관통 코일을 이요한 바자성체의 와전류 탐상 시험에서 검사속도가 빠를수록 기록계에 나타나는 결함신호의 진폭이 작아지는 이유는?
응답성 이하의 낮은 주파수 성분을 갖는 결함 신호가 입력되기 때문에
응답성 이상의 높은 주파수 성분을 갖는 결함 신호가 입력되기 때문에
이송장치의 빠른 이동으로 잡음 제거능력이 저학되기 때문에
의산신호와 결함신호가 혼합되어 분별능력이 저하되기 때문에
관통 코일을 이요한 바자성체의 와전류 탐상 시험에서 검사속도가 빠를수록 기록계에 나타나는 결함신호의 진폭이 작아지는 이유는?
A. 응답성 이하의 낮은 주파수 성분을 갖는 결함 신호가 입력되기 때문에
B. 응답성 이상의 높은 주파수 성분을 갖는 결함 신호가 입력되기 때문에
C. 이송장치의 빠른 이동으로 잡음 제거능력이 저학되기 때문에
D. 의산신호와 결함신호가 혼합되어 분별능력이 저하되기 때문에