Ảnh hiển vi điện tử truyền qua (TEM), phổ hồng ngoại biến đổi Fourier (FTIR), từ kế mẫu rung (VSM), giản đồ nhiễu xạ tia X (XRD), phổ UV-Vis, ảnh hiển vi huỳnh quang và phương pháp Bradford tất cả được sử dụng để xác định hình dạng, kích thước, tính chất của các hạt nano và sự gắn kết của các hạt nano với SA.