X-Işını Difraktometresi | Merkezi Laboratuvar
X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristalin malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir.
Cihaz: Rigaku Ultima-IV X-Işını Kırınım Cihazı
ODTÜ Merkez Laboratuvarı'nda bulunan Rigaku Ultima IV X-Işını Difraktometresi, çok amaçlı üniteleri ile hizmet vermektedir. Cihaz bakır hedefli X-ışını tüpüne ve tüpteki ani sıcaklık değişimlerini kontrol eden su soğutucusuna sahiptir. Cihazda, monokromatize X-ışını elde edilmesini sağlayan, yüksek çözünürlükte Grafit Monokromatör kullanılmaktadır. Ultima IV XRD cihazında bulunan çapraz ışın optik mekanizması (CBO), yeni bir ayar ve düzenleme yapılmaksızın, odak ya da paralel ışın geometrisinde çalışabilme imkanı sağlar. Rutin olarak kullanılan "Bragg-Brentano odak ışın geometrisi" yöntemi ile iyi kristallenmiş ve düzgün yüzeyli örneklerden oldukça güçlü kırınım bantları elde edilmesine karşın; yüzeyi pürüzlü, zayıf kristallenmiş örneklerin ve özellikle ince filmlerin faz tanımlamalarında "Paralel odak ışın geometrisi" kullanılmaktadır. Ayrıca değişik kalınlıklardaki ince filmlerden, standart Θ/2Θ (2Θ=2-90° aralığında) tarama yöntemiyle genellikle zayıf bir sinyal alınmasına karşın, 2Θ tarama yöntemi ve sabit bir grazing açısı (GIXD-minimum 0,1°) ile, daha güçlü bir sinyal elde edilebilir. Bu teknikle, ince film ve polikristalin örneklerde oldukça hassas ölçümler yapılabilmektedir.
Örnek Teslim Şartları
Toz numuneler:Analizi yapılacak numuneler, ince öğütülmüş toz halinde Merkez Laboratuvarına ulaştırılmalıdır. Değişik fiziksel ve kimyasal işlemlere tabi tutulmuş numuneler hakkında yeterince bilgi verilmelidir. Laboratuvara toz halinde iletilecek numune miktarı, kayaç örnekleri için yaklaşık 10 gr.; laboratuvarda sentezlenen ve fazla miktarda temini mümkün olamayan örnekler için ise en az 100-150 mgr. olmalıdır.
İnce Filmler: Merkez Laboratuvarına iletilecek ince film örnekleri minimum 1x1 cm boyutlarında hazırlanmalı ve 7 mm. den daha kalın olmamalıdır.
İnce film ölçümleri, her ayın son 1 haftasında yapılır; örnek talep durumuna göre ölçüm programı değişebilir.
Rigaku Ultima IV X-Işını Kırınım cihazı oldukça geniş bir uygulama alanına sahiptir:
Jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında
Metal ve alaşım analizlerinde
Seramik ve çimento sanayiinde
İnce film kompozisyonu tayininde
İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde
Arkeolojide, tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde
X-Işını Difraksiyon Laboratuvarı (XRDL)
-Seçiniz- Analiz Belirleme ve Yönlendirme Birimi Duraylı İzotop Oranı Kütle Spektroskopi Laboratuvarı (DİL) Elektrik, Manyetik ve Optik Özellikler Ölçüm Laboratuvarı (EMOL) Elektron Mikroskopi Laboratuvarı (EML) Elektron Spin Rezonans Spektroskopi Laboratuvarı (ESRL) Kimyasal Analiz Laboratuvarı (KAL) Kızıl Ötesi ve Raman Spektroskopi Laboratuvarı (KORL) Mekanik Test Laboratuvarı (MTL) Nano-Mekanik Test Laboratuvarı (NMTL) Nükleer Manyetik Rezonans Spektroskopi Laboratuvarı (NMRL) Parçacık Boyutu ve Zeta Potansiyel Ölçüm Laboratuvarı (PZL) Polimer Analiz Laboratuvarı (PAL) Radyojenik İzotop Laboratuvarı (RİL) Reolojik Karakterizasyon Laboratuvarı (RKL) Sıvı Azot Üretimi Termal Analiz Laboratuvarı (TAL) Transmisyon Elektron Mikroskopi Laboratuvarı (TEML) Yüksek Çözünürlüklü Kütle Spektroskopi Laboratuvarı (YKL) Yüzey Analiz Laboratuvarı (YAL) Yüzey ve Gözenek Karakterizasyon Laboratuvarı (YGL)