독자적으로 테스트를 수행할 수 있는 테스트 보드(100, 100a)를 이용하여 테스트를 수행하므로, 상대적으로 적은 개수의 반도체 패키지(20)에 대한 테스트 또한 용이하게 실시할 수 있다.
Since the test is performed using the test boards 100 and 100a capable of independently performing the test, a test on a relatively small number of semiconductor packages 20 may also be easily performed.