b'\n_START_ARTICLE_\nRentgenska pra\xc5\xa1kovna difrakcija\n_START_SECTION_\nZgodovina\n_START_PARAGRAPH_\nIzvor rentgenske pra\xc5\xa1kovne difrakcije sega v leto 1916 (Debye in Scherrer) in 1917 (HuH). Avtorji so tista leta razvili metodo neodvisno med seboj. Rentgenska analiza je svoj pravi razvoj do\xc5\xbeivela \xc5\xa1ele 50 let kasneje z uvedbo Rietveldove metode (Rietveld refinement method). Rietveldova metoda je predstavljala velik korak k raziskovanju trirase\xc5\xbene kristalne strukture iz enorazse\xc5\xbenih difraktogramov. Uporaba rentgenske analize je tedaj obsegala identifikacijo faz v vzorcu, to\xc4\x8dno dolo\xc4\x8devanje parametrov osnovne celice in \xc5\xa1tudij kristalnih napak, ki so danes poznane kot\xc2\xa0\xc2\xbbtradicionalne\xc2\xab\xc2\xa0aplikacije rentgenske pra\xc5\xa1kovne difrakcije. V nasprotju z Rietveldovo metodo, ki vklju\xc4\x8duje strukturne podatke o vzorcu (lege atomov), so se isto\xc4\x8dasno razvijale nove metode modeliranja, ki so neodvisne od strukturnih podatkov. Na ta na\xc4\x8din je mogo\xc4\x8de modelirati eksperimentalne difraktograme ne da bi se pred tem poznalo kristalno strukturo vzorca. Tako pridobljeni parametri posameznih uklonov (lega, \xc5\xa1irina, oblika uklona, ipd.) so osnova novih tehnik dolo\xc4\x8devanja mikro-strukturnih lastnosti materialov. S kasnej\xc5\xa1o uvedbo \xc5\xa1tevilnih ra\xc4\x8dunalni\xc5\xa1kih programov je postala rentgenska pra\xc5\xa1kovna difrakcija ena od najuporabnej\xc5\xa1ih analiznih metod za raziskovanje tako strukturnih kot mikro-strukturnih lastnosti trdnih snovi.\n_START_SECTION_\nUporaba\n_START_PARAGRAPH_\nRentgensko pra\xc5\xa1kovno difrakcijo lahko uporabljamo v naslednje namene:\n_START_SECTION_\nIdentifikacija faz v vzorcu\n_START_PARAGRAPH_\nNajbolj raz\xc5\xa1irjena in najstarej\xc5\xa1a aplikacija rentgenske pra\xc5\xa1kovne analize je identifikacija faz v vzorcu. Identifikacija faz z rentgensko analizo je mo\xc4\x8dno napredovala \xc5\xa1ele zadnja leta z uvedbo \xc5\xa1tevilnih ra\xc4\x8dunalni\xc5\xa1kih programov. Programi so opremljeni s \xc5\xa1iroko podatkovno bazo in razmeroma enostavnim na\xc4\x8dinom iskanja neznanih uklonov. Osnovna podatkovna baza PDF (Powder Diffraction File), s katero upravlja organizacija ICDD (International Center for Diffraction Data), vsebuje danes podatke o 148.379 razli\xc4\x8dnih snovi. Med njimi spadajo organske (24.867), anorganske (125.407) in me\xc5\xa1ano organske/anorganske snovi (1895)._NEWLINE_Pomembno to\xc4\x8dko v zgodovini rentgenske pra\xc5\xa1kovne difrakcije predstavlja prilagajanje difraktograma podatkom o kristalni strukturi vzorca. Uvedel jo je Rietveld leta 1967 in je znana pod imenom Rietveldova metoda. Kasneje in sicer okoli leta 1981 se je razvila metoda dekompozicije difraktograma (pattern decomposition). Pri tej metodi se uporabi nestrukturni model za opis eksperimentalnega rentgenskega spektra. Na ta na\xc4\x8din se pridobi informacije, ki opisujejo posamezni uklon ne da bi se pri tem poznalo kristalno strukturo obravnavanega vzorca.\n_START_SECTION_\nKvantitativna analiza\n_START_PARAGRAPH_\nKvantitativna analiza oziroma dolo\xc4\x8devanje vsebnosti posameznih faz v vzorcu z rentgensko analizo je do\xc5\xbeivela svoj razvoj po uvedbi Rietveldove metode leta 1967. Nastali sta dve \xc5\xa1iroko uporabljeni metodi in sicer metoda internega standarda in kvantitativna metoda po Rietveldu.\n_START_SECTION_\nDolo\xc4\x8devanje mikrostrukturnih lastnosti vzorca\n_START_PARAGRAPH_\nPod izrazom mikrostruktura se razume razli\xc4\x8dne strukturne napake v materialu in odstopanja od idealne kristalne strukture. Tukaj spadajo oblika, velikost in distribucija velikosti osnovnih kristalitov, mikro deformacije, dislokacije in druge oblike kristalnih napak. V\xc4\x8dasih je bila analiza mikro strukturnih lastnosti omejena le na materiale z visoko stopnjo simetrije osnovne celice (v glavnem kubi\xc4\x8dne) in z minimalnim prekrivanjem uklonov. Z dana\xc5\xa1njimi tehnikami se je analiza raz\xc5\xa1irila na \xc5\xa1irok spekter razli\xc4\x8dnih materialov, med katerimi spadajo tudi tisti z nizko simetrijo osnovne celice.\n_START_SECTION_\nDolo\xc4\x8devanje kristalne strukture\xc2\xa0\xc2\xbbab initio\xc2\xab\n_START_PARAGRAPH_\nMed najnovej\xc5\xa1imi metodami dolo\xc4\x8devanja strukturnih lastnosti materialov spada re\xc5\xa1evanje kompleksnih kristalnih struktur\xc2\xa0\xc2\xbbab initio\xc2\xab. Metoda je postala zelo uporabna pri materialih, kjer je monokristale nemogo\xc4\x8de ali zelo te\xc5\xbeko pripraviti. Velik napredek metode v zadnjih letih so omogo\xc4\x8dili predvsem izbolj\xc5\xa1ani ra\xc4\x8dunalni\xc5\xa1ki programi za re\xc5\xa1evanje strukture, dolol\xc4\x8devanje razse\xc5\xbenosti in simetrije osnovne celice (indeksiranje). Ravno tako je k razvoju metode\xc2\xa0\xc2\xbbab initio\xc2\xab\xc2\xa0bistveno prispevala uvedba difraktometrov z visoko lo\xc4\x8djivostjo in Rietveldova metoda. Slednja je prispevala k re\xc5\xa1evanju problemov prekomernega prekrivanja uklonov.'