그림 3의 RF power에 따른 반사도 변화는 그림 4의 표면 조직화된 실리콘 웨이퍼의 표면 SEM 결과와 연관지어서 설명할 수 있다.
The improvement in reflectivity according to RF power in Fig. 3 could be explained in relation to the top SEM result of the surface-textured silicon wafer in Fig. 4.