Ⅰ-Ⅴ 특성과 비접촉 저항을 추출하기 위해서 반도체 분석기로 쇼트키 다이오드와 CTLM을 측정하였다.
In order to extract the I-V characteristics and specific contact resistance, the Schottky diode and CTLM were measured with a semiconductor analyzer.