P형 기판을 갖는 MOS 용량 구조에서 게이트 금속 극판의 전압 VGS가 기판 전압 VBS 보다 큰 경우 VGS가 증가함에 따라 전계가 증가함으로써 실리콘 경계면에 전자가 모여 형성된 층은?
축적층(accumulation layer)
공핍층(depletion layer)
반전층(inversion layer)
차단층(cut-off layer)
P형 기판을 갖는 MOS 용량 구조에서 게이트 금속 극판의 전압 VGS가 기판 전압 VBS 보다 큰 경우 VGS가 증가함에 따라 전계가 증가함으로써 실리콘 경계면에 전자가 모여 형성된 층은?
A. 축적층(accumulation layer)
B. 공핍층(depletion layer)
C. 반전층(inversion layer)
D. 차단층(cut-off layer)