Pattern Analysis & Computer Vision, Istituto Italiano di Tecnologia, Genova, Italy; Dipartimento di Ingegneria Navale, Elettrica, Elettronica e delle Telecomunicazioni, University of Genova, Italy; Pattern Analysis & Computer Vision, Istituto Italiano di Tecnologia, Genova, Italy; Pattern Analysis & Computer Vision, Istituto Italiano di Tecnologia, Genova, Italy; Dipartimento di Informatica, University of Verona, Italy
Waqar Ahmed, Pietro Morerio, Vittorio Murino
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