상기 방법은 메모리 뱅크의 용장 열 및 용장 행에 위치한 결함으로 인한 메모리 뱅크의 오류에 대한 MRI를 결정하는 단계를 포함한다.
The method includes a step of determining MRI for errors in the memory bank due to defects located in redundant columns and redundant rows of the memory bank.