상기 테스트 제어 회로(210)는 테스트 리드 신호(TRD) 및 테스트 어드레스 신호에 기초하여 테스트 제어 신호(RPT)를 생성할 수 있다.
The test control circuit 210 may generate the test control signal RPT based on the test read signal TRD and the test address signal.