교정 동안, 데이터 지연 회로(302)는 데이터 클록(308)의 천이점에 응답하여 버스(134) 상에 데이터 신호(310)로 샘플 데이터를 제공할 수 있다.
During calibration, the data delay circuit 302 may provide sample data as the data signal 310 on the bus 134 in response to a transition point of the data clock 308.