패턴 생성부(124P)는 DFT 기술에 기초하여 테스트 대상인 반도체 칩(120)의 메모리 소자(122)를 쉽고 정확하게 테스트하기 위한 최적의 로직 신호인 테스트 패턴 신호를 생성할 수 있다.
The pattern generating unit 124P may generate a test pattern signal that is an optimal logic signal for easily and accurately testing the memory device 122 of the semiconductor chip 120 to be tested based on the DFT technology.