Atominės jėgos mikroskopas
Atominės jėgos mikroskopas (AJM – angl. AFM) – labai aukštos rezoliucijos skenuojančio zondo mikroskopas. AJM yra vienas iš svarbiausių įrenginių vaizduojant, matuojant arba manipuliuojant nano matmenų medžiagas. Informacija yra surenkama jaučiant paviršių su mechaniniu zondu.