컴퓨팅 시스템(100)은 교정 이벤트(312)를 일으키고 센서 데이터를 제공하는 장치에 고유한 장치 조정 측정치(320)를 산출할 수 있다.
The computing system 100 may generate a calibration event 312 and calculate a device calibration measurement value 320 specific to the device providing the sensor data.