Interferensiya
Interferensiya— toʻlqinlarning fazoda ustma-ust tushib qoʻshilgan holda bir-birini kuchaytirishi yoki susaytirishi. Tabiatidan qatʼi nazar hamma toʻlqinlar (akustik, yorugʻlik, elektr va b.)ga xos holat. Shuning uchun ham umumiy holda toʻlqinlar Interferensiyasi, xususiy holda yorugʻlik I.si oʻrganiladi. Toʻlqin kogerent va bir xil qutblangan boʻlsa, toʻlqin Interferensiya hodisasi hosil boʻladi. Bir xil chastotali bir xil qutblangan ikki garmonik toʻlqinlarning qoʻshilishi oddiy holatdagi toʻlqin Interferensiyasigasiga misol boʻla oladi. Issiqlik manbalaridan chiqqan kogerent boʻlmagan toʻlqinlar ham Interferensiyani hosil qiladi. Masalan, astronomik katta teleskoplarda yulduzlardan kelgan yorugʻliklar Interferensiyasini kuzatish mumkin. Bunga sabab, yulduzlardan tarqalayotgan yorugʻliq toʻlqinlari oʻz manbaidan uzoqlashgan sari, uning fazaviy kogerentlik darajasi R/r ga proporsional ravishda oshadi (R — yorugʻlik manbaigacha boʻlgan masofa, g — manba oʻlchami). Issiqlik manbalaridan chiqqan toʻlqinlar manbadan qancha uzoklashsa, ular shuncha yassi toʻlqinlarga yaqin boʻladi. Interferensiyaning texnikada qoʻllanilishi Yorugʻlik interferensiyasi amalda juda koʻp joylarda qoʻllaniladi. Fizika tadqiqot va texnik tadbiqlar uchun turli xil interferension asboblar-interfrometrlar ishlab chiqilgan. Ularning barchasi bitta prinsipga asoslangan boʻlib, faqat tuzilish jihatdan farq qiladi. Interfrometrlar yordamida yorugʻlik toʻlqinlari uzunligini juda katta aniqlikda aniqlash, kichik uzunlik va burchaklarni oʻlchash, shaffof muhitlarning sindirish koʻrsatkichini aniqlash, sirtlarning silliqlash va sayqallash sifatini baholash mumkin. Interfrometrlar bilan bir qatorda eng kuchli spektral asbob - interferension spektraskop (spektograf) yaratilgan. Interfrometrlarning koʻp sohalarda turlarini yaratishda amerikalik olim A. A. Maykelson tomonidan yaratilgan Maykelson interfrometri asos qilib olinadi. Maykelson interfrometri tuzilishi bilan tanishamiz: sirtlarning ishlanish sifatini tekshirishni koʻramiz. Buning uchun tekshirilayotgan namunaning sirti bilan juda silliq etalon plastinka orasida pona shaklidagi yupqa havo qatlami hosil qilamiz. Sirtning notekisliklari tekshirilayotgan a sirtdan va etalon plastinka pastki b yogʻidan yorugʻlik qaytishida hosil boʻladigan interferension yoʻllarning sezilarli darajada oʻzgarishiga sabab boʻladi. Tekshirilayotgan sirt silliq boʻlganda interferension yoʻllar toʻgʻri chiziqli boʻladi. Agar sirtda biron notekislik, masalan, chuqurlik boʻlsa, bu chuqurlikdan qaytgan nurlar uchun yoʻl ayirmasi oʻzgaradi, buning natijasida notekisliklar sohasida interferension yoʻllar egrilanadi. Agar notekislik chuqurlik emas balandlik - do'nglik koʻrinishida boʻlsa, u holda interferension yoʻllarning egilishi qarama qarshi tomonga yoʻnalgan boʻladi.