피시험 반도체 장치(10)가 DRAM인 경우, 자동 테스트 장비(2200)는 모든 메모리 셀들에 기준 데이터 패턴을 기록하고, 이를 다시 독출할 수 있다.
When the semiconductor device under test 10 is a DRAM, the automatic test equipment 2200 may write a reference data pattern in all memory cells and read it again.