 ለመጀመሪያ ጊዜ ሙሉ የኮምፕዩተር ክፍሎችን በጥልቀት ለመተንተን የሚያስችል አቅም ያለው ሰርአሪ-ሴክቲንግ ስካኒንግ ኤሌክትሮናል ማይክሮስኮፕ (S3EM) ዘዴዎችን እየሠሩ ናቸው.
Waxay horumarinayaan hababka Serial-Section Scanning Electron Microscopy (S3EM) ee, markii ugu horreysay, waxay bixin doontaa awoodda lagu falanqeynayo wareegyada maskaxda ee dhamaystiran faahfaahin daqiiqo.