一日龄2天的新生儿因短促性强直-阵挛发作就诊，遗传学检测显示神经系统电压门控钾通道基因缺陷，患儿母亲回忆其哥哥在生后第3天也曾有过类似的表现，该症状在两周后自动消失，未留有任何后遗症。结合患儿家族史，初步诊断良性家族性新生儿惊厥。医生解释该病发作与电压门控钾通道异常所致的细胞内K+外流增加有关。以下使胞内K+外流明显减少的是
A
增加细胞膜对K+的通透性
B
使膜发生超极化
C
降低细胞外K+浓度
D
抑制钠泵活性
E
降低细胞外Na+浓度