অভিবীক্ষণ শলাকা অণুবীক্ষণবিজ্ঞান
অভিবীক্ষণ শলাকা অণুবীক্ষণবিজ্ঞান (ইংরেজি: Scanning probe microscopy, স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপি, সংক্ষেপে SPM, এসপিএম) হল অণুবীক্ষণবিজ্ঞানের একটি শাখা যাতে একটি অনুসন্ধানী শলাকা (প্রোব) দ্বারা নমুনা অভিবীক্ষণ (স্ক্যান) করে তার পৃষ্ঠের চিত্র গঠন করা হয়। ১৯৮১ সালে পারমাণবিক পর্যায়ের চিত্রগ্রহণকারী অভিবীক্ষণ সুড়ঙ্গ অণুবীক্ষণ যন্ত্র আবিষ্কারের মধ্য দিয়ে অভিবীক্ষণ শলাকা অণুবীক্ষণবিজ্ঞান ক্ষেত্রটি প্রতিষ্ঠিত হয়েছিল। বিনিগ এবং রোয়েরার কর্তৃক অভিবীক্ষণ সুড়ঙ্গ অণুবীক্ষণ যন্ত্রের প্রথম সফল পরীক্ষা সম্পাদিত হয়। তাদের সাফল্যের চাবিকাঠি ছিল একটি প্রতিক্রিয়া চক্র ব্যবহার করে অনুসন্ধানী শলাকা ও নমুনার মধ্যে দূরত্ব নিয়ন্ত্রণ করা। অনেক অভিবীক্ষণ শলাকা অণুবীক্ষণ যন্ত্র একই সময়ে একাধিক মিথষ্ক্রিয়ার চিত্র ধারণ করতে সক্ষম। এই মিথষ্ক্রিয়াগুলোর সমন্বয়ে একটি চিত্র অর্জন করার পদ্ধতিকে সাধারণত এক-একটি "মোড" বা প্রকার বলা হয়। কৌশলভেদে চিত্রের সূক্ষ্মতা বিভিন্ন হয়, তবে কিছু কৌশল অসাধারণ পারমাণবিক সূক্ষ্মতা অর্জন করতে পারে[তথ্যসূত্র প্রয়োজন]। এর প্রধাণ কারণ হচ্ছে চাপবৈদ্যুতিক গতিসঞ্চারকগুলি (পাইজোইলেকট্রিক অ্যাকচুয়েটর) বৈদ্যুতিক নিয়ন্ত্রণ দ্বারা পারমাণবিক পর্যায় বা আরও সূক্ষ্ম ও নির্ভুলভাবে গতিবিধি পরিচালনা করতে সক্ষম। এই শ্রেণীর কৌশলকে "চাপবৈদ্যুতিক কৌশল" নামাঙ্কিত করা যায়। প্রাপ্ত উপাত্ত সাধারণত একটি দ্বি-মাত্রিক উপাত্তের ছক (গ্রিড) আকারে সংগৃহীত হয়, যা পরবর্তীতে কৃত্রিম-রঞ্জিত চিত্র হিসেবে প্রকাশ করা হয়.