웨이퍼 테스터(16)는 반도체 웨이퍼 상의 복수의 다이 각각에 하나 이상의 전기적 테스트 패턴을 적용할 수 있는 웨이퍼 프로버이거나, 이를 포함할 수 있다.
The wafer tester 16 may be or include a wafer prober capable of applying one or more electrical test patterns to each of a plurality of dies on a semiconductor wafer.