İhale Başlıgı : Taramalı Elektron Mikroskobu (Sem) Yaklaşık Maliyet Fiyat Teklifi (Doç. Dr. Mustafa ESKİCİ)
Üniversitemiz Öğretim Üyesi Doç. Dr. Mustafa ESKİCİ’nin 2018-171 nolu alt yapı projesi için aşağıda cinsi ve miktarları belirtilen malzeme 4734 sayılı Kamu İhale Kanununun 3. maddesi f bendi uyarınca yapılacak alımlar için 2003/6554 sayılı Bakanlar Kurulu ekindeki esas ve usullerin 19. maddesine göre ihalesi yapılarak satın alınacaktır.
Teslim Yeri: Manisa Celal Bayar Üniversitesi Deneysel Fen Bilimleri Uygulama ve Araştırma Merkezi
TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOP(SEM)
Bu teknik şartnamede yer alan sistem; Her türlü biyolojik ve tıbbi materyaller, seramikler, çimento, beton, çimentolu kompozitler, toprak-kayaçlar, metaller ve alaşımları, cam ürünleri, kağıt ürünleri, polimerler, plastikler, korozyon ürünleri, tekstil ürünleri, her tür lif yapılı karbon, pamuk ve sentetikler vb. örnekleri, iletken ve iletken olmayan örnekler üzerinde herhangi bir ön hazırlık gerektirmeden önerilen haliyle veya özel uygulamalar için gerekecek ek opsiyonlarla inceleyebilme ve uygun yazılım özelliklerine sahip bir sistem olmalıdır.
1. Cihaz ve ekipmanlarının kullanımı ve bakımı ile ilgili dokümanlar (kullanma kılavuzu, kullanma talimatı, katalogları vb.) orijinalleri ile birlikte eksiksiz olarak verilmelidir.
2. Sistem üzerindeki parçaların marka, model ve numaraları gibi detayları verilmelidir. Tüm sistemler önceden tanıtım nedeniyle de olsa kullanılmamış ve seri numaraları değiştirilmemiş, orijinal fabrikadan paketli olmalıdır.
3. Taramalı elektron mikroskobu yazılım ve donanım özellikleri bakımından ileride, Lithography, Tensile Stage gibi aksesuarların veya yazılımların eklenmesiyle geliştirilmeye uygun tasarlanmış olmalıdır.
4. Cihaz, kataloğunda belirtilen standart aksesuarları, bağlantı parçaları, bağlantı kabloları ve emniyetli çalıştırılması için gerekli aksesuarları ile eksiksiz olarak verilmelidir.
5. Tedarik edilecek tüm donanım 220 ± %10 Volt AC, 50-60 Hz frekans ile çalışmalı, veya bu özelliklerde çalışabilecek şekilde yapılandırılmalıdır.
6. Düşük vakum koşullarında çalışma değeri en az 500 Pa olmalıdır. Ayrıca bu sistem değişken vakum koşulları altında herhangi bir ön hazırlık (kurutma, parlatma, kaplama) gerektirmeden çalışabilmelidir. Sistem bir vakum koşulundan diğerine kolayca bir fare hareketi ile geçebilmelidir.
7. Elektron yavaşlatma özelliğine sahip olan sistem elektron demetine hassas numunelerin incelenmesine ve çok hassas yüzey topografik resim almaya olanak sağlamalıdır.
8. Yüklenici firma, garanti süresi bitiminden itibaren geçerli olmak üzere, ücreti karşılığı 7 (yedi) yıl süre ile servis ve yedek parça sağlamayı garanti etmelidir.
9. Teknik şartnamenin tüm maddelerine “EVET-HAYIR” şeklinde değil ayrıntılı olarak cevap verilmeli, teknik şartnamede belirtilen tüm maddeler orijinal katalog, belge veya resimler üzerinde gösterilmelidir.
10. Cihazın kurulumu ve teslimi aşamasında firma tarafından cihazın kullanımı ve bakımı ile ilgili en az 5 gün uygulamalı eğitim verilmelidir.
11. Cihaz kurulduktan 4-6 ay sonra firmanın uygulama mühendisi tarafından cihaz başında kullanıcılar ileri düzey uygulama eğitimi verilmelidir.
1. Cihaz; aşağıda verilen kısımlardan oluşmalı ve firmanın ürettiği en son güncel model olmalıdır.
I. Numune giriş bölmesi,
II. Elektron kaynağı,
IV. Vakum sistemi,
V. Görüntüleme ve Bilgi işlem ünitesi
2. Cihaz ile;
a) iletken numuneler ve yüksek vakumda çalışılmaya uygun hale getirilmiş (kaplama vs. işlemler ile) yalıtkan numuneler yüksek vakumda,
b) iletken olmayan, yarı-iletken, organik, inorganik, vs. numuneler düşük vakumda, en az 500 Pa’a kadar genişletilebilen vakum koşulları altında, parlatma, kaplama vb. bir ön hazırlık gerektirmeden çalışılabilme özelliğinde olmalıdır.
3. Cihaz ile birlikte;
a. Bir adet -20oC ile +50 oC arasında çalışabilen peltier stage ve sıcaklığı ayarlayabilir ve kontrol edebilir bir adet en az 1050 oC’lik yüksek sıcaklık tablası verilmelidir.
b. Cihaza uygun ve yeterli kapasitede basınçlı hava kompresörü ve su soğutma sistemi verilmelidir.
I. Numune Giriş Bölmesi: Cihazın tüm fonksiyonları programdan kontrol edilebilir olmalıdır. İstenildiğinde odaklama, astigmatizm, büyütme, kontrast ve parlaklık gibi ayarlar manuel olarak yapılması için kontrolür verilmelidir.
a) Cihaz üzerinde en az 1 adet 9 yuvalı ve en az 12 mm çapta stub yerleştirilebilen farklı karakterde ve büyüklükte numune yerleştirmeye imkân veren numune tutucu olmalıdır.
b) Numune odasında en az 12 adet aksesuar bağlama portu bulunacaktır.
c) Numune odası tablası Eucentik özellikli en az 5 aksda motorize ve bilgisayar kontrollü olacaktır.
d) Numune odası genişliği en az 330 mm olmalıdır.
e) Numune tablası hareketleri minimum X=110mm, Y=80 mm
f) Numuneler kaplamadan da incelenebilmelidir.
g) Sistemin numune odası en az 100 mm çapında örnek alacak şekilde olmalıdır, sistem en az 30 mm yüksekliğe kadar numune alabilmelidir. Sistemin numune odası ve tablası en az 100 mm çapında örnek alacak ve 100 x 100 mm lik örnek yüzeyinin tümünü numune yerinden çıkarılmadan inceleme imkanı verecek olmalı, en az 30 mm yüksekliğe kadar numune alabilmelidir.”
I. Elektron kaynağı
a) İvmelendirme Voltajı en az 20 V ile 30 kV arasında ve en az 10 V veya daha az aralıklarla yazılımdan sürekli ayarlanabilir olmalıdır.
b) Cihazın elektron tabancası yüksek çözünürlükte ve en iyi kontrastta görüntü alabilmesi için FEG tabancalı olmalıdır. 2 yıl süre için gerekli FEG emitter firma tarafından sağlanmalıdır. FEG tabancası ömrünün bitmesine yakın firma tarafından ücretsiz olarak 2 kez yenisi ile değiştirileceği taahhüt edilmelidir.
c) Çözünürlük değerleri en fazla aşağıdaki gibi olmalıdır:
1.) Yüksek Vakumda: 0.7 nm@ 15kV (SE)
0.9 nm @ 1kV (SE)
1.0 nm @ 1 kV (SE) (Elektron Yavaşlatma olmadan)
2.) Düşük Vakumda : 1.7 nm @ 3kV (SE) veya 1.2 nm @ 15 kV (SE)
d) Elektron mikroskop sisteminin prop akım değeri en az 100nA olmalıdır.
- Taramalı elektron mikroskobu için aşağıda listelenen detektörler ve numune odasını gözlemlemek için IR-CCD kamera standart olarak sistemle beraber verilmelidir:
- Yüksek vakum ETD dedektörü
- Yüksek vakumda çalışabilen geri çağrılabilir 4 segmentli BSE dedektörü
- Yüksek vakum InLens SE dedektörü
- Yüksek vakum InLens BSE dedektörü
- Düşük vakum InLens SE dedektörü
- Düşük vakum In-lens BSE dedektörü
- BF, DF ve HAADF modlarına sahip geri çağrılabilen STEM dedektör
- Katodolüminesans dedektörü
- Energy Dispersive X-ray Spektrometresi (EDS) Cihazla birlikte sistemle tam uyumlu olarak teslim edilmelidir.
InLens SE ve BSE detektör sistemleri ile manyetik numuneler sorunsuz incelenebilmelidir.
IV. EDS/EDX (Enerji Dağılımlı X-Işını Spektrometresi) Teknik Şartnamesi
a) Taramalı elektron mikroskobu ile birlikte 1 adet EDS sistemi verilmelidir. Bu sistem sıvı azot gerektirmemeli, kaplanarak ya da kaplama gerektirmeden kalitatif, kantitatif ve standartsız yarı kantitatif analiz yapabilmeli, belirlenmiş nokta veya hat boyunca veri toplayabilmeli, seçilmiş alanda aynı platformda aynı anda EDS çalışması yapabilmeli, seçilmiş alanda x-ışını haritalaması yapabilmeli ve periyodik cetvele göre 5B - 92U arasındaki elementleri algılayabilmelidir.
b) Detektör aktif alanı en az 70 mm2 olmalıdır.
c) Çözünürlüğü en az 127 eV veya daha iyi olmalıdır.
d) EDS detektör peltier soğutmalı sıvı azot gerektirmeyen SDD tip olmalıdır.
e) En az 100.000 cps’ye kadar çözünürlüğü en az %90 kararlı kalmalıdır. Na, Al, Si gibi elementlerde K, L piklerinde darbe yığılmayı etkisiz hale getirmelidir.
f) Detektör penceresi SUTW (Super Ultra Thin Window) olmalıdır.
g) Sinyal gürültü oranı 9000:1 veya daha iyi olmalıdır. Aynı zamanda ISO15632:2000 önermelerine uygun olmalıdır.
h) Sistem en az 1,600,000 cps ye varan sinyal yoğunluklarında sature olmadan çalışabilmeli ve bu sinyallerin en az 800.000 cps’ ye kadar kısmını inceleyebilmelidir.
i) EDS yazılımı bulunan piklerin hangi elemente ait olduğunu otomatik olarak bulabilmelidir ve SEM numune tablası EDS arayüzü üzerinden de kontrol edilebilmelidir.
j) Bulunan elementlerin kontrol edilmesi için spektrumun nasıl olması gerektiğini gösteren bir fonksiyonu olmalıdır.
k) Bilgi toplama yavaşlamadan eş zamanda EDS yapabilme imkanı olmalıdır
l) Data toplama-işleme modülü ve raporlama yazılımına sahip olmalıdır.
r) CSV, PDF ve XML formatlarında raporlama yapabilmeli, kişiye özel rapor formatları oluşturabilmelidir.
s) Sistemle birlikte en az bir adet en az aşağıdaki konfigürasyonda masaüstü bilgisayar ve 24" HDMI girişli LCD monitör verilmelidir:
III. Vakum sistemi
a) Vakum sistemi için teklif edilen sistem tamamen otomatik olmalı ve değişken basınç en az 500 Pa’a kadar 10 Pa aralıklarla ayarlanabilir olmalıdır.
b) Cihazda gerekli olduğu koşullarda düşük basınç ayarlaması su buharı ve hava ile olmalı, istenilmesi halinde opsiyonel olarak azot, CO2 vs... gazları da kullanılabilmelidir.
c) Cihaz vakumunu min. iki basamaklı en az 6 m3/saat kapasiteli rotary pompa ve ince vakumunu minimum 200-220 L/s kapasiteli Turbo Molecular Pompa ile sağlamalıdır.
IV. Görüntüleme ve Bilgi işlem ünitesi:
a) İncelenen örnekler üzerinde istenildiğinde görüntüleri alınarak otomatik olarak kaydedilebilmelidir.
b) Sistem için bir edet en güncel konfigürasyonda Bilgisayar ve 24” LCD Monitör verilmelidir. Ve Sistem ile birlikte bir adet 42” LCD TV verilmelidir.
c) İnceleme sırasında istendiğinde yüksek çözünürlüklü video kaydı yapılabilmelidir.
Cihazın işletim yazılımında olagelen güncellemeler, (Softwarede yeni versiyonlar) garanti süresi içinde talebe bağlı olmadan ücretsiz, garanti süresi dışında ücret karşılığında yapılmalıdır.
d) Cihaz ile birlikte numune tablası ile tam uygun Navigasyon Kamerası verilmelidir.
Büyütme en az 2.000.000X’ye kadar ve devamlı büyütme (Continuous Magnification) olacaktır.
e) Cihaz yazılımı en az 255 frame ortalama veya integration alabilmelidir.
f) Drift Correction yazılımı cihaz ile birlikte verilmelidir.
g) Cihaz görüntü annotasyonu yapabilmeli ve çizgi, noktadan noktaya, açı ve radyal ölçümler yapabilmelidir.
h) Sistem ile birlikte bir adet destek bilgisayarı ve 24“ LCD Monitör verilmelidir. Destek Bilgisayarın özellikleri aşağıdaki gibi olmalıdır.
Intel i7 8700K işlemci,
Intel Z170 soket 1151 anakart, HDMI çıkış (üzerinde usb 2.0, 3.0, 3.1 girişi/çıkışı olan)
4Gb harici ekran kartı
(2x8 Gb) 16Gb DDR4 ram, 1 TB SSD (min. 450R x 450 W) hard disk
Lisanslı Win7 veya üzeri versiyon - 64 bit ve Office 2013 profesyonel veya üstü versiyon.
Wireless klavye ve Mouse
DVD-R ve DVD-RW SATA yazıcı.
V. Numune Hazırlama Ekipmanı:
Sistemle beraber verilecek aşağıda belirtilen yardımcı cihazlar Avrupa standartlarının gerektirdiği tüm güvenlik standartlarını içermelidir.
1) Sisteme uygun Au/Pd sputter kaplama cihazı, karbon fiber kaplama ataşmanı ile en az 100 m yedek karbon fiber ve 1 adet yedek Au/Pd hedef verilmelidir. Ayrıca sistemle beraber ozon temizleyicisi ve yedek parçaları verilmelidir.
2) Tam Otomatik, peltier-termo elektrik ısıtma, adiabatik soğutma ve manyetik karıştırıcılı 32 mm çap ve 47 mm yükseklik özellikli dikey tip numune hücreli Kritik Nokta Kurutucusu verilmelidir. Ayrıca gerekli sarf malzemeler, basınca dayanıklı hortum, 12 sepetli numune tutucusu sistemle birlikte verilecektir.