간단한 비접촉 방식으로 투명성이 있는 평판 샘플의 두께와 파장에 따른 위상 굴절률 값을 정확히 측정할 수 있는 방법을 제안하고 있다.
A simple non-contact method is proposed to accurately measure the phase refractive index value according to the thickness and wavelength of a transparent flat sample.