센서 디바이스는 테스트 신호를 제공하도록 구성된 테스트 신호 생성기를 더 포함하고, 테스트 신호 생성기는 하이 임피던스 구성요소를 포함하지 않는 경로를 통해 용량성 센서의 단자에 연결된다.
The sensor device further includes a test signal generator configured to provide a test signal, the test signal generator is connected to the terminal of the capacitive sensor via a path that does not include the high impedance component.