본 개시에 따른 컴퓨팅 시스템은 반도체 소자의 전기적 특성에 대응되는 복수의 모델 파라미터들이 일정한 값을 갖는 것이 아니라, 공정 변수에 따라 가변되는 값을 가진다.
In the computing system according to the present disclosure, a plurality of model parameters corresponding to electrical characteristics of a semiconductor device do not have constant values, but have values ​​that vary according to process variables.