Mikroskopija atomskih sila
Mikroskop Atomskih Sila (MAS) (engl. Atomic Force Microscope, AFM) ili skenirajući mikroskop sila (engl. Scanning Force Microscope, SFM) je uređaj koji pripada porodici mikroskopa sa skenirajućom sondom (Scanning Probe Microscope - SPM) čiji se rad zasniva na mjerenju međumolekularnih sila koje djeluju između atoma mjerne sonde i atoma ispitivanog uzorka. Mjerenje se sprovodi od tačke do tačke, nakon čega se podaci iz svih ispitanih tačaka prikupljaju u snimak ispitivane površine. Tehnologija koja je prethodila mikroskopiji atomskih sila je Skenirajuća tunelska mikroskopija (engl. Scanning Tunneling Microscopy, STM) čiji se rad zasniva na kvantno-mehaničkom efektu tuneliranja elektrona kroz dielektrik. Ovom, danas izuzetno uspješnom tehnologijom vizualizacije, postignuta je rezolucija snimanja od nekoliko pikometara, čime je omogućeno snimanje uzoraka u atomskoj rezoluciji. Današnja optička i elektronska mikroskopija su na pragu dostizanja ovako visoke rezolucije. U budućnosti se očekuje dalji razvoj obija novih tehnologija, tako da će biti moguće rutinsko snimanje u atomskoj rezoluciji.