Aatomijõumikroskoopia
Aatomijõumikroskoopia (inglise atomic force microscopy ehk AFM) on väga tõhus meetod objektide pinna uurimiseks nii aatom- kui ka submikroonsel tasemel. Aatomijõumikroskoopia kuulub skaneeriva teravikmikroskoopia perekonda. Aatomijõumikroskoop on skaneeriv mikroskoop, mille otsik mõõdab elektronide kihi ja otsiku vahelist van der Waalsi jõudu, keemilise sideme jõudu või muud jõudu. Aatomijõumikroskoobi lahutusvõime võib ulatuda alla 1 nm. Aatomijõumikroskoop valmistati esimest korda 1986.