{'de': 'Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann das BAZG dem Antragsteller oder der Antragstellerin auch Fotografien der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse übergeben, wenn diese eine Prüfung durch den Antragsteller oder die Antragstellerin ermöglichen.', 'fr': 'Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs retenus. Au lieu d’échantillons, l’OFDF peut aussi lui remettre des photographies desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effectuer cet examen.'}