측정 프로브 (11)는 측정 대상물 (20)의 기재 (52) 상의 층 (51)의 두께의 비파괴 측정을 위해 사용된다.
The measurement probe 11 is used for non-destructive measurement of the thickness of the layer 51 on the substrate 52 of the object 20 to be measured.