테스트된 반도체 소자가 수납된 테스트 트레이는 상기 제2 챔버(43)에서 상기 연결부를 거쳐 상기 언로딩위치로 이송될 수 있다.
The test tray in which the tested semiconductor device is accommodated may be transferred from the second chamber 43 to the unloading position through the connection unit.