상기 시편 두께 측정 시스템(3)은 상기 트레이(600)에 배치되는 다층을 가진 시편(500)의 각 층의 두께 및 굴절률을 측정할 수 있다.
The specimen thickness measuring system 3 may measure the thickness and refractive index of each layer of the specimen 500 having multiple layers disposed on the tray 600.