이에 따라, 문턱전압과 같은 트랜지스터의 특성이 변경되어 잔상 발생 및/또는 휘도 균일성이 저하될 수 있다.
Accordingly, characteristics of a transistor such as a threshold voltage may be changed, and an afterimage may occur and/or a brightness uniformity may be reduced.