결함 사이즈 및 패턴 복잡성이 증가함에 따라, 결함이 다이를 파손하거나 장치의 1 이상의 전기적 속성을 변경할 가능성 또한 증가한다.
As defect size and pattern complexity increase, the likelihood that the defect will destroy the die or change one or more electrical attributes of the device also increases.