{'de': 'Das BAZG kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotografien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.', 'fr': 'Au lieu de prélever des échantillons, l’OFDF peut faire des photographies des produits semi-conducteurs détruits pour autant que cette mesure permette de garantir la conservation des moyens de preuve.'}