ZEISS X-ışını Tomografi Çözümleri
Yüksek Çözünürlüklü 3D X-ışını Mikroskopi ve Tomografi
Malzemelerinizin özelliklerini ve davranışlarını tahribatsız olarak karakterize edin.
Mikro yapıların detaylarını 3 boyutlu olarak görüntüleyin.
Modelleri geliştirin ve onaylayın veya yapısal detayları görselleştirin.
Büyük numunelerde bile yüksek kontrast ve mikron altı görüntüleme.
Xradia Contect microCT
Submikron XRM'nin Xradia Versa ailesi, çeşitli örnek tipleri ve boyutlarında daha fazla büyütme sağlamak için mikroskop objektif taretinde patentli X-ışını detektörlerini kullanır ve minimum çözünürlüğü <40 nm olan minimum voksellerle çözünürlüğü 500 nm'ye kadar iter.
Xradia 610 & 620 Versa
Örnekleri Daha Hızlı Mikron Altı Görüntüleme için 3D X-ışını Mikroskobu
Endüstrinin en iyi çözünürlüğü ve kontrastı üzerine inşa edilmiş tahribatsız mikron altı ölçekli görüntülemenin sınırlarını genişletin.
Esnek ve Benzersiz Mikron Altı 3D Görüntülama Sistemi
Tahribatsız görüntülemenin gücünü artırmak için yüksek çözünürlük ve kontrastı esnek çalışma mesafeleriyle birleştirin.
3D Mikron Altı Görüntüleme için Gelişmiş Çözüm
Yüksek performanslı 3D X-ışını mikroskobu ile daha az verimli projeksiyon tabanlı bilgisayarlı tomografi arasındaki boşluğu doldurun.
Nano ölçekli X-ışını mikroskoplarının Xradia Ultra ailesi, senkrotron kalitesinde X-ışını optiği kullanan ve <50 nm'ye kadar gerçek çözünürlük ve 16nm'ye kadar asgari çözünürlük sağlayan, ticari olarak temin edilebilen tek X-ışını mikroskobudur.
Senkrotron kalitesinde Nano Ölçekli 3D X-Ray Görüntüleme
50 nm'ye kadar çözünürlük ve tahribatsız 3D görüntüleme ile benzersiz performans elde edin.
Ultra Yüksek Çözünürlüklü Tahribatsız 3D Görüntüleme Sistemleri
SEM, TEM veya AFM gibi yüksek çözünürlüklü görüntüleme yöntemleri ve geleneksel mikro-BT arasındaki boşluğu doldurun.
Xradia Synchrotron Ailesi
Nanoscience X-ray Microscopy for Synhrotorns
Nano ölçekli X-ışını görüntülemeyi senkrotron tesisinize getirin ve şirket içi geliştirme masraflı ve zaman alıcıdır.
ZEISS Xradia Context, sağlam bir tablaya ve esnek bir yazılım kontrollü kaynak / dedektör konumlandırmasına sahip, geniş görüş alanı, tahribatsız, 3D X-ışını mikro-bilgisayarlı tomografi sistemidir.
Yarının Güvencesi için X-ışını Sistemleri
3D görüntülemede büyük, ağır (25 kg) ve uzun boylu örnekleri ve küçük örnekleri yüksek çözünürlüklü görüntüleyin.
Endüstriyel bilgisayarlı tomografi (BT), zaman içinde tüm iç yapıların hacmini yakalamayı mümkün kılarak tamamen yeni bir bakış açısı sunar. ZEISS hızlı BT sistemleri konusunda öncüdür ve üretim sürecinde bileşenlerin tam denetimini sağlar.
Endüstriyel Bilgisayarlı Tomografi Sistemleri
QA ve QQ Süreçlerinde ZEISS CT Çözümleri
Üretim sürecinde büyük parçaların ve bileşenlerin iç yapılarının hacmini görüntüleyin.
Ürün portfyümüz ülkelere bağlı olarak değişiklik gösterebilir. Ürünlerin tıbbi teşhis, tedavi veya tedavi amacıyla kullanılması, yerel düzenlemelerle sınırlı olabilir. Daha fazla bilgi için yerel ZEISS satıcınızla görüşün.
Süreçleriniz için Faydaları Hakkında Daha Fazla Bilgi Edinin