석면의 측정방법 중 X선 회절법에 관한 설명으로 틀린 것은?
값이 비싸고 조작이 복잡하다.
1차 분석에 사용하며, 2차 분석에는 적용하기 어렵다.
석면 포함 물질을 은막여과지에 놓고 X선을 조사한다.
고형시료 중 크리소타일 분석에 사용한다.
석면의 측정방법 중 X선 회절법에 관한 설명으로 틀린 것은?
A. 값이 비싸고 조작이 복잡하다.
B. 1차 분석에 사용하며, 2차 분석에는 적용하기 어렵다.
C. 석면 포함 물질을 은막여과지에 놓고 X선을 조사한다.
D. 고형시료 중 크리소타일 분석에 사용한다.