Röntgenpeegeldumine
Röntgenpeegeldumine (või ka röntgenpeegeldumisanalüüs või XRR, mis on akronüüm ingliskeelsest terminist X-ray reflectivity) on pinnatundlik analüütiline mõõtmismeetod, mida kasutatakse keemias, füüsikas ja materjaliteaduses siledate pindade ja õhukeste kilede karakteriseerimiseks. Meetod põhineb röntgenikiirte peegeldumisel pinnalt ning tal on sarnasusi neutronpeegeldumise ja ellipsomeetriaga. Röntgenpeegeldumise tööpõhimõte seisneb röntgenikiirte suunamises tasasele pinnale ning seejärel tuleb mõõta peegeldunud kiirte intensiivsust. Ideaalselt tasase ja sileda pinna puhul peaks peegeldunud kiir käituma Fresneli peegeldumisseaduse kohaselt, kuid praktikas tekivad sellest väikesed kõrvalekalded ning neid kõrvalekaldeid saabki analüüsida ning tuletada peegeldava materjali pinnakaredus ning tihedusprofiil pinnanormaali sihis.