그림 2는 기판의 초기 온도가 각각 60, 80,120℃일 때, 성장한 얇은 막의 X선 회절 패턴을 나타냈다.
Fig. 2 shows the X-ray diffraction pattern of a thin film grown when the initial temperature of the substrate is 60,80,120°C, respectively.