srf测量 (4)：用阻抗分析仪测量静电容量时，为什么测量cp而非cs？
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阻抗分析仪表可以测量称作cp的并联电容量或称作cs的串联电容量。电路模式将取决于电容器的电容量值（图1）。

当c小而阻抗大时，c和rp之间的并联阻抗将会明显升高。因此用于测量电容量的仪表设置应为cp。由于c是小电容量电容器，cp设置将不用作cs。

 图1: 阻抗等效电路
 
  hp4291a rf impedance/material analyzer operating manual set, hewlett-packard japan, ltd, 1993



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如果srf是直线，nop将不会有太大影响，但是，在接近srf时阻抗下降非常快。因此，每个测量点之间的间隔需要很小srf的点才不会错过。当频率跨度大而测量点数少时，每个测量点之间的间隔将很大。如果srf测量点介于两个间隔之间的位置，则srf将是这些间隔的平均值，因此会被错过。所以，如果频率跨度高，则nop应大。

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