상기 맵핑 기술은 관련 데이터에 의해 지시되는 물질 및/또는 공정 특성들에 따라 그 값이 달라지는 파라미터들을 포함할 수 있다.
The mapping technique may include parameters whose values ​​vary according to material and/or process characteristics indicated by the relevant data.