Mikroskopija skenirajućom sondom
Mikroskopija skenirajućom sondom (MSS) (engl. Scanning Probe Microscopy - SPM) je oblast mikroskopije koja se zasniva na upotrebi mjernog uređaja neke fizičke veličine (sonda), čijim se relativnim kretanjem u odnosu na snimani uzorak (skeniranje) vrši mjerenje vrijednosti fizičke veličine u ravnomerno raspoređenim tačkama uzorka. Na tom osnovu se rekonstruiše izgled površine (mjerene fizičke veličine) za cijeli uzorak. Na principu MSS rade savremeni elektronski mikroskopi, ali i mikroskop atomskih sila i skenirajući tunelski mikroskop. Razlika između ovih tehnologija je u konstrukciji sonde i izboru fizičke veličine na osnovu koje se vrši rekonstrukcija izgleda uzorka.