일부 현재 이용 가능한 검사 시스템은 각각의 다이 행(row) 상의 사용자 정의(user-defined) 정렬 마크들을 사용하여 이들을 웨이퍼에 맞추도록(orient) 구성된다.
Some currently available inspection systems are configured to use user-defined alignment marks on each die row and orient them to the wafer.