পরীক্ষার অ্যালগরিদমের বিভিন্ন স্তরের শ্রেণিবিন্যাস বের করে এবং তাদের প্রত্যেকের সাথে একটি হার্ডওয়্যার ব্লক সংযুক্ত করে, যার ফলে কম খরচের হার্ডওয়্যার তৈরি হয় এটি স্বচ্ছ মেমরি পরীক্ষার পদ্ধতির সাথে এমনভাবে খাপ খাইয়ে নিয়ে পূর্ণ-ডেটা প্রোগ্রামযোগ্যতা কম খরচে বাস্তবায়িত করতে সক্ষম করে যা পরীক্ষার ডেটা প্রোগ্রামিংয়ের জন্য পরীক্ষার অধীনে মেমরি ব্যবহার করে। অন্তর্নির্মিত স্ব-পরীক্ষার অংশ। বৈদ্যুতিন নকশা অটোমেশন হার্ডওয়্যার পরীক্ষা