석면(X선 회절기법) 측정을 위한 분석절차 중 시료의 균일화에 관한 내용(기준)으로 옳은 것은?
정성분석용 시료의 입자크기는 0.1 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
정성분석용 시료의 입자크기는 1.0 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
정성분석용 시료의 입자크기는 10 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
정성분석용 시료의 입자크기는 100 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
석면(X선 회절기법) 측정을 위한 분석절차 중 시료의 균일화에 관한 내용(기준)으로 옳은 것은?
A. 정성분석용 시료의 입자크기는 0.1 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
B. 정성분석용 시료의 입자크기는 1.0 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
C. 정성분석용 시료의 입자크기는 10 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
D. 정성분석용 시료의 입자크기는 100 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.