physics.ins-det
Testbeam Characterization of a SiGe BiCMOS Monolithic Silicon Pixel Detector with Internal Gain Layer
L. Paolozzi M. Milanesio T. Moretti R. Cardella T. Kugathasan A. Picardi M. Elviretti H. Rücker F. Cadoux R. Cardarelli L. Cecconi S. Débieux Y. Favre C. A. Fenoglio D. Ferrere S. Gonzalez-Sevilla L. Iodice R. Kotitsa C. Magliocca M. Nessi A. Pizarro-Medina J. Saidi M. Vicente Barreto Pinto S. Zambito G. Iacobucci