그림 4는 광학현미경으로 관찰된 후막 FS-GaN 조각 샘플의 N-polar 면의 형상 변화 관찰을 위해 FE-SEM으로 측정된 이미지이다.
Figure 4 can be an image measured by FE-SEM to observe the shape modification of the N-polar surface regarding the thick-film FS-GaN piece sample observed with an optical microscope.