Açık Erişim@BUU: Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11452/5519
Title: Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması
Other Titles: Designing microprocessor controlled automatic test system for testing various electronic systems and preparing microprocessor programs
Authors: Tütüncüoğlu, Ergür
Uludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Elektronik Anabilim Dalı.
Otomatik test sistem
Issue Date: 24-Feb-1988
Citation: Alpaslan, F. (1988). Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü.
Abstract: Test işleminde Lojik Entegre Devrelerin doğruluk tablola­rı esas alınmıştır. Bunlara göre entegre devrelerin giriş-çıkış uçları belirlenmiş olup, test bilgisi olarak bilgisayara veril­miştir. Bilgisayar, test bilgileri ile alınması gereken sonuçla­rı karşılaştırarak test işlemini gerçekleştirmektedir. Bu çalışmada fonksiyonları birbirinden farklı 6 entegre devrenin testi yapılmıştır. MPF-II'nin 24 K ’lık RAM bölgesine (4000-9FFF) yerleştirilecek daha çok sayıda kütüphane ile iste­nildiği kadar entegrenin testi yapılabilecektir. Kütüphane ek­lenmesi programda her hangi bir değişiklik gerektirmez. Hazırla­nan sistem ve yazılan programlar, bu tezde incelenmiş olan en­tegre devreler için istenilen sonuçları vermiştir.
In test process, function tables of logic integrated circuits are used. Input-output pins of integrated circuits are determined and are given to computer as test data. Test data are compared with expected results by using computer and test process has been completed. In this study, six integrated circuits of having different functions are tested. Any number of integrated circuit test can be done with several libraries located to 24 K RAM region of MPF-II. Adding library does not need any change in the program. In this thesis, hardware and software of system are in very good agreement with examined integrated circuits.
Until 2099-12-31 3.93 MB Adobe PDF View/Open Request a copy