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电子测试设备
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ATE的用途
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在所有电子元器件（Device）的制造过程中，都存在着去伪存真的需要，这种需要实际上就是一个测试过程。实现这种过程需要各种测试设备，这类设备就是所谓的ATE（Automatic Test Equipment）。 这里所说的电子元器件（DUT）包括IC类别，还包括分立的组件、器件。ATE应用于前道工序（Front End）和后道工序（Back End）的各个环节，具体取决于工艺（Process）设计的要求。
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ATE的作用
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在元器件的工艺流程中，根据工艺的需要，存在着各种需要测试的环节。环节的存在目的是为了筛选残次品，以防止其进入下一道的工序，并由此减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握，这些参数可以是现实物理世界中的光、电、波、力学等各种参量，但是，目前大多数常见的是电子信号。ATE设计工程师们要考虑的最多的，比如时间、相位、电压、电流等基本的电子学物理参数，这也就是所谓的信号处理。此外，比如LCD，PDP（等离子显示器）需要对发光部分功能进行试验，那么，就要对光学相关的参量测量了。
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未来展望
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当今，ATE广泛地应用于半导体工艺流程的若干工序环节。在不远的将来，会瞄准量子机械（MEMS-Micro Electronic Mechanic System）的广大领域。激励和回读信号的种类的外延也会从以目前的电量为主，飞跃性的扩充到光学参量、流体（包括气体和液体）参量、位移参量等能够在装置内部演算的各种参量，可以是量子化了的参数，或者就是自然变量的本身（模拟参量）。