테스트 회로(320)는 출력 드라이버를 통해 제1 패드로 제1 데이터를 출력하고, 제2 패드로부터 입력 드라이버를 통해 제2 데이터를 수신할 수 있다.
The test circuit 320 may output first data to the first pad through the output driver and receive second data from the second pad through the input driver.