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Les Soirées Jeux – Maison des jeux de Strasbourg\nMurder / Cluedo Géant\nAssociation Tisseurs d’Etoiles\nLa Maison des Jeux de Strasbourg est ouverte à tous nos adhérents individuels pour des heures de jeux.\nC’est le meilleur moment pour découvrir l’association, ses locaux et ses jeux. Un bénévole, responsable de la soirée, vous accueille et vous accompagne vers vos premières parties de jeux. Les soirées du vendredi sont ouvertes toute l’année (vacances scolaires incluses), de 20h30 à 1h00 du matin.\nDans une ambiance plus intimiste, retrouvez tous nos jeux. La soirée commence à 20h30. (Attention ce créneau étant tenu par des bénévoles nous ne garantissons pas l’ouverture systématique de tous les mardis).\nLe week-end Jeu\nUne fois par an, l’association organise un week-end jeux. Nous nous perdons un peu dans la montagne, nous louons un chalet avec beaucoup de vivres, nous jouons passionnément, nous nous amusons à la folie, nous ne dormons (presque) pas du tout ! Le prochain rendez-vous est donné pour avril 2018…\nÉvènements le 19 août 2019\nFin : 19 août 2019 - 11 h 30 min\nLieu : Maison des Jeux de Strasbourg - 38 route de Schirmeck - 67200 Strasbourg\nDescription : Accueil des enfants, âgés de 0 à 4 ans, accompagnés de leurs parents et/ou assistantes maternelles\nFin : 20 août 2019 - 0 h 00 min\nDescription : Venez découvrir la richesse du mah-jong, avec l'association Vent d'Est, qui vous initiera aux règles MCR.\nAidez la Maison des Jeux de Strasbourg\nWeek-end jeux 2019, le 30-31 mars\nSoirée Jeux Médiéval\nAdhésions à la Maison des Jeux\nSoirée jeux Far-West\nActu ludiques 67\nActu Maison des jeux\nMaison des jeux de Strasbourg - 2016 - Mentions légales


Entretien d'espaces verts à Gravigny (27930)\nInstallée à Ailly, la société Delange steven paysagiste opère en entretien d'espaces verts.\nNos artisans jardinier assurent une grande variété de prestations : arrosage de jardin, désherbage de jardin, ramassage de l'herbe, tonte de pelouse, ramassage de feuilles, taille d'haies mais aussi préparation de sol pour plantations ou arrosage de plantes d'intérieures.\nAvec une équipe dynamique composée d'artisans qualifiés à votre service, nous mettons tout en oeuvre pour vous assurer un travail de professionnels. Passionnés et expérimentés, nous assurons la réalisation de vos travaux du début à la fin, avec une qualité irréprochable. Fiers de notre métier, nous faisons tout ce qui est en notre pouvoir pour préserver notre bonne réputation et obtenir votre entière satisfaction.\nDelange steven paysagiste, jardinier à Gravigny\nSituée à proximité de Gravigny, Delange steven paysagiste est également spécialisée en abattage, élagage et taille, création et aménagement de jardins, entretien de jardin ou construction de terrasse traditionnelle.\nNos artisans experts en entretien d'espaces verts interviennent également en Val-de-Reuil, Louviers, Gaillon, Saint-Marcel mais aussi Andelys ou Le Vaudreuil.\nSituée dans la région Normandie et dans le département Eure, Gravigny (27930) est une ville de 4083 habitants (données de 2010). Les 3 villes les plus peuplées du département sont Évreux, Vernon et encore Louviers.


Focaccias caprese - Le Coin Cuisine ...\nPour 4 focaccias:\n16 g de levure boulangère fraîche ou 6,5 g de levure boulangère en poudre\nPour le mélange d'huile:\n200 g de tomates cerises jaunes (ou autre couleur) en grappe\n125 g de mini boules de mozzarella\nDans un grand saladier, mélangez la farine, le sel, le basilic séché. Dans un petit bol efrittez la levure boulangère ou bien celle en poudre et versez une partie de l'eau tiède et faites dissoudre en remuant avec une petite cuillère.\nFaites un puits au centre du mélange de farine et versez la levure dissoute, l'huile d'olive et le reste d'eau (ajoutez un peu d'eau si nécessaire). incorporez tous les ingrédients du bout des doigts et pétrissez ensuite 4 à 5 minutes, le temps d'avoir une pâte lisse et souple.\nVersez un filet d'huile sur la boule de pâte, déposez une serviette propre sur le saladier et laissez lever 45 minutes à 1 heure, le temps qu'elle double de volume.\nPendant ce temps, préparez le mélange d'huile. Vous pouvez le faire avec un mortier ou dans un bol. Ecrasez et hachez finement les gousses d'ail, ciselez les feuilles de basilic. Mélangez le tout avec l'huile d'olive et le sel de mer. laissez infuser à température ambiante.\nQuand la pâte a doublé de volume, déposez la sur votre plan de travail fariné. Dégazez la pâte et divisez le en 4 boules de même poids. Boulez les, et aplatissez les dans un diamètre de +/- de 14 ou 15 cm. Déposez les disques de pâte sur une plaque de cuisson couverte de papier ou d'un silpat.\nAvec le manche d'une cuillère en bois faites des petits creux, sans transpercer la pâte, Badigeonnez généreusement d'huile chaque disque de pâte.\nDéposez 1/2 branche de tomates cerises en pressant légèrement. Coupez les minis boules de mozzarella et mettez en dans quelques creux sur chaque focaccia.\nlaissez encore reposer les focaccias 15 à 20 minutes et ensuite badigeonnez une fois de plus du mélange d'huile.\nEnfournez pour 25 à 30 minutes. Les focaccias doivent être gonflés, et le fromage grillé et doré.\nRepassez avec le pinceau de cuisine à la sortie du four et servez, ajoutez un peu de poivre du moulin si vous voulez.\nPublié dans pain, pizza, Entrée, Boulangerie\n« Riz cantonais aux crevettes... Crème glacée au chocolat... »\nJosy et Chris 01/08/2016 20:58\ntrès jolies ! belle recette :o)\nNotre-amour-de-cuisine 01/08/2016 15:54\nMagnifique! bravo bisous


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METHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING BOARDS FOR MICROELECTRONICS OR OPTICS BY LASER DOPPLER EFFECT - UNITY SEMICONDUCTOR\nMETHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING BOARDS FOR MICROELECTRONICS OR OPTICS BY LASER DOPPLER EFFECT\nWIPO Patent Application WO/2017/167573\nThe invention relates to a method for inspecting a board (2) for electronics, optics or optoelectronics, which comprises: rotating the board (2) about an axis of symmetry (X) perpendicular to a main surface (S) of said board; emitting, from a light source (20) coupled with an interferometric device (30), two incident light beams so as to form, at the intersection between the two beams, a measurement space (V) containing interference fringes; collecting at least one portion of the light diffused by said region of the board; acquiring the collected light and emitting an electric signal representing the variation of the light intensity of the light collected over time; and detecting, in said signal, a frequency component in said collected light, said frequency being the time signature of the occurrence of a fault in the measurement space.\nGASTALDO, Philippe (412 jardin de Bérénice, Pontcharra, Pontcharra, 38530, FR)\nDURAND DE GEVIGNEY, Mayeul (164 rue Dacquin, Chambéry, 73000, FR)\nCOMBIER, Tristan (61 rue Saint Laurent, Grenoble, 38000, FR)\nUNITY SEMICONDUCTOR (611 rue Aristide Bergès, Montbonnot-Saint-Martin, 38330, FR)\n1 . Procédé d'inspection d'une plaquette (2) pour l'électronique, l'optique ou l'optoélectronique, comprenant :\n- la mise en rotation de la plaquette (2) autour d'un axe de symétrie (X) perpendiculaire à une surface principale (S) de ladite plaquette,\n- l'émission, à partir d'une source lumineuse (20) couplée à un dispositif interférométrique (30), de deux faisceaux lumineux incidents de sorte à former, à l'intersection entre les deux faisceaux, un volume de mesure (V) contenant des franges d'interférences agencées de telle sorte qu'une région de la surface principale (S) de la plaquette traverse au moins une frange du volume de mesure, la dimension (Dy) dudit volume de mesure dans une direction radiale de la plaquette étant comprise entre 5 et 100 m,\n- la collecte d'au moins une partie de la lumière diffusée par ladite région de la plaquette,\n- l'acquisition de la lumière collectée et l'émission d'un signal électrique représentant la variation de l'intensité lumineuse de la lumière collectée en fonction du temps,\n- la détection, dans ledit signal, d'une composante fréquentielle dans ladite lumière collectée, ladite fréquence étant la signature temporelle du passage d'un défaut dans le volume de mesure.\n2. Procédé selon la revendication 1 , dans lequel la dimension (Dx) du volume de mesure dans une direction tangentielle à la trajectoire de rotation de la plaquette est compris entre 5 et 100 μηη, de préférence entre 15 et 50 μηη.\n3. Procédé selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel la plaquette est au moins partiellement transparente à la longueur d'onde de la source lumineuse.\n4. Procédé selon la revendication 3, dans lequel la dimension (Dz) du volume de mesure dans une direction perpendiculaire à la surface de la plaquette est inférieure ou égale au quart de l'épaisseur de ladite plaquette.\n5. Procédé selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel, à l'emplacement du volume de mesure, les faisceaux incidents présentent une largeur minimale (2*W0).\n6. Procédé selon l'une des revendications 1 à 3, dans lequel la puissance de la source lumineuse est supérieure ou égale à 10 mW.\n7. Procédé selon l'une des revendications 1 à 4, dans lequel la longueur d'onde de la source lumineuse est inférieure ou égale à 900 nm.\n8. Procédé selon l'une des revendications 1 à 7, dans lequel l'interfrange est compris entre 0,1 et 10 μηη.\n9. Système (1 ) d'inspection de plaquettes (2) pour la microélectronique ou l'optique, comprenant :\n- un dispositif (10) d'entraînement d'une plaquette en rotation autour d'un axe (X) de symétrie perpendiculaire à une surface principale (S) de ladite plaquette,\n- une source lumineuse (20) adaptée pour émettre un faisceau lumineux,\n- un dispositif interférométrique (30) couplé à la source lumineuse pour diviser le faisceau émis par ladite source (20) en deux faisceaux et pour former, à l'intersection entre les deux faisceaux, un volume de mesure (V) contenant des franges d'interférences, la dimension (Dy) dudit volume de mesure dans une direction radiale de la plaquette étant comprise entre 5 et 100 μηη, le dispositif interférométrique (30) et le dispositif d'entraînement (10) étant agencés l'un par rapport à l'autre de sorte qu'une région de la surface principale de la plaquette en rotation traverse au moins une frange du volume de mesure,\n- un dispositif (40) de collecte de la lumière diffusée par la plaquette,\n- un dispositif (50) d'acquisition de la lumière collectée configuré pour émettre un signal électrique représentant la variation de l'intensité lumineuse de la lumière collectée en fonction du temps,\n- un dispositif (60) de traitement configuré pour détecter, dans ledit signal, une composante fréquentielle dans ladite lumière collectée, ladite fréquence étant la signature temporelle du passage d'un défaut dans un volume de mesure respectif et pour déterminer, à partir de ladite fréquence, la position du défaut dans la direction radiale et/ou dans l'épaisseur de la plaquette. 10. Système selon la revendication 9, comprenant en outre un bras pour déplacer le dispositif interférométrique (30) et le dispositif (40) de collecte de la lumière diffusée en translation dans une direction radiale, la source lumineuse, le dispositif d'acquisition et le dispositif de traitement étant immobiles. 1 1 . Système selon la revendication 10, dans lequel ledit dispositif interférométrique est couplé à la source lumineuse par une fibre optique et ledit dispositif de collecte est couplé au dispositif d'acquisition par une fibre optique.\nPROCEDE ET SYSTEME D'INSPECTION PAR EFFET DOPPLER LASER DE PLAQUETTES POUR LA MICROELECTRONIQUE OU L'OPTIQUE\nLa présente invention concerne un procédé et un système d'inspection par effet\nDoppler laser de plaquettes pour la microélectronique ou l'optique.\nLors de la fabrication et l'utilisation de plaquettes (ou « wafers » selon la terminologie anglo-saxonne) pour la microélectronique ou l'optique, il est habituel de réaliser une inspection de la surface de chaque plaquette afin d'y détecter d'éventuels défauts et de déceler la ou les étapes générant ces défauts.\nPar ailleurs, l'inspection ne vise généralement pas uniquement à déceler la présence ou non de défauts, mais aussi à fournir des informations qualitatives et/ou quantitatives sur lesdits défauts, telles que leur localisation, leur taille et/ou leur nature, par exemple.\nPour ces impératifs de sensibilité et surtout de répétabilité et de stabilité de mesure, une inspection visuelle par un opérateur n'est pas suffisante.\nDes systèmes d'inspection ont donc été développés en vue de détecter des défauts de plus en plus petits et de fournir toutes informations requises sur la nature, la taille, la localisation, etc. desdits défauts.\nCes systèmes doivent en outre permettre une durée d'inspection de chaque plaquette qui soit suffisamment courte pour ne pas pénaliser les cadences de fabrication.\nA cet effet, une technique connue d'inspection de plaquettes est la microscopie en champ sombre (« dark field » selon la terminologie anglo-saxonne), qui consiste à émettre à partir d'une source lumineuse un faisceau en direction de la plaquette et à mesurer l'intensité de la lumière diffusée par la surface et ce qui est présent sur cette dernière. Une variation de l'intensité diffusée révèle donc la présence d'un défaut à la surface de la plaquette.\nLe document WO 02/39099 décrit un système dark field d'inspection de plaquettes semi-conductrices reposant sur la vélocimétrie laser à effet Doppler (LDV, acronyme du terme anglo-saxon « Laser Doppler Velocimetry »).\nComme on peut le voir sur la figure 1 , un tel système 1 comprend une source lumineuse 20 et un dispositif interférométrique 30 couplé à la source lumineuse agencé en regard de la surface S de la plaquette 2 à inspecter, qui est animée d'un mouvement de rotation. Afin de former le dispositif interférométrique, un dispositif est utilisé pour diviser le faisceau I issu de la source lumineuse 20 en deux faisceaux incidents 11 , 12. A la sortie de ce diviseur, les deux faisceaux 11 , 12 sont orientés l'un par rapport à l'autre de sorte à former, à leur intersection, un volume de mesure V comprenant une pluralité de franges d'interférence parallèles. Le système 1 est conçu pour que la surface S de la plaquette passe dans ledit volume de mesure lors de son mouvement. La lumière diffusée à la surface de la plaquette est collectée par des miroirs et dirigée vers un dispositif d'acquisition couplé à un module de détection (non représenté).\nLa présence d'un défaut sur la surface de la plaquette se traduit, lorsque ce défaut traverse les franges d'interférences, par la diffusion d'une bouffée Doppler mesurée par le module de détection. Une bouffée Doppler est un signal présentant une double composante fréquentielle : une composante de fréquence basse, formant l'enveloppe du signal, correspondant à l'intensité lumineuse moyenne diffusée par le défaut, et une composante de fréquence haute, correspondant à la fréquence Doppler contenant l'information sur la vitesse du défaut. La fréquence Doppler f D est liée à la vitesse v de déplacement du défaut dans la direction perpendiculaire aux franges et à la distance Δ entre les franges d'interférences (ou distance interfranges) par la relation : v = f D * Δ.\nLe document WO 2009/1 12704 décrit un autre système d'inspection de plaquettes basé sur la vélocimétrie laser à effet Doppler.\nDans le cas du document WO 02/39099, le volume de mesure produit, sur la surface de la plaquette, une tache elliptique dont le grand axe est orienté dans la direction radiale de la plaquette, les franges d'interférence s'étendant transversalement à la trajectoire de rotation de la plaquette. La largeur de la tache elliptique est choisie suffisamment faible (40 μηι) pour permettre de détecter précisément la position angulaire du défaut par rapport à un point de référence de la plaque. La longueur de la tache elliptique est choisie suffisamment grande (2 mm) pour permettre de réduire la durée d'inspection. Par ailleurs, la vitesse d'un défaut étant fonction de sa position radiale, il est possible, en mesurant la fréquence Doppler de ce défaut, de déterminer la position radiale dudit défaut avec une précision plus grande que la taille de la tache.\nToutefois, malgré l'exploitation de la fréquence Doppler, un tel système présente une sensibilité insuffisante pour détecter de très petits défauts (typiquement, de l'ordre de 100 nm ou moins). En outre, ce système ne présente pas une résolution radiale suffisante.\nUn but de l'invention est de résoudre les problèmes précités et de concevoir un système et un procédé d'inspection de plaquettes qui offre une sensibilité et une résolution radiale supérieures à celles des techniques connues. Notamment, des défauts de taille inférieure à 100 nm doivent pouvoir être détectés. Par ailleurs, ledit procédé doit convenir à la fois aux plaquettes opaques et aux plaquettes au moins partiellement transparentes à la longueur d'onde de la source lumineuse employée.\nConformément à l'invention, il est proposé un procédé d'inspection d'une plaquette pour la microélectronique ou l'optique, comprenant :\n- la mise en rotation de la plaquette autour d'un axe de symétrie perpendiculaire à une surface principale de ladite plaquette,\n- l'émission, à partir d'une source lumineuse couplée à un dispositif interférométrique, de deux faisceaux lumineux incidents de sorte à former, à l'intersection entre les deux faisceaux, un volume de mesure contenant des franges d'interférences agencées de telle sorte qu'une région de la surface principale de la plaquette traverse au moins une frange du volume de mesure, la dimension dudit volume de mesure dans une direction radiale de la plaquette étant comprise entre 5 et 100 μηη,\nSelon un mode de réalisation, la dimension du volume de mesure dans une direction tangentielle à la trajectoire de rotation de la plaquette est comprise entre 5 et\n100 μηι, de préférence entre 15 et 50 μηι.\nSelon une forme d'exécution de l'invention, la plaquette est au moins partiellement transparente à la longueur d'onde de la source lumineuse.\nLa dimension du volume de mesure dans une direction perpendiculaire à la surface de la plaquette est alors avantageusement inférieure ou égale au quart de l'épaisseur de ladite plaquette.\nDe manière particulièrement avantageuse, à l'emplacement du volume de mesure, les faisceaux incidents présentent une largeur minimale.\nSelon un mode de réalisation, la puissance de la source lumineuse est supérieure ou égale à 10 mW.\nLa longueur d'onde de la source lumineuse est de préférence inférieure ou égale à 900 nm.\nSelon un mode de réalisation, l'interfrange est compris entre 0,1 et 10 μηη.\nUn autre objet concerne un système d'inspection de plaquettes pour la microélectronique ou l'optique, comprenant :\n- un dispositif d'entraînement d'une plaquette en rotation autour d'un axe de symétrie perpendiculaire à une surface principale de ladite plaquette, - une source lumineuse adaptée pour émettre un faisceau lumineux,\n- un dispositif interférométrique couplé à la source lumineuse pour diviser le faisceau émis par ladite source en deux faisceaux et pour former, à l'intersection entre les deux faisceaux, un volume de mesure contenant des franges d'interférences, la dimension dudit volume de mesure dans une direction radiale de la plaquette étant comprise entre 5 et 100 μηη, le dispositif interférométrique et le dispositif d'entraînement étant agencés l'un par rapport à l'autre de sorte qu'une région de la surface principale de la plaquette en rotation traverse au moins une frange du volume de mesure,\n- un dispositif de collecte de la lumière diffusée par la plaquette,\n- un dispositif d'acquisition de la lumière collectée configuré pour émettre un signal électrique représentant la variation de l'intensité lumineuse de la lumière collectée en fonction du temps,\n- un dispositif de traitement configuré pour détecter, dans ledit signal, une composante fréquentielle dans ladite lumière collectée, ladite fréquence étant la signature temporelle du passage d'un défaut dans un volume de mesure respectif et pour déterminer, à partir de ladite fréquence, la position du défaut dans la direction radiale et/ou dans l'épaisseur de la plaquette.\nSelon un mode de réalisation, le système comprend en outre un bras pour déplacer le dispositif interférométrique et le dispositif de collecte de la lumière diffusée en translation dans une direction radiale, la source lumineuse, le dispositif d'acquisition et le dispositif de traitement étant immobiles.\nDe manière avantageuse, ledit dispositif interférométrique est couplé à la source lumineuse par une fibre optique et ledit dispositif de collecte est couplé au dispositif d'acquisition par une fibre optique.\n- la figure 1 est un schéma de principe d'un système d'inspection basé sur la vélocimétrie laser à effet Doppler, décrit dans le document WO 02/39099,\nla figure 2 est un schéma de principe d'un système d'inspection selon un mode de réalisation de l'invention,\nla figure 3 est un schéma de principe d'un système optique de génération et de collection de franges d'interférence selon un mode de réalisation de l'invention,\nla figure 4 est un schéma de principe du volume de mesure comprenant des franges d'interférence selon un mode de réalisation de l'invention, la figure 5 est un schéma de principe d'un système d'inspection comprenant deux canaux de collecte de lumière,\nla figure 6 est un graphe représentant la résolution radiale en fonction de la position radiale du volume de mesure dans le cas du volume de mesure décrit dans le document WO 02/39099.\nPour faciliter la lecture des figures, celles-ci ne sont pas nécessairement réalisées à l'échelle.\nOn s'intéresse dans la présente invention à toute plaquette destinée à être utilisée dans le domaine de la microélectronique ou de l'optique, ladite plaquette pouvant être opaque ou au moins partiellement transparente à la longueur d'onde d'un faisceau émis par une source lumineuse. En particulier, la plaquette peut comprendre au moins l'un des matériaux suivants : silicium, germanium, verre, saphir, quartz, SiC, AsGa, GaN (liste non limitative).\nL'invention utilise un volume de mesure de très petite dimension dans la direction radiale, voire également dans la direction tangentielle à la rotation de la plaquette.\nBien que cette solution aille à rencontre de l'enseignement du document WO 02/39099, les inventeurs ont démontré, comme cela sera exposé plus bas, que ce volume de mesure sensiblement plus petit permettait d'obtenir un flux lumineux beaucoup plus élevé et, par conséquent, à puissance de fond lumineux égale, un rapport signal sur fond lumineux beaucoup plus favorable, sans pénaliser la durée d'inspection de la plaquette.\nLe principe du système d'inspection 1 est illustré sur la figure 2.\nLe système comprend un support 10 destiné à recevoir une plaquette 2 à inspecter et à l'entraîner en rotation autour d'un axe de symétrie X de la plaquette perpendiculaire à une surface principale S de ladite plaquette. En général, la plaquette est de forme circulaire mais l'invention peut s'appliquer à toute autre forme.\nLa plaquette 2 est maintenue sur le support 10 par tout moyen approprié, tel que des moyens électrostatiques, des moyens mécaniques, etc.\nLe mécanisme de mise en rotation du support est connu en lui-même et ne sera donc pas décrit de manière détaillée.\nLe support 10 comprend un ou plusieurs encodeurs (non illustrés) permettant de connaître à chaque instant la position angulaire de la plaquette par rapport à une position de référence.\nLe système d'inspection 1 comprend en outre une source lumineuse 20.\nLa source lumineuse 20 est typiquement un laser de type DFB (acronyme du terme anglo-saxon « Distributed Feed Back »). Un laser de type Fabry-Pérot ayant une longueur de cohérence inférieure à 50μηι peut dans certains cas être utilisé si la longueur des chemins optiques des deux faisceaux divisés pour former le volume de mesure est inférieure à cette longueur de cohérence.\nLa puissance de ladite source lumineuse est typiquement supérieure ou égale à\n10 mW. En effet, en-dessous de cette puissance, la quantité de lumière diffusée par des défauts de taille inférieure à 100nm devient très faible et nécessite donc une durée d'acquisition incompatible avec l'application industrielle visée. Par ailleurs, la longueur d'onde de ladite source lumineuse est inférieure ou égale à 900nm. En effet, selon la loi de la diffusion de Mie, la puissance diffusée par un défaut de taille donnée augmente avec l'inverse de la puissance quatre de la longueur d'onde. Ainsi plus la longueur d'onde incidente sur un défaut sera faible, plus celui-ci diffusera de lumière. Utiliser une longueur d'onde supérieure à 900nm engendrera donc des quantités de lumière diffusées trop faibles pour détecter des défauts de taille inférieure à 100nm.\nLa source lumineuse est couplée à un dispositif interférométrique 30 permettant de générer un volume de mesure comprenant des franges d'interférence représenté sur la figure 3.\nLe dispositif interférométrique 30 comprend un guide de lumière présentant deux branches symétriques dont l'entrée est couplée à la source lumineuse 20 pour diviser le faisceau I issu de la source lumineuse 20 en deux faisceaux incidents 11 , 12. De préférence, le faisceau laser issu de la source lumineuse est collimaté. Une lentille convergente L1 , par exemple convexe-plane, est placée sur le trajet des deux faisceaux incidents de sorte à dévier chacun des deux faisceaux d'un angle a pour former, à l'intersection entre les deux faisceaux, un volume de mesure V contenant des franges d'interférences. Naturellement, cette construction est donnée à titre d'exemple et tout autre dispositif permettant de former un tel volume de mesure peut être employé.\nL'interfrange (distance entre deux franges adjacentes) est avantageusement compris entre 0,1 et 10 μηη. En effet, un interfrange inférieur à 0,1 μηη nécessiterait une fréquence d'échantillonnage plus élevée ce qui augmenterait considérablement la durée d'acquisition ou la rapidité de la chaîne d'acquisition nécessaire. Inversement, un interfrange supérieur à 10 μηη impliquerait un trop petit nombre de franges au sein du volume de mesure pour faire une détection fréquentielle efficace. De plus, les défauts que la présente invention vise à qualifier étant de taille comprise entre 0,05 et 10 μηη, la plage d'interfrange susmentionnée permet de discriminer efficacement des défauts dans cette gamme de tailles.\nLe volume de mesure généré par un tel dispositif interférométrique est illustré schématiquement sur la figure 4.\nUn repère orthonormé (x, y, z) est défini avec (x, y) dans le plan de la surface de la plaquette à inspecter et z perpendiculaire à ladite surface (la dimension du volume de mesure dans cette direction étant notée Dz). Dans cette illustration, on suppose que y s'étend dans la direction radiale (la dimension du volume de mesure dans cette direction étant notée Dy et la dimension du volume de mesure dans la direction x orthogonale à y étant notée Dy).\nDans le cas d'une plaquette opaque à la longueur d'onde de la source lumineuse, la dimension Dz ne revêt pas d'importance particulière, la surface à inspecter devant simplement passer à l'intérieur du volume de mesure.\nDans le cas d'une plaquette au moins partiellement transparente à la longueur d'onde de la source lumineuse, il est préférable de réduire autant que possible la dimension Dz afin d'avoir une résolution suffisante sur la position des éventuels défauts détectés par rapport à l'épaisseur de la plaquette. D'une manière générale, on fait en sorte que la dimension Dz soit inférieure au quart de l'épaisseur de la plaquette à inspecter. En effet, au-delà de ce ratio, de gros défauts sur la face arrière d'une plaquette transparente peuvent laisser une forte signature qui engendre des fausses détections.\nLes dimensions Dx et Dy sont chacune choisies entre 5 et 100 μηη, de préférence entre 15 et 50 μηη. La borne inférieure égale à 5 pm est liée au fait qu'en-dessous de cette dimension, la durée d'inspection serait excessivement longue pour un procédé mis en œuvre industriellement. La borne supérieure de 100 μηη est définie pour garder un flux le plus grand possible, permettre une localisation précise des défauts à la surface de la plaquette et enfin pour diminuer la probabilité de considérer comme un seul défaut deux défauts qui viendraient à passer dans le volume de mesure simultanément.\nA titre purement indicatif, le volume de mesure peut présenter des dimensions de 50 * 50μηι dans le plan (x, y), ou encore de 20 * 20μη-ι. Les dimensions du volume de mesure ne sont pas nécessairement égales dans les directions x et y.\nPour obtenir un volume de mesure aussi petit que dans la présente invention, il est généralement nécessaire que la largeur des faisceaux au niveau du volume de mesure corresponde au double du rayon minimal desdits faisceaux (« waist » selon la terminologie anglo-saxonne, notée usuellement W 0 ).\nAvec D le diamètre de ces faisceaux, F la focale de la lentille L1 et λ la longueur d'onde de la source lumineuse, l'optique gaussienne permet d'obtenir la relation suivante :\n4 - F - A\n2 * W 0 = —\nπ ■ D\nOn peut ainsi définir la valeur de waist convenable en choisissant avantageusement la largeur des faisceaux en entrée, leur espacement et la focale de la lentille de sortie.\nPar ailleurs, alors que le système décrit dans le document WO 02/39099 ne concerne que des plaquettes opaques à la longueur d'onde du faisceau, la présente invention permet d'inspecter également des substrats transparents. Dans ce cas, on cherche en outre à faire une détection qui soit la plus restreinte selon l'épaisseur du substrat, direction appelée ci-après Z ou profondeur de champ. On suppose un volume de mesure créé par deux faisceaux issus de la même source, qui ont un waist de taille W 0 , et qui sont incidents avec un demi-angle a.\nSauf indication contraires, les dimensions W 0 , D y , D x , D z sont exprimées en largeur à\n1/e 2 de la puissance maximale.\nD x = 2 * W 0\n2 * W 0\ny cos a)\n— = tan(a)\nDans le cas d'un substrat transparent, d'une épaisseur de 300 μηι, on cherche à avoir par exemple une profondeur de champ Dz de l'ordre de 50 μηι, avec des dimensions Dx et Dy de l'ordre de 20 μηη. On recherche donc un rapport Dx/Dz = 0,4 soit un angle a de 21 °.\nDans le cas où l'on recherche une détection sensible sur substrat transparent, on cherche à réduire autant que possible W 0 pour augmenter le flux incident : cela se fait en augmentant le diamètre du laser en amont de la lentille L1 .\nLa diminution de Dz peut être obtenue en augmentant a.\nL'invention permet donc de déterminer les paramètres pour créer un volume de mesure optimal pour la détection de petits défauts sur un substrat, y compris transparent, en faisant varier uniquement trois paramètres : la taille des faisceaux en entrée, la séparation de ces faisceaux en amont de la lentille L1 et la focale de cette lentille L1.\nRevenant à la figure 2, le système d'inspection comprend par ailleurs un dispositif 40 de collecte de la lumière diffusée par la région de la plaquette traversant le volume de mesure.\nSelon un mode de réalisation, ce dispositif 40 peut comprendre une fibre optique de préférence de grand diamètre de cœur (c'est-à-dire typiquement entre 50 et 2000 μηη de diamètre), dont l'entrée est agencée à la focale d'un miroir ellipsoïdal ou d'une lentille d'un système de collection composé de lentilles et dont la sortie est couplée à un dispositif 50 d'acquisition de la lumière collectée pour émettre un signal électrique représentant la variation de l'intensité lumineuse de la lumière collectée en fonction du temps. Ledit dispositif 50 comprend typiquement un photodétecteur.\nSelon un mode de réalisation avantageux, le dispositif 40 peut être inclus dans le dispositif 30 de génération du volume de mesure.\nAinsi, comme illustré sur la figure 3, la lentille L1 permettant de former le volume de mesure est également utilisée pour collecter la lumière diffusée par les défauts traversant le volume de mesure (chemin optique représenté par des hachures). Une seconde lentille L2 agencée en aval de la lentille L1 sur le trajet de la lumière collectée, entre les faisceaux incidents, permet de diriger la lumière collectée vers une fibre optique ou un dispositif d'acquisition (non représenté sur la figure 3). L'angle solide de collection β est alors généralement limité par l'angle des faisceaux incidents.\nPlus l'angle a est grand, plus l'angle solide β est grand et la quantité de lumière collectée est importante.\nD'une manière générale, on choisit un angle solide supérieur à 0,1 % de la demi- sphère (ou 0,0062 stéradians). En effet, en-dessous de cette valeur, la quantité de lumière collectée devient très faible et nécessite une durée d'acquisition incompatible avec une mise en œuvre industrielle du procédé d'inspection.\nSelon une variante de réalisation, illustrée à la figure 5, il est avantageux de combiner le canal de collection C1 agencé entre les faisceaux incidents décrit plus haut avec un second canal de collection C2 utilisant un miroir de collection M agencé de sorte à collecter la lumière présentant un angle de diffusion élevé par rapport à la normale à la surface S de la plaquette inspectée.. Cette mise en œuvre permet d'une part de collecter plus de lumière, et d'autre part d'obtenir plus d'information sur les différents défauts, chaque canal permettant d'obtenir des informations différentes selon les défauts.\nEnfin, le système d'inspection 1 comprend un dispositif 60 de traitement (cf. figure 2) configuré pour détecter, dans ledit signal, une composante fréquentielle correspondant à la fréquence Doppler.\nLe dispositif de traitement 60 est avantageusement couplé à une interface (non illustrée) permettant à un utilisateur d'accéder aux résultats de l'inspection afin notamment de les visualiser, de les enregistrer et/ou de les imprimer.\nPour inspecter une plaquette, on met en place ladite plaquette 2 sur le support 10 et l'on entraîne le support en rotation à une vitesse angulaire ω contrôlée. Grâce aux encodeurs présents sur le support 10, on connaît à chaque instant la position angulaire d'un point donné de la plaquette. La vitesse de rotation de la plaquette est typiquement de l'ordre de 5000 tours/min.\nDans le système d'inspection 1 , le dispositif interférométrique 30 et le dispositif de collecte 40 sont agencés en regard d'une surface principale de la plaquette 2, sur un bras (non illustré) adapté pour déplacer lesdits dispositifs 30, 40 dans une direction radiale. En revanche, la source lumineuse 20 ainsi que les dispositifs d'acquisition et de traitement 50, 60 sont déportés et reliés aux dispositifs 30, 40 par des fibres optiques (non représentées). La partie mobile du système d'inspection présente donc un poids et un encombrement limités qui facilitent son déplacement, tandis que la source lumineuse, et les dispositifs d'acquisition et de traitement, qui sont encombrants, lourds et difficilement embarquables, restent immobiles. Cela permet également de réduire les longueurs de câbles de transport du signal électrique, ce qui réduit la sensibilité aux bruits électroniques environnants. Ainsi, compte tenu de la rotation de la plaquette, on peut balayer successivement l'ensemble de la surface de la plaquette avec le volume de mesure en translatant radialement le dispositif interférométrique ainsi que le dispositif de collecte de la lumière diffusée.\nOn fait en sorte que les franges d'interférences s'étendent transversalement à la trajectoire de rotation de la plaquette, de sorte qu'un point de la surface de la plaquette traverse au moins une frange, de préférence plusieurs franges du volume de mesure. Dans le présent texte, le terme « transversalement » signifie donc que les franges sont perpendiculaires ou inclinées d'un angle non nul par rapport à cette trajectoire.\nLe présent paragraphe présente les résultats en termes de sensibilité pour un volume de mesure de 40 μηη par 2 mm (noté ci-après VM1 ) comme dans le document WO 02/39099 et pour un volume de mesure de 40 μηη par 40 μηη (noté ci-après VM2), correspondant à un mode de réalisation de la présente invention. La dimension du volume de mesure dans la direction perpendiculaire à la surface de la plaquette n'a pas d'importance dans le présent exemple.\nLes conditions d'acquisition (communes aux deux configurations du volume de mesure) sont les suivantes.\nLa source lumineuse est un laser présentant une longueur d'onde de 488 nm et une puissance de 100 mW.\nLa plaquette est un substrat de silicium de 100 mm de diamètre.\nL'isolation dark field (rapport du fond lumineux sur la puissance d'entrée, le fond lumineux correspondant à de la pollution lumineuse collectée) est de 90 dB.\nLa durée d'acquisition est de 60 s.\nLe nombre de points de mesure par tour est de 1000 (résolution tangentielle).\nLe défaut à détecter présente un diamètre de 100 nm, ce qui correspond à une section efficace totale, à 488 nm, de 3,5x10 "16 m 2 selon la théorie de Mie, utilisant une particule sphérique d'indice 1 ,58 dans l'air. Ce modèle donne un bon ordre de grandeur, en accord avec les mesures effectuées par les inventeurs.\nLa mesure choisie pour caractériser la sensibilité d'un système dark field est le rapport entre l'énergie lumineuse de signal et l'énergie lumineuse de fond.\nPour les calculs suivants, on fait l'hypothèse que la puissance de fond lumineux est uniquement liée à la qualité de la chaîne optique de collection et qu'elle est proportionnelle à la puissance lumineuse d'entrée.\nLors de la détection d'un défaut, le rapport signal sur bruit photonique (SNR-ph) - lié à la statistique de détection - est proportionnel au rapport signal/Vfond, qui dépend donc de la puissance lumineuse d'entrée. On s'intéresse dans la suite de l'exposé au rapport signal/fond, car c'est un indicateur indépendant de la puissance lumineuse d'entrée.\nOn calcule le rapport signal sur fond lumineux d'un défaut de 100 nm passant dans chacun des deux volumes de mesures VM1 , VM2.\nLa géométrie de ces deux volumes de mesure, ainsi que les paramètres communs d'acquisition décrits plus haut implique un ensemble de valeurs de puissance et d'énergie par point de mesure qui sont résumés ci-dessous :\nOn remarque dans ces calculs que l'énergie de signal est égale dans les deux cas, ce qui provient du fait que les deux phénomènes (passage de longue durée dans un volume de mesure (VM1 ) au flux lumineux faible / passage de courte durée dans un volume de mesure (VM2) au flux lumineux élevé) se compensent.\nL'avantage de la présente invention est centré sur l'énergie de fond lumineux collectée dans les deux cas. La puissance de fond lumineux dépend uniquement de la puissance envoyée et de la collection utilisée, qui sont les mêmes dans les deux cas. Cependant, le volume de mesure VM1 intègre à chaque point de mesure beaucoup plus de photons de fond lumineux que le volume de mesure VM2, d'où un rapport signal sur fond lumineux bien plus avantageux dans le cas du volume de mesure VM2.\nUn calcul simple permet de déduire que le gain en rapport signal/fond est inversement égal au rapport des aires de chacun des volumes de mesure. Dans le cas décrit ici, (Dx * Dy) V M2/(Dx * Dy) V Mi = 1/50, ce qui correspond bien à l'inverse du gain de signal/fond.\nDistinction de particules sur des substrats présentant une micro-rugosité de surface Il est à noter que la réduction de taille du volume de mesure est également un grand avantage dans le cas de recherche de petites particules en présence de micro-rugosité du substrat qui génère une diffusion de la lumière (« Haze » dans sa dénomination anglo- saxonne). En effet, tout substrat présente une certaine micro-rugosité qui dépend de la qualité de son polissage. Cette micro-rugosité est sensiblement homogène sur la surface et génère donc une diffusion sensiblement uniforme. En outre, contrairement aux éventuelles particules qui peuvent être présentes à la surface, toute la surface du substrat est impactée par cette micro-rugosité.\nEn général, cette diffusion (ou haze) est mesuré en parties par million de la puissance lumineuse incidente sur le substrat (ou PPM).\nLa puissance de haze mesurée ne dépend pas de la surface du volume de mesure projeté sur le substrat mais uniquement de la puissance de la source lumineuse et de la rugosité du substrat. Ainsi, pour une puissance lumineuse de 100mW et une diffusion due à la micro-rugosité de 1 PPM, la puissance de Haze reçue sera de :\nDans ce cas, on trouve dans les deux configurations VM1 et VM2 les résultats suivants :\nOn remarque ainsi que dans le cas du volume de mesure VM1 , la particule de 100nm est noyée dans le haze car sa puissance diffusée est plus de vingt fois plus faible que la puissance de haze, alors que dans le cas du volume de mesure VM2 de l'invention, la particule est bien visible dans le haze car sa puissance diffusée correspond à plus du double de la puissance du haze. Ainsi, si on réduit l'aire du volume de mesure projeté sur la surface à inspecter d'un facteur N, le rapport Signal / Haze est augmenté de ce même facteur N. Augmentation de la résolution radiale\nLa résolution d'un système dark field est en général déterminée par la taille du faisceau scannant la surface à inspecter.\nCependant, dans le document WO 02/39099, il est proposé un moyen d'avoir une meilleure résolution à l'aide de la variation de fréquence Doppler des défauts passant dans le volume de mesure. En effet, un défaut plus proche du centre de rotation du substrat a une vitesse linéaire plus faible qu'un défaut loin du centre de rotation du substrat. En mesurant cette fréquence Doppler, on pourrait ainsi situer avec plus de précision le défaut que la taille du faisceau.\nToutefois, même si cette théorie se vérifie, on démontre ci-après qu'en considérant les erreurs de mesure, ce gain de résolution reste très faible et ne permet en tout état de cause pas d'atteindre la résolution radiale obtenue avec la présente invention.\nEn effet, considérant un volume de mesure de taille 40μη"ΐ * 2ηΊΓΤΐ avec son grand axe s'étendant de manière radiale comme décrit dans le document WO 02/39099, et un interfrange de 1 μηη, on obtient alors un volume de mesure avec 40 franges.\nOn appelle l la largeur de la bouffée en microns, δ l'interfrange, V t la vitesse de passage du défaut dans le volume de mesure, R le rayon scanné, ω la vitesse angulaire de rotation, f d la fréquence Doppler du défaut détecté\nL'incertitude avec laquelle on peut déterminer une fréquence est liée à la largeur du pic spectrale de ladite fréquence. Or, dans le cas d'une bouffée de durée At, la largeur spectrale du pic est environ de Af =\nOn cherche donc à calculer Af en fonction du nombre de frange :\n1 V t S - f d\nAf =— =— =——\n' At l l\nOn ne peut ainsi pas déterminer la fréquence Doppler f d avec une meilleure précision que Af = ^ .\nIl est connu que la fréquence Doppler dans un tel système est liée à la position radiale, à l'interfrange et à la vitesse angulaire de rotation par la relation suivante :\nAinsi, on peut écrire la relation sur les incertitudes suivantes :\nAf d = - · AR\nLes valeurs ω et R étant ici constantes.\nOn obtient donc pour une incertitude Af d donnée une incertitude sur la position radiale qui est\nAR = - - Af d\nAinsi on peut conclure par : Cette relation permet ainsi de lier l'incertitude sur la position radiale déterminée à l'aide de la fréquence Doppler au rayon scanné, à l'interfrange et à la largeur du volume de mesure. Cette incertitude i, qui est dans ce cas égale à la résolution radiale, est tracée sur la figure 6 en fonction du rayon R pour les valeurs données précédemment.\nOn observe dans cet exemple que le volume de mesure présenté dans le document\nWO 02/39099 que la résolution radiale diminue très vite avec le rayon scanné, avant d'être finalement limitée par la taille du volume de mesure lui-même (plateau à partir de 80mm de rayon scanné). Par exemple, si on veut une résolution radiale de 50μη"ΐ, on est limité à un rayon de scan de 2mm. Pour avoir une résolution radiale de 50μηι sur une plaquette de 300mm de rayon avec un interfrange de 1 μηη, on doit alors avoir un volume de mesure de 333μηι de large, ce qui réduit encore le flux lumineux (cf. considérations précédentes sur la sensibilité).\nAu contraire, un des avantages de la présente invention est que la résolution radiale est définie à minima par la taille du volume de mesure. Pour compenser la plus petite taille du volume de mesure, le procédé selon l'invention nécessite une rotation plus rapide de la plaquette que dans le document WO 02/39099 pour conserver une même durée d'inspection. Toutefois, la vitesse nécessaire est aisément atteinte, des dispositifs de rotation rapide (« spindle » selon la terminologie anglo-saxonne) permettant de faire tourner des plaquettes jusqu'à 300mm de diamètre à des vitesses de plusieurs milliers de tours par minute. En outre, des photodétecteurs et des cartes d'acquisition de données fonctionnant à des fréquences compatibles avec ces vitesses et les fréquences Doppler qui en découlent sont également disponibles.\nWO 2009/1 12704\nPrevious Patent: METHOD FOR DETERMINING THE STEERING ANGLE IN A STEERING SYSTEM HAVING AN ELECTRIC SERVOMOTOR\nNext Patent: METHOD FOR PRODUCING AN ULTRASOUND SENSOR, AND ULTRASOUND SENSOR


le 05/10/2017 15h13 - Lecture en 8 min\nDès sa naissance jusqu'à l'âge où bébé devient propre, les couches restent indispensables. Jetables, lavables, âge de bébé, taille et corpulence... mais aussi le budget ! Autant de facteurs qui méritent d'être pris en compte pour choisir les couches de son bébé. Mais le confort de bébé prime avant tout. Laquelle choisir? On va vous aider.\nLe poids reste un paramètre déterminant pour que bébé soit à l'aise dans sa couche. Voici quelques repères qui pourront vous aider à mieux voir celles qui conviennent à votre enfant. Les couches sont généralement catégorisées de la taille 1 à la taille 5, et chaque catégorie correspondà une fourchette de poids de votre enfant.\n- la taille 1 peut être adaptée aux enfants de 2 à 5 Kg\n- la taille 2 correspond aux enfants de 3 à 6 Kg\n- la taille 3 est adaptéeaux enfants de 4 à 9 Kg\n- la taille 4 est faite pour les enfants de 7 à 18 Kg. Il existe une variante, la taille 4+ adaptée aux enfants compris entre 9 à 20 Kg.\n- la taille 5 est plutôt adaptée aux enfants de 11 à 25 Kg.\nCette classification est donnée à titre de référence; tenez compte de la corpulence de votre enfant qui varie selon son âge.\nQuel type de couche?\nCouche jetable, couche lavable, couche classique... on s'y perd !\nSi les couches classiques sont adaptées pour tout âge et ont l'avantage d'être moins cher, la couche-maillot reste plus adapté pour barboter en piscine.\nLes couches lavables et jetables écologiques font aujourd'hui parler d'elles et viennent renforcer la liste des séries de couches sur le marché.\nLes couches lavables, faites de produits textiles, peuvent être lavées et ré-utilisées. Elle sont généralement vendues dans les magasins de vêtements et les magasins bio. Les couches lavables font concurrence actuellement avec les couches jetables écologiques, qui affichent plus de composants naturels et moins de produits chimiques, mais restent plus chers que les couches jetables normales. Car on est d'accord, les couches lavables respectent mieux l'environnement et fontmoins de déchets.\nCôté budget, les couches lavables restent plus chères au début (il faut en acheter plusieurs), mais ressortent plus rentables à long terme car on peut les réutiliser.\nCôté pratique des couches lavables classiques,\nVoir notre article Couches lavables ou couches jetables?\nCouches jetables: de quoi sont-elles composées?\nLes couches ne sont pas uniquementfaites de tissus. Elles contiennent des produits qui ont le pouvoir d'absorber l'humidité et le liquide.\nLes couches pour bébé sont faites généralement de 3 surfaces. La surface la plus externe qui est au contact de la peau de bébé, est faite de film imperméable à base de propylène. La couche suivante est faite de fine pellicule de fibres de polyester, qui va absorber l'humidité et la transférer vers la surface la plus interne de la couche.\nLa surface la plus interne constitue la zone absorbante; ellecontient des fibres de cellulose qui renferment des polymères absorbants sous forme de poudre de polyacrylate de sodium réticulé. Cette substance contient plusieurs atomes d'oxygène, qui, grâce à leur affinité aux molécules d'eau, vont absorber l'humidité. L'eau va passer facilement vers cette partie de la couchecar attiréepar les polymères absorbants suivant le phénomène d'osmose.\nLorsque l'eau est emprisonnéeau niveau de cette couche, les polyacrylates de sodium réticulés se lient entre eux; la substance se déplie, se gonfle pour retenir l'humidité. Selon les chercheurs, l'eau au contact de ces substances se transforme en gel, qui devient souple et solide et cela empêche alors de mouiller les fesses de bébé.\nToutefois, si cela est testé pour l'eau, avec les urines, le processus d'absorption est moins efficace. Les urines contiennent beaucoup d'ions qui diminuent les capacités d'absorptionde ces substances. Cette partie de la couche arrive à absorber jusqu'à 400 ml d'urines.\nCouches lavables classiques: comment ça marche?\nLes couches lavables classiques sont faites de coton (en flanelle ou en éponge) et parfois de matières synthétiques (chanvre ou polyester). L'intérieur de la couche est munie d'une doublure faite de polaire ou de suédine, au contact de la peau de bébé et qui maintient à sec ses fesses.\nLa couche lavable classique nécessite une culotte de protection afin de ne pas mouiller les vêtements extérieurs.\nLes couches lavables se présentent sous différentes formes:\n- les couchées carrées se plient et sont munies d'attaches\n- les couches à nouer avec des ficelles sont moins chères et plus pratiques pour les bébés qui bougent peu. Par contre, les changes nécessitent beaucoup plus de temps pour nouer les ficelles\n- les couches classiques et d'ailleursles plus pratiques sont les couches en forme de sablier, munies d'élastiques au niveau des cuisses et de fermeture. Choisissez le velcro qui est plus simple, peut être ajusté, et ne peut être défait. Mais attention, fermez-le pendant le lavage pour ne pas abîmer le linge. Seul hic, le velcro peut s'user rapidement et peut rendre la couche plus rigide.\nLa plupart des couches lavables classiques sont de taille unique et sont faits pour être portés par l'enfant juqu'à ce qu'il soit propre. Mais sur le plan pratique, cela est parfois impossible car en lavant plusieurs fois, les couches lavables peuvent facilement s'user; elles restent également trop petites pour les enfants plus corpulents et de grande taille malgré qu'on peut les ajuster.\nComment choisir les culottes de protection?\nLa culotte de protection doit protéger les vêtements, étant donné que les couches lavables ne sont généralement pas étanches. Elle peut être faite de polaire, de matières synthétiques, de laine ou de nylon.\nVous n'aurez pas besoin de lachanger systématiquement, ou à la limite, rincez à l'eau claire, laissez sécher (elle se sèche très vite)et réutilisez-la ensuite. En général, la couche culotte n'est pas mouillée, vous pourriez la laver tous les deux ou trois jours.\nCôté praticité sur les changes, les culottes fermées au velcro restent plus simples à manier. Les culottes à enfiler pourraient souiller la table à langer car il vous faudra encore déplier, manipuler bébés et laisser la couche sale au contact de la table à langer. Mais l'avantage, ce format est moins cher.\nVeillez toutefois à bien ajuster la culotte protectrice au ventre, au dos et aux cuissespour ne pas mouiller les vêtements extérieurs. Choisissez lemodèlequi s'adaptemieux à la morphologie de votre enfant.\nLacouchetout en un\nC'est un modèlede couche formépar l'assemblage de couche classique et d'une culotte de protection. Vous la mettrez en une seule fois, sans avoir à manier une à une couche et culotte de protection.\nCemodèlede couche est plus lentà sécher, du fait de son épaisseur. Le problème d'ajustement se pose également à cause de cette épaisseur, qui doit se faire dans son ensemble. Toujours est-il qu'il est conseillé de tester d'abord et de chosir le modèle le mieux adapté à la morphologie de votre enfant.\nPar ailleurs, ce modèle tout en un est plus rigide que le modèle couche classique séparée de sa culotte protectrice. Cependant, optez plutôt pour ce modèle si vous êtes en déplacement car le change va rester pratique.\nPensez également à changez régulièrement votre enfant, car la capacité d'absorption est plus limitée que le modèle séparé.\nLa couche tout en a revient plus chère.\nLa couche à poche est un modèle de culotte imperméable,munie d'une poche par derrière, dans laquelle vous allez glisser un insert, la partie absorbante de la couche que vous pourriez changer régulièrement. Les inserts sont des tissus pliés mais peu épais, et qui sèchent rapidement. Vous pouvez régler ainsi la capacité d'absorption selon les besoins, et en mettre plus durant la nuit afin de maintenir les fesses de bébé à sec.\nLes inserts sont des tissus en coton, en matières synthétiques ou en chanvre ou même avecdes tissus rassemblés faits maison.\nSeulement, vous aurez besoin de plus d'un insert pour une couche, alors que le prix reste élevé. Les problèmes d'ajustement restent aussi un facteur limitant dans son utilisation et de plus, le fait de glisser et d'enlever les inserts dans la couche demande beaucoup plus de temps.\nSi votre enfant va en crèche ou que vous ne serez pas assez disponible pour le changer, ce modèle de couche est plus pratique et il vous suffit de glisser quelques inserts qui pourraient tenir plus longtemps. Par contre, à la maison, le système classique revient moins cher.\nCe système n'est pas non plus adapté aux enfants plus grands qui apprennent à faire pipi, car vous allez devoir retirer régulièrement l'insert de la poche; alors que retiré sec, l'insert ne va plusêtre ajusté ou peut se transformer en boule.\nComment trouver des couches pour pas cher?\nLa question ultime pour tous les parents dont l'enfant est encore en âge de porter des couches. Quelqus règles s'imposent, mais cette fois, il va falloir calculer car on peut dire que ça va être encore long avant que votre enfant abandonne ses couches.\nComparez le prix du paquet et le prix par couche\nUn calcul obligatoire, sinon vous allez devoir acheter des couches plus chères sans même vous en rendre compte. Dans les magasins, sur internet ou chez les revendeurs, ayez le réflexe de faire le calcul. Pour cela, il vous suffit de diviser le prix du paquet par le nombre de couches que contient le paquet. Cela vous ramènera à connaître le prix d'une couche.\nCherchez les promos et faites le plein !\nDes couches en promos, oui, certains magasins ou supermarchés le font régulièrement. Seulement, n'attendez pas de n'avoir plus de stock pour le faire, car sinon, vous n'aurez pas le temps de comparer les prix. Lorsque vous tombez sur des couches avec des prix vraiment promotionnels, n'hésitez pas à faire le stock car cela en vaut la peine. Vous allez devoir "investir" sur les couches tôt ou tard, pourquoi pas au bon moment ! Mais attention, tenir compte de la taille de vos couches et de l'évolution de bébé. Ce serait bien dommage de faire un stock de couches qui ne serviront que quelques semaines.\nPar ailleurs, les gros paquets sont les plus souvent moins chers, si vous ramenez toujours le prix du paquet au prix d'une couche.\nRegardez régulièrement chez Carrefour, Leclerc...\nJetez un coup d'oeil sur les sites: Amazon, ebay\nN'hésitez pas non plus à regarder les sites qui vendent souvent des matériels de puériculture et de produits pour bébé.\nCertains parents y revendent des paquets de couches entamés, qu'ils proposent à des prix concurrentiels.


Amazon se positionne pour devenir un mastodonte du monde de la mode - Geeko\nLe groupe de Seattle a déjà révolutionné la distribution avec son site de commerce sur internet et s’est aussi attaqué à la télévision en ligne, dont il est aujourd’hui l’un des mastodontes, ainsi que très récemment au fret aérien.\nMais les mouvements opérés ces derniers mois témoignent d’une accélération marquée.\nIl y a la partie émergée de l’iceberg, symbolisée par le lancement, début mars, d’une émission quotidienne d’une demi-heure sur la mode diffusée gratuitement sur internet, le premier programme en direct jamais proposé par Amazon.\nLe groupe lancé par l’Américain Jeff Bezos s’est aussi donné de la visibilité en devenant le partenaire principal de la toute jeune semaine de la mode masculine de New York, qui a vécu en janvier sa deuxième saison.\nAmazon a également repris la production et la diffusion de l’émission “The Fashion Fund”, compétition entre jeunes créateurs sponsorisée par le syndicat américain de la mode (CFDA) qui organise la Fashion Week de New York.\nLes noms Lark & Ro, North Eleven ou Franklin Tailored ont été déposés ces derniers mois par Amazon, selon les données accessibles sur le site de l’Office de l’Union européenne pour la propriété intellectuelle, consultées par l’AFP.\nAprès s’être cantonné à distribuer les vêtements conçus, fabriqués et vendus par d’autres, le géant qui a passé en 2015 la barre des 100 milliards de dollars de chiffre d’affaires développe ses propres lignes.\nContacté par l’AFP à ce sujet, Amazon s’est refusé à tout commentaire et une porte-parole d’Amazon Fashion a indiqué que le groupe n’était pas encore “prêt” à “communiquer sur sa stratégie globale” en matière de mode.\n“Amazon a fait du vêtement une priorité”, ont considéré les analystes de KeyBanc Capital Markets dans une note publiée fin février après avoir sondé le milieu lors du salon professionnel MAGIC à Las Vegas.\n– Large éventail de choix –\nDevenu designer de fait, Amazon est aussi “vu comme une opportunité stratégique et un partenaire” clé pour les marques extérieures, selon ces analystes, certains vendeurs considérant que le site “peut devenir un de leurs trois principaux clients à moyen terme”.\nCôté client, la sauce prend. “Il y a cette capacité d’avoir le monde au bout de ses doigts en un seul endroit”, résume Marshal Cohen, analyste au sein du cabinet de conseil NPD Group.\nAnimal à part dans le monde du commerce en ligne, Amazon est en passe de réussir dans la mode et le prêt-à-porter ce qu’il a réalisé pour les livres ou les films: devenir incontournable.\n“Les sites de marques ou les portails de distribution traditionnels ont une offre limitée, tandis que celle d’Amazon donne le tournis”, insiste Marshal Cohen.\n“Cela donne le sentiment d’avoir plus de chances de trouver le produit que vous voulez”, avec un éventail de tailles, de marques, de styles et de prix inégalé.\nPour lui, Amazon n’a pas vocation à s’imposer seulement dans le prêt-à-porter bon marché de masse, mais peut légitimement aspirer à une position significative dans la confection plus haut de gamme.\nDès juillet 2015, les analystes de Cowen voyaient le groupe devenir la première enseigne de vêtements aux Etats-Unis en 2017, devant les Wal-Mart ou Macy’s.\nIls évoquent 27,7 milliards de dollars de chiffre d’affaires l’an prochain et 52,0 milliards en 2020, rien qu’aux Etats-Unis.\nSi l’expérience de la librairie physique inaugurée fin 2015 à Seattle se révélait concluante, Amazon pourrait même aller les chercher sur leur terrain, en ouvrant des magasins de prêt-à-porter, imagine Marshal Cohen.


Quand on peut pas de l'extérieur\nSolutions globales intelligentes\nFaçades classées monuments historiques, appartements en copropriété sélectionnés, alignements d’immeubles à respecter ou constructions limitrophes requièrent des solutions globales intelligentes depuis l’intérieur. Les systèmes d’isolation intérieure de Knauf – pour une synergie parfaite.\nÉvaluation de murs existants\nKnauf propose différents systèmes d'isolation intérieure qui s'adaptent parfaitement entre eux – depuis la plaque isolante jusqu'à l'enduit de finition. Ils assurent un confort intérieur et augmentent durablement la valeur du bien immobilier.\nExtrêmement variable, le parement Knauf est mis en œuvre indépendamment du support et de la texture. L'avantage dans la construction : le complexe correspond à un système éprouvé tandis que l'épaisseur et la conductivité thermique de l'isolant peuvent être librement définies.\nOutre une protection thermique parfaite, le parement Knauf assure plus de sécurité grâce à l'optimisation de la protection au feu, mais aussi de confort par l'amélioration de la protection acoustique. De plus, de nombreuses options d'équipement permettent de compléter les différentes plaques de plâtre Knauf.\nLe parement Knauf se compose d'une ossature secondaire métallique variable à placer devant le mur existant.\nL'isolation de l'espace vide peut être effectuée avec de la laine minérale en différentes épaisseurs selon les exigences. En option, un frein-vapeur – ouvert ou fermé à la diffusion – peut être rapporté. Le parement est effectué au moyen de plaques de plâtre Knauf.\nLe parement Knauf convient tout particulièrement aux supports faiblement porteurs, très irréguliers, absorbants et non adhérants. Selon les cas, ce système variable peut être complété par des plaques hydrofuges ou coupe-feu.\nLa construction permet de réaliser une surface d'installation prêt à recevoir des prises et des interrupteurs, ou bien des bâti-supports pour éléments sanitaires. Le parement Knauf est un système global qui comprend des plaques d'embrasure et des équerres isolantes pour éviter la formation de ponts thermiques.


KIBUNGO: DES JEUNES ALLEMANDS À LA CONSTRUCTION DES MAISONS POUR RAPATRIÉS DE TANZANIE – CARITAS RWANDA\nCette participation a été initiée par Mgr Peter Klasvogt de l’archidiocèse de Paderborn et l’Abbé Emmanuel Rubagumya, Secrétaire Général Adjoint de la Caritas Rwanda.\nPendant les trois semaines, les jeunes Allemands ont activement participé aux travaux de réhabilitation d’une adduction d’eau de 2,5 km menant au site de Gashobora ainsi qu’à divers travaux de construction des maisons pour ces rapatriés qui, depuis leur rapatriement en juillet 2013, vivent dans des abris précaires en sheetings. Ces travaux consistaient notamment à participer activement aux côtés des bénéficiaires dans le creusement des pierres de fondation, la fabrication des briques adobes et le transport des pierres et des briques, et enfin l’élévation des murs et le placement de la charpente et de la toiture. La population bénéficiaire et leurs voisins ont beaucoup apprécié cet esprit d’abnégation qui a contribué à rehausser leurs sentiments d’espérance.\nAu terme de cette œuvre de charité, une cérémonie d’adieu et de remerciement, pleine d’émotion, a été organisée le vendredi 12 septembre sur le site même de Gashongoro. Y ont participé l’Abbé Emmanuel Rubagumya, Secrétaire Général Adjoint de la Caritas Rwanda, l’Abbé Oscar Kagimbura, Directeur de la Caritas diocésaine de Kibungo, les autorités locales, les rapatriés bénéficiaires et leurs voisins. Toutes les interventions faites à cette occasion ont loué cette solidarité active manifestée par les jeunes Allemands qui ont, non seulement mis la main dans la pâte de boue pour la fabrication des briques, transporté les pierres et les briques sur leur tête, mais aussi partagé la vie sociale avec les bénéficiaires et la population locale.\nS’exprimant à cette occasion, un jeune Allemand s’est félicité non seulement de l’hospitalité dont ils ont bénéficié, mais aussi du fait qu’ils repartent avec la joie d’avoir participé à cette œuvre de redonner une meilleure vie à ces personnes rapatriées contre leur gré et dans le dénuement.\nRappelons qu’en juillet 2013, environ 15 000 Rwandais ont été rapatriés de Tanzanie où plusieurs été établis de longue date. Dans la suite, le gouvernement rwandais les a répartis dans tous les districts du pays, dont celui de Kirehe qui a accueilli 142 familles de 399 individus. En plus de l’assistance ponctuelle en vivres et autres besoins élémentaires dont ils bénéficient de la part des Caritas paroissiales et de la population locale, la Caritas diocésaine de Kibungo s’est pour sa part engagée pour la construction de 10 maisons. C’est à cette œuvre qu’ont participé les jeunes étudiants Allemands.


ENTREPRISES ET DROIT DU TRAVAIL | BENIHOUD AVOCAT\nFRANCE: LE NOUVEAU TITRE DE SÉJOUR « PASSEPORT TALENT »\nLa loi du 7 mars 2016 a modifié en profondeur le droit des étrangers. L’une des dispositions centrales de cette loi est la création de la carte de séjour « passeport talent » qui a pour objectif de d’attirer et de simplifier les démarches des personnes hautement qualifiées et des talents internationaux.\nCette carte de séjour, qui est d’une durée de 4 ans en principe, est délivrée dès la première admission sur le territoire français mais peut également être délivrée à des étrangers déjà présents sur le territoire national. Pour les salariés, la durée du titre de séjour correspond à celle du contrat de travail qui en justifie la délivrance. Pour les autres cas (comme par exemple les créateurs d’entreprise, les artistes-interprètes etc.), la durée sera en principe de 4 ans sauf si l’Administration a des réserves sur la qualité du projet, et dans ce cas, « un titre de deux ans pourra être délivré pour éviter un refus de titre de séjour et vérifier la mise en oeuvre effective du projet lors du renouvellement ». (Circulaire du 2 novembre 2016)\nPour les salariés, l’avantage du titre de séjour « passeport talent » est de ne pas avoir à solliciter d’autorisation de travail préalable auprès des services de main d’oeuvre étrangère de la DIRECCTE. En outre, les membres de la famille du titulaire de ce titre de séjour pourront bénéficier d’une carte de séjour spécifique d’une durée égale à celle de leur conjoint (ou parents) avec un droit au travail.\nLes différents cas de délivrance du titre de séjour « passeport talent »:\nCette carte de séjour concerne 10 catégories d’individus :


Nantes : la justice veut faire taire le fantasme de la rumeur sur les réseaux sociaux\nLa justice qui communique sur une affaire de pédophilie qui n'existe pas en dehors d'une rumeur sur les réseaux sociaux, voilà qui est nouveau. Si les faits en question ne sont pas avérés, les menaces des parents d'élèves crédules sur des personnels enseignants sont bien réelles.\nPublié le 16/12/2020 à 18h38 • Mis à jour le 16/12/2020 à 18h54\nLe 16 octobre dernier le professeur Samuel Paty a été assassiné. Tout avait commencé sur les réseaux sociaux. Alors, pour que pareil drame ne se reproduise pas, le procureur de la République de Nantes s'est ouvert aux journalistes, d'une affaire supposée de pédophilie dans une école nantaise. Affaire qui ne peut-être démontrée.\nDes faits indémontrables\nLes résultats obtenus par les enquêteurs de la brigade de la protection de la famille dédouane la personne mise en cause. Tout comme la direction de l'établissement, accusée de "couvrir" les faits.\n"Les témoignages d'enfants de 3 et 4 ans qui, par ailleurs à cet âge, ne sont pas capables de se situer dans le temps et dans l'espace, ne correspondent pas à celui de la maman. Et ceux des autres parents sont infondés".\n"Les faits, tels que rapportés par la mère des enfants de 3 et 4 ans, ne peuvent être démontrés et ne peuvent être réels du fait des impossibilités liées à la géographie des lieux et de leur déroulement dans le temps", précise Charlotte Gazarres, vice-procureure de la République à Nantes.\n"L'enquête a été menée avec sérieux par les services de police et les spécialistes du CHU de Nantes. Les expertises médicales ne révèlent quoi que ce soit", ajoute la vice-procureure. "Les enquêteurs ne voient que des jeux d'enfants là où la maman pense voir des jeux sexualisés".\nUne rumeur virale\nOui mais voilà, "en quelques mois tout a changé" constate le procureur de la République adjoint Olivier Bonhomme. "Une rumeur qui circule devant l'entrée d'une école prend des proportions sur les réseaux sociaux cryptés. Au point de désigner comme coupable certain, la personne mise en cause, et sa directrice complice".\nDes attroupements se sont formés devant l'entrée de l'établissement, et des menaces ont été proférées à l'encontre des deux personnels éducatifs. "La personne mise cause a été suspendue de ses fonctions pour la soustraire à la vindicte populaire", ajoute la vice-procureure de la République. Et la directrice de son côté a porté plainte.\nMais la rumeur est tenace et devient virale sur les réseaux sociaux. Et la justice souhaite que cet état de choses s'arrête. "Les parents doivent être rassurés" ajoutent le procureur adjoint. L'enquête reste ouverte pour quelques temps encore.\ncopier le lien https://france3-regions.francetvinfo.fr/pays-de-la-loire/loire-atlantique/nantes/nantes-justice-veut-faire-taire-fantasme-rumeur-reseaux-sociaux-1906458.html\nAccueil > Pays de la Loire > Loire-Atlantique > Nantes > Nantes : la justice veut faire taire le fantasme de la rumeur sur les réseaux sociaux


Oman Air tisse sa toile\nLa compagnie aérienne Oman Air opère actuellement avec une flotte composée de 49 appareils, et ambitionne d’en compter 62 d’ici 2022. Elle a réceptionné récemment son tout premier Boeing 737 MAX 8, tandis que 20 autres sont en commande.\nOman Air dessert actuellement 50 destinations internationales et domestiques au départ de Mascate. En cette année 2018, la compagnie continuera à tisser sa toile et d’étendre son réseau. Ainsi, à partir du 1er juin, elle desservira Istambul en Turquie, puis Casablanca au Maroc dès le 1er juillet, et enfin Moscou en Russie à partir du 28 octobre.\nPar ailleurs, un nouvel accord de partage de codes vient d’être annoncé par Oman Air : depuis le 1er avril, la compagnie vend sous code WY les vols opérés par Bankok Airways entre Bangkok-Suvarnabhumi et les aéroports de Chiang Mai, Chiang Rai, Phuket, Krabi, Lampang, Trat, Sukhothai et Ko Samui.\nEnfin, un nouveau terminal a ouvert à l’aéroport international de Mascate fin mars, afin de mieux accueillir les 20 millions de passagers qui y transitent annuellement.


Mardi 2 novembre 2021 - XXL Chassignolles - Le Magny - rando val de creuse\nVisiteurs depuis le 07/04/2013 : 86485\nMardi 2 novembre 2021 - XXL Chassignolles - Le Magny\nPar pepite19 dans Journal de bord le 5 Novembre 2021 à 16:23\nDans la fraîcheur de cette matinée, nous sommes 15 randonneurs rassemblés devant l’église de Chassignolles prêts à entamer une randonnée d’un peu plus de 18 km.\nChassignolles est situé sur une colline et nous pouvons voir son clocher à l’horizon quelque soit la route empruntée.\nNous contournons l’église Saint-Etienne datant des XIIème et XVème siècles en direction de Les Beaudoins. A plusieurs reprises nous avons pu admirer des parterres de cyclamens sous les arbres. Arrivés au château d’eau, nous empruntons à gauche le « sentier botanique » créé par les élèves de l’école de Chassignolles. De nombreux arbres et plantes y sont implantés, tous et toutes référencés sur des petites pancartes jaunes.\nNous tournons à gauche en direction de Le But, portion du circuit que nous retrouverons cet après-midi, avant la D41. Après l’avoir traversée, nous prenons un chemin boisé jusqu’à Les Béjauds et poursuivons par une descente vers Vauvres sans l’atteindre puis remontons vers La Vergne et allons vers Le Champ de Fletz. Après la ligne électrique, nous descendons un petit chemin le long d’un bois pour atteindre et suivre la Vauvre. Au bout de la descente nous tombons sur une haie de bambous, rappelant des souvenirs à certains d’entre nous. Nous passons devant le Moulin des Mouches puis traversons la rivière sur une passerelle et remontons vers le village des Mouches.\nAprès avoir traversé à nouveau la Vauvre au Gué Cosset, nous longeons des étangs reliés entre eux jusqu’à la D41. Nous traversons le Bois de Cosset jusqu’au Moulin de Ribes.\nLa commune comptait plusieurs moulins qui dataient d’avant 1665. Les Mouches datant de 1482 ferme en 1906. Ribbes datant de 1604 arrête en 1962.\nNotre chemin monte lentement entre les champs jusqu’à la route de Villemort pour rejoindre le Bois de Villemort et le Chêne des Pendus. Selon la légende, il aurait été planté en l’an de grâce 1405 par le seigneur de Rochefolle égaré dans le Bois de Villemort en contrepartie de l’aide d’un vieillard en haillons. Il servait à suspendre les dépouilles des loups tués lors des battues, d’où son nom. Ce géant date de 1405 selon les archives, la sécheresse de 2003 lui fut fatale.\nAprès une photo de groupe et avoir terminé la traversée du bois, nous nous dirigeons vers Pierrefolle. Avant d’atteindre la D72, nous apercevons le hameau « la Tuilerie de Villemort ». Arrivés sur la D72 très fréquentée, donc dangereuse, Gilles endosse son gilet jaune et les randonneurs marchent à gauche en file indienne. La route fait une boucle que nous quittons pour suivre un chemin boisé qui nous conduit vers une passerelle pour traverser à nouveau La Vauvre et un étang que nous laissons à notre droite.\nNous contournons Le Vigolet par le sud pour rejoindre le Vivet. Nous sommes maintenant sur le retour par la D73. Nous passons sur le pont qui traverse le Ris Blanc puis atteignons le village du même nom.\nArrivés à Chassignolles, nous reprenons nos véhicules pour rejoindre Le Magny qui sera le point de départ de notre marche de l’après-midi. Mais auparavant une surprise nous attend : Jacqueline fête son anniversaire avec un apéritif accompagné de rondelles de boudin aux châtaignes et de petites pizzas. Un grand Merci à Jacqueline pour cette attention et encore bon anniversaire.\nEn covoiturage nous partons au centre de La Chatre où un bon déjeuner nous attend au restaurant Le Duplex. Notre restaurateur a la gentillesse de nous offrir l’apéritif et de nous proposer un menu amélioré par rapport à celui qui était prévu.\nDe retour à Le Magny nous entamons notre randonnée de l’après-midi. En raison d’un ciel menaçant, nous décidons de raccourcir le trajet de 9 à 7 km.\nNous longeons la salle des fêtes puis le cimetière. Nous tournons à droite en direction de Bellevue où nous empruntons un chemin montant au milieu des champs qui nous conduit jusqu’à le But. Là nous empruntons sur 400m une partie du chemin pratiqué le matin après le sentier botanique. Nous traversons le GR46 et nous nous dirigeons vers la passerelle qui traverse la Couarde. Nous suivons la rivière pour rejoindre le GR46 à Le Mont après avoir retraversé la Couarde et croisé un lavoir.\nAvant de retrouver nos voitures à Le Magny et juste au moment où la pluie commençait à augmenter, nous avons visité la belle église Saint-Michel et son prieuré. Mutilée au cours des siècles, elle montre encore de splendides parties romanes : le chœur, les vestiges de la croisée de son transept remontent au XIème siècle et possèdent des chapiteaux à figures humaines. Le niveau de toute cette partie de l’édifice a été relevé, tandis que les murs étaient surélevés dans un souci de défense. La nef, reconstruite après des destructions au XVème siècle, est fermée par un clocher qui fait office de porche. A l’intérieur on découvre les statues de Saint-Loup, Saint-Vincent et Saint-Michel.\nEn conclusion il s’agit d’une très belle randonnée XXL dont le circuit adopté comportait des détours modifiant le trajet prévu. La vallée de La Vauvre était particulièrement agréable.\nTexte de Jean\nrando val de creuse - Site de blogs gratuits - Eklablog - CGU - CGV - Préférences cookies - Signaler un abus -


Le dernier Anneau - Ansible\nStéph 15/02/2019 14:46\nEh bien cher Spooky, je te salue bien bas !\nJe conçois à peine comme il doit être gratifiant de pouvoir apporter ta petite (façon de parler) pierre à l'édifice d'un projet comme celui-ci, qui plus est quand le sujet te touche autant ! Je connais ta passion de l'écriture, ton amour des contrées Tolkiennes et ton infatigable énergie quand il s'agit de t'investir dans ce que tu aimes. Tu le prouves encore une fois.\nSpooky 15/02/2019 16:25\nMerci l'ami, tout comme Motus, tu as su trouver les mots justes pour qualifier ma fierté :)\nMélie 15/02/2019 11:48\nMince, je ne peux pas me corriger. Mon commentaire est fichtrement mal écrit.\nL'esprit est là, c'est l'essentiel. Merci.\nMélie 15/02/2019 11:47\nSuite au commentaire de Motus, je viens m'excuser ici de m'être moquée sans avoir du tout capté cette passion. Et je ne trouve que ce moyen pour le dire ici. J'ai parfois du mal à me rendre compte, et si je blesse je ne m'en rends pas compte. Et bravo pour ta chronique.\nmOTUS 14/02/2019 17:12\nBtavo pour ce travail. J'en suis presque ému tellement je sais ce que cela représente pour toi. La communauté te remercie.


Journées européennes du patrimoine - 11 et 12 septembre 2010 - République et Canton du Jura\nJournées européennes du patrimoine: 11 et 12 septembre 2010\nDate : 06.09.2010 08:47:00\nL'édition 2010 des Journées européennes du patrimoine se déroulera les 11 et 12 septembre sur le thème "Cycles de vie". Les manifestations proposées mettront en évidence les liens qui nous unissent, à différents moments de nos existences, au patrimoine bâti et elles permettront de vérifier que ce dernier est lui aussi soumis à des cycles de vie. Dans le canton du Jura, des manifestations sont organisées sur trois sites : à la Marbrerie Kaiser à Delémont, au Musée de l'Hôtel-Dieu et au Séminaire à Porrentruy.\nLes monuments connaissent eux aussi des cycles de vie au gré des différentes interventions dont ils peuvent faire l'objet. Ils peuvent être conservés, rénovés, transformés ou … massacrés selon la nature des travaux réalisés. Si l'on souhaite intervenir sur un monument en respectant la déontologie en la matière, il convient tout d'abord de connaître les matériaux qui le composent et les techniques qui ont été utilisées pour les mettre en œuvre. C'est dans ce sens que la Marbrerie Kaiser à Delémont, signataire de la Charte romande des métiers de la pierre, présentera, le samedi 11 septembre de 10h à 16h, les matériaux et les techniques utilisés dans la restauration de la pierre à l'appui de plusieurs chantiers récemment achevés ou en cours. Les présentations ont lieu en continu dans les locaux de la Marbrerie Kaiser, rue St-Randoald 15, à Delémont.\nA Porrentruy, le Musée de l'Hôtel-Dieu et le Cercle littéraire de la Société jurassienne d'émulation proposent de jeter un regard sur les soins médicaux avant l'anesthésie, les antibiotiques et les transplantations d'organes. Le samedi 11 septembre à 14h, dans la Salle des Hospitalières de l'Hôtel-Dieu, le Cercle littéraire fera des lectures de textes relatifs aux soins médicaux aux XVIIIe et XIXe siècles. Les lectures seront suivies à 15h par une visite de l'Hôtel-Dieu qui mettra l'accent sur la fonction hospitalière de ce remarquable monument qui a servi d'hôpital jusqu'en 1956.\nA Porrentruy toujours, le samedi 11, de 10h à 17h, et le dimanche 12, de 14h à 17h, les visiteurs auront l'occasion de découvrir le Séminaire et sa tour après les travaux de réhabilitation qui viennent de s'achever. Du point de vue patrimonial, c'est incontestablement la tour du Séminaire qui méritera le détour pour voir en particulier l'ancienne chapelle du Séminaire aujourd'hui réaffectée en salle de conférence. Des soins particuliers ont été apportés aux travaux de conservation et de restauration du plancher d'origine et du plafond décoré des monumentales armoiries du prince-évêque Joseph Guillaume Rinck de Baldenstein.\nTout complément d'information peut être obtenu auprès de l'Office cantonal de la culture à Porrentruy (tél. 032 420 84 00 ; adresse électronique : secr.occ@jura.ch).


Note des lecteurs: 3.5/5 Aussi �tonnant que cela puisse para�tre, le nom de domaine AdSense.com n'appartenait pas � Google, mais, depuis 1996, � la soci�t� Adsense Consulting. Cette derni�re vient de vendre � Google, son .COM, enfin on peut le pr�sumer. Le Whois de Adsense.com a chang� et signe, maintenant, Google comme propri�taire, et cela depuis le 31 octobre dernier.\nUn exemple qui montre que Google n'a pas l'air d'�tre perturber lorsqu'il s'agit d'utiliser un nom commercial sans permission ou compensation. Maintenant, reste � savoir si AdSense2.com, qui appartient toujours � Adsense Consulting sera consid�r� comme contrefa�on par les juristes de Google. Pas de doute, quel merdier le web !\nAdsense est le service publicitaire mis en place par Google. (EuroDNS)


The Blondie Diary : Like a child\nTrouver un titre d'article pour chaque post, ce n'est pas une chose très évidente tout comme trouver l'endroit pour shooter quelques photos. Je suis néanmoins très satisfaite d'avoir fait cette série de photos dans un parc. Cela m'a rappelé plein de souvenirs d'enfance.\nPour l'occasion, je portais mon nouveau gilet doudou de chez H&M avec ma paire de slip-on achetée lors de la vente Isabel Marant X H&M.\n(les 2 gagnantes pour le concours des coffrets The Bodyshop viennent d'être tirées au sort, surveille tes mails et la page Facebook c'est peut-être toi.)\nBelt - Isabel Marant X H&M\nShoes - Isabel Marant X H&M (similar here)\nThe Mam's Show 16 décembre 2013 à 10:50\nje craque pour ton manteau et tes chaussures\n=) sympa comme tout cette tenue. Bisous\nMorgane-Amandine 19 décembre 2013 à 09:57\nLe manteau est un peu vieux mais je n'arrive pas à m'en séparer :)\nPowline 16 décembre 2013 à 18:16\nIl a l'air super douillet ce manteau :)\nEt très sympa la série photo dans un parc <3\nMorgane-Amandine 19 décembre 2013 à 10:07\nLe manteau est douillet mais c'est surtout le gilet blanc que j'affectionne particulièrement, d'ailleurs je viens de l'acheter en noir :)\nMaêva Martin 16 décembre 2013 à 18:31\nJolies photos! T'es tellement naturelle, t'es belle ♥\nJessica Jtsa 18 décembre 2013 à 23:42\nOhlala le pull doudou <3 Il est superbe !\nOui, doudou je dormirai avec ahah :)\nDuygu BK 23 décembre 2013 à 23:01\nUn article qui nous fait retomber en enfance :)\nJ'envie tes chaussures, arf! Tenue très décontracté et simple, j'adore!\nDe passage pour te dire qu'un nouveau article est disponible dans mon blog.


Vinci-CA en hausse au T1 malgré l'impact de la crise sur les activités aéroportuaires - Boursorama\n55 702,09 $US\nVinci-CA en hausse au T1 malgré l'impact de la crise sur les activités aéroportuaires\nReuters•22/04/2021 à 18:50\nPARIS, 22 avril (Reuters) - Vinci SGEF.PA a publié jeudi un chiffre d'affaires en hausse de 5% au premier trimestre, porté par un rebond de la construction, ses activités aéroportuaires étant en revanche profondément affectées par la crise du coronavirus.\nVinci a annoncé début avril un accord avec le groupe espagnol ACS ACS.MC en vue d'acquérir ses activités énergie pour environ 4,9 milliards d'euros.\nLe chiffre d'affaires de Vinci Airports a en revanche baissé de 70% par rapport à l'année précédente. Le groupe note toutefois quelques améliorations depuis mars aux États-Unis et dans les régions où les restrictions sont en partie levées.\n(Sarah White, version française Anait Miridzhanian, édité par Jean-Michel Bélot)


Cours de Guitare Aix-les-Bains - 4 Profs dès 9€/h\n4 profs de guitare disponibles à Aix-les-Bains\nSuperprof cours de guitare Savoie Aix-les-Bains\nAuteur, compositeur, chanteur et multi-instrumentiste donne cours de guitare et chant à aix-les-bains.\nÉtudiants je donne des cours de guitare débutants pour les personnes souhaitant débuté\nMa méthode est simple, étudier des chansons que vous aimez et adapté à votre niveau.\nVous voulez apprendre les bases de la guitare ou vous perfectionner pour pouvoir jouer au bord de la plage, avec vos amis ou votre famille. étudiante au bourget du lac, j'ai fait 8 ans de guitare au\nAyant réalisée près de 10 ans de cours de guitare je pourrais vous apprendre d’une manière efficace et rapide comment en jouer !\nÉtudiant à chambéry avec plus de 6 ans d’expérience en musique et notamment en guitare et en chant\nCours de guitare par un musicien savoyard diplômé du conservatoire régional de chambéry\nGuitariste autodidacte de 5 ans, suivant une formation au conservatoire régional de chambéry, enseigne à tout les niveaux, méthode individuelle et personnalisé selon les profils.\nEtudiante à chambéry, joue de la guitare depuis plus de 4 ans, donne des cours à domicile\nPour une approche éclectique de l'instrument, du classique aux arrangements, accompagnement, jazz, bossa nova\nDes profs de guitare avec une évaluation moyenne de 4,5 étoiles et plus de 2 avis.\nApprendre la Guitare à Aix-les-Bains n’a jamais\n1. Trouvez votre prof de guitare à Aix-les-Bains.\nConsultez librement les profils et contactez votre fantastique professeur selon vos critères à Aix-les-Bains (tarifs, diplôme, avis, cours à domicile ou par webcam) pour un cours de guitare à domicile.\n2. Organisez vos cours de guitare à Aix-les-Bains\nL'incroyable Pass Élève vous donne un accès illimité à tous les professeurs et stages de guitare pendant 1 mois. Un mois pour découvrir de nouvelles passions avec des personnes fabuleuses à Aix-les-Bains.\nBonne 1 ère approche , donne confiance aux debutants\nAnthony est très bien sympa et patient avec mon fils de 6 ans qui commence la guitare. Il s'adapte à l'âge et au caractère de l'enfant. Merci Anthony.\n🎸Comment s'y prendre pour trouver un super prof pour des leçons de guitare country disponible à Aix-les-Bains et alentours ?\nC'est facile. Il vous suffit d'aller sur le site Superprof.fr afin de trouver votre instructeur de guitare libre à Aix-les-Bains et alentours.\nRegardez les fiches sur le portail Superprof.fr, prenez contact, puis mettez-vous d'accord sur les détails.\n🎵 Combien de profs de guitare libres à Aix-les-Bains et alentours ?\nIl y a dans notre annuaire des profs de guitare pour tous les courants musicaux.\nLe site Superprof compte aux alentours de 4 enseignants à Aix-les-Bains et ses alentours.\nVous trouverez sur Superprof l'enseignant de guitare qui vous convient dans le genre de musique recherché : classique, jazz, flamenco, rock, etc.\nLe nombre d'instructeurs de guitare à Aix-les-Bains grandit petit à petit.\nCliquez ici pour sélectionner votre prof de guitare sur le portail Superprof sur Aix-les-Bains et alentours.\n🎶 Un cours particulier de guitare flamenco à Aix-les-Bains et alentours, quel est le prix ?\nLe prix conseillé d'un cours particulier de guitare est d'environ 19 euros.\nDès votre prof sourcé sur notre portail Superprof, posez vos questions au sujet du prix de leçon.\nCe prix dépend du niveau de connaissance du formateur et aussi de l'endroit où se tient le cours particulier.\nIl faut simplement demander si ce cette première leçon particulière est offerte.\nPresque absolument tous les formateurs chez Superprof dispensent cette première leçon gratuite.\n🎵 Est-il vrai que le premier cours de guitare est gratuit sur Aix-les-Bains et ses alentours ?\nIl est bon de savoir que les formateurs du site Superprof sont plus de 95% à donner un cours particulier gratuit de test.\nA vous de demander à votre formateur ce qu'il propose. Ce type d'info est d'habitude marqué sur sa page.\nCliquez ici pour lire nos annonces de formateurs de guitare à proximité de Aix-les-Bains.\nEnvie d’apprendre la Guitare à Aix-les-Bains?\nLaissez vous séduire par un immense choix de professeurs talentueux de Guitare à Aix-les-Bains!\nParcourez tous nos cours de guitare à Aix-les-Bains\nGrenoble Annecy Bourg-en-Bresse Caluire-et-Cuire Chambéry Saint-Martin-d'Hères Vaulx-en-Velin Villeurbanne Online\nGuitare acoustique Guitare électrique Éducation musicale Piano Solfège\nLes professeurs particuliers de guitare à Aix-les-Bains\nChoisissez vous-même le coach qui vous aidera à apprendre en guitare. Superprof vous aide à trouver le professeur le plus pertinent : nous rassemblons tous les enseignants de guitare compétents à Aix-les-Bains et aux alentours.\nA Aix-les-Bains, les professeurs particuliers de cours de guitare enseignent aussi les matières suivantes : Guitare, Guitare acoustique, Guitare électrique, Chant, Basse.