Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop
Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop (inglise keeles near-field scanning optical microscope, NSOM/SNOM) on mikroskoop, mida kasutatakse nanoskaalas objektide uurimiseks. Lähiväljamikroskoop ületab kaugvälja eraldusvõimepiirangu kasutades evanestsentslainete omadusi. Viies detektori väga lähedale uuritavale pinnale (kaugusele, mis on oluliselt väiksem kui lainepikkus), on võimalik pinda vaadelda kõrge ruumilise, spektraalse ja ajalise lahutusega. Selle meetodiga on kujutise lahutus piiratud detektori ava mõõtmetega, mitte pealelangeva valguse lainepikkusega. Eksperimentaalselt on näidatud 20-nanomeetrilise külgsuunalise ja kahe- kuni viienanomeetrilise vertikaalse lahutuse võimalikkust. Nagu klassikalises valgusmikroskoopiaski, saab sellega uurida katseobjekti omadusi, näiteks murdumisnäitajat ja keemilist struktuuri. Samuti on võimalik uurida ajas muutuvaid omadusi lainepikkusest väiksemal skaalal.