Elektrische Spektralanalyse und Netzwerkanalyse\n4.9 Elektrische Spektralanalyse und Netzwerkanalyse\nAbbildung 4.256.: Blockschaltbild eines Spektralanalysators.\nBei sehr hohen Frequenzen verwendet man häuﬁg anstelle von Messungen im Zeitbereich Messungen im Frequenzbereich durchgeführt. Bis etwa zu 10 MHz werden Fourieranalysatoren, beruhend auf der schnellen Fouriertransformation (Siehe auch 2.4.2). Für höhere Frequenzen verwendet man Spektralanalysatoren, bei denen die Oszillatoren durchgestimmt werden. Abbildung 4.256 zeigt den Aufbau eines solchen Spektralanalysators. Ein Sägezahnoszillator steuert einen in der Frequenz abstimmbaren Oszillator. Diese Abstimmung könnte zum Beispiel durch einen Schwingkreis mit Kapazitätsdioden realisiert sein. Dieses Signal wird in einem Mischer mit dem tiefpassgeﬁlterten Eingangssignal multipliziert. Aus allen Frequenzen fS des Eingangssignales wird nur derjenige Bereich, der in das Durchlassband des Zwischenfrequenzverstärkers fällt, weiter verstärkt. Dabei ist die Zwischenfrequenz\nDa die Zwischenfrequenz fest ist, wird bei einer Erhöhung der Oszillatorfrequenz die detektierte Signalfrequenz erniedrigt. Wie bei den Lock-In-Verstärkern (siehe auch 4.1.9) legt die Bandbreite des Zwischenfrequenzverstärkers die Bandbreite des Detektionssystems fest. Aus der Filterbandbreite ergibt sich die Messzeit. Die Zeit zur Überstreichung des Frequenzbereiches ist dabei umgekehrt proportional zum Quadrat der Filterbandbreite[BBH98]. Die Quadratische Abhängigkeit kommt von Zwei Faktoren: Einerseits müssen bei einer halben Filterbandbreite doppelt so viele Messpunkte im zu überstreichenden Frequenzbereich. Gleichzeitig ist die Einstellzeit auf eine vorbestimmte Präzision doppelt so lange. Beide Eﬀekte zusammen ergeben eine quadratische Abhängigkeit.\nDer Aussteuerungsbereich des Spektrumanalysators wird bei niedrigen Pegeln durch das Geräterauschen und bei hohen Pegeln durch die nichtlinearen Verzerrungen im Mischer begrenzt. Wenn sehr hohe Frequenzen zu messen sind, dann verwendet man Oberwellen des lokalen Oszillators. Bei einer Messung mit der n-ten Oberwelle hängen die gemessene Frequenzkomponente fS und die Zwischenfrequenz fZF wie\nzusammen. Es ist damit möglich, bis zu 18 GHz Spektren zu messen. Da die Spiegelfrequenzen schlechter unterdrückt werden, ist die Qualität der Messung nicht so gut wie bei Spektralanalysatoren mit Grundfrequenzoszillatoren.\nNeben der Darstellung von modulierten Signalen werden Spektralanalysatoren insbesonders zur Messung von Rauschsignalen (Abschnitt 2.8) verwendet. Bei Zufallsrauschen bedeutet eine Vervierfachung der Bandbreite eine Verdoppelung des Rauschpegels. Man bezieht die Rauschbandbreite eines Spektralanalysators auf die Bandbreite eines Gauss-Filters. Diese ist etwa das 1.2-fache der 3dB-bandbreite[BBH98].\nHier ist BZF die Bandbreite des Zwischenfrequenz-Verstärkers. Da in Spektralanalysatoren meistens Spitzenwerte gemessen werden und diese mit einem Faktor passend für eine sinusförmige Schwingung umgerechnet werden, müssen die gemessenen Amplituden bei einer Rauschmessung um 2.5 dB nach oben korrigiert werden.\nAbbildung 4.257.: Blockschaltbild eines Netzwerkanalysators.\nBei der Netzwerkanalyse nach Abbildung 4.258 wird ein von einer Quelle stammendes bekanntes Signal an den Eingang eines Netzwerkes gelegt. Das übertragene Signal und das reﬂektierte Signal werden gemessen.\nBeim reﬂektierten Signal werden\ndie S-Parameter S21 und S12\ndie Impedanz Z und\ngemessen. Das übertragene Signal wird durch\ndie Verstärkung oder Dämpfung,\ndie S-Parameter S11 und S22,\ndie Phasenverschiebung und\nAbbildung 4.258.: Prinzipieller Aufbau eines Spektrumanalysators.\nAbbildung 4.258 zeigt den prinzipiellen Aufbau eines Netzwerkanalysators. Die notwendigen Signale werden in einem Signalgenerator erzeugt. Mit diesem Signal wird das zu untersuchende Netzwerk gespiesen. Ein kleiner Bruchteil der ursprünglichen Signalleistung wird in die Schaltung zur Signaltrennung eingespiesen. Dieser Signalanteil dient als Referenz. Das Rückreﬂektierte Signal wird mit einem Richtkoppler vom Eingangssignal getrennt und in die Signaltrennungsschaltung eingespiesen. Schliesslich wird ein kleiner Bruchteil des übertragenen Signals weiterverarbeitet.\nDie Empfänger/Detektorschaltung ist analog zu einem Lock-In-Verstärker aufgebaut und liefert Phase und Amplitude des übertragenen und des reﬂektierten Signals.\nAbbildung 4.259.: Durchführung einer Reﬂexionsmessung mit einem Netzwerkanalysator.\nBei einer Reﬂexionsmessung wird der Netzwerkanalysator wie in der Abbildung 4.259 gezeigt, verschaltet. Das von einem Signalgenerator kommende Signal wird in einem 6 dB-Teiler in zwei Signale mit je der halben Leistung aufgetrennt. Das eine Signal (oben) dient als Referenz. Das andere wird über einen Richtkoppler[TS80][BBH98] in den Prüﬂing eingespiesen. Der Richtkoppler trennt das rückreﬂektierte Signal ab und speist es ebenfalls in den Netzwerkanalysator.\nDie Reﬂexionsmessung kann verwendet werden, wenn man feststellen möchte, ob ein Kabel unterbrochen ist oder ob es einen Kurzschluss hat. In beiden Fällen ist die Impedanz an der Störstelle nicht gleich dem Wellenwiderstand des Kabel: Reﬂektierte Signale treten auf. Deren Phase zeigt an, ob es sich um einen Kurzschluss oder eine Unterbrechung handelt. Die Laufzeit hängt von der Entfernung der Störstelle ab.\nAbbildung 4.260.: Detektionsverfahren. a) ist ein Diodendetektor. b) ist ein Grundwellenmischer und c) ein Oberwellenmischer\nTypische Empfängerschaltungen werden in der Abbildung 4.260 gezeigt. Links ist eine einfache Spitzenwertdetektionsschaltung mit einer Diode als Gleichrichter und mit einem Kondensator als Filter angegeben. Damit lässt sich die Einhüllende der detektierten Signale bestimmen. Das mittlere und das rechte Bild zeigen Misch-Verstärker, wie sie auch in Radioempfängerschaltungen eingesetzt werden. Das Eingangssignal wird mit einem um die Zwischenfrequenz versetzten Signal multipliziert und in einem schmalbandigen Filter mit einem festen Durchlassbereich verstärkt und anschliessend demoduliert. Ist die Frequenz des Eingangssignals zu hoch, dann kann der Lokaloszilator einen Hilfsoszillator auf einem Vielfachen seiner Frequenz steuern. Dessen Signal wird mit dem Eingangssignal gemischt. Der verbleibende Teil der Schaltung ist analog zur ursprünglichen Schaltung.\nAbbildung 4.261.: Amplitudendetektion.\nDie Detektion des Zwischenfrequenzsignals kann entweder skalar oder, wie oben angesprochen, über einen Lock-In Verstärker geschehen. Im ersten Falle nennt man das Gerät einen skalaren Netzwerkanalysator, im zweiten Falle handelt es sich um einen vektoriellen Netzwerkanalysator. Abbildung 4.261 zeigt das Funktionsschema eines skalaren Netzwerkanalysators. Das Ausgangssignal eines Signalgenerators wird in einem 6-dB-Teiler auf den Referenzzweig (unten) und den Signalzweig (oben) aufgeteilt. Das Signal wird in einer Zwischenfrequenzstufe (ZF-Filter) entweder direkt nach dem Teiler (Referenzzweig) oder nach Durchlaufen des Prüﬂings verarbeitet. In beiden Zweigen wird das Signal durch einen Gleichrichter demoduliert. Ein Dividierer bildet den Quotienten aus dem Signal am Ausgang des Prüﬂings und dem Referenzsignal. Das Resultat wird angezeigt, oder in Rechnern weiterverarbeitet.\nAbbildung 4.262.: Phasenmessung.\nZur Phasenmessung wird der in der Abbildung 4.262 gezeigte Aufbau verwendet. Anstelle eines Dividierers wird ein phasenempﬁndlicher Detektor verwendet. Die Darstellung von Amplitude und Phase wird vielfach mit einem Smith-Chart durchgeführt. Eine ausführliche Diskussion dieser Darstellungsform ﬁndet sich auf der Webseite von Spread Spectrum Scene25 .\nAbbildung 4.263.: Amplituden- und Phasengang bei einer linearen Übertragung.\nBei einer linearen Übertragungskette ist das Verhältnis zwischen der Ausgangsspannung Uaus und der Eingangsspannung Uein der komplexe Übertragungskoeﬃzient v. Um eine gültige Übertragungsmessung durchführen zu können, muss der Netzwerkanalysator mit einer bekannten Teststrecke kalibriert werden.\nBei der Untersuchung einer Teststrecke ist von besonderem Interesse, das Verzerrungsverhalten zu bestimmen. Wie man durch Anwendung der Übertragungstheorie (siehe auch den Abschnitt 2.3 und folgende) berechnen kann, ist eine verzerrungsfreie Übertragung nur dann möglich, wenn, wie in Abbildung 4.263 die Amplitude konstant und die Phase linear ist[BBH98]. Der erste Teil dieses Messproblems kann sowohl mit einem skalaren Netzwerkanalysator wie auch mit einem vektoriellen Netzwerkanalysator gelöst werden.\nDie Phasenmessung jedoch ist nur mit einem vektoriellen Netzwerkanalysator durchführbar. Um die Wirkung einer linear zunehmenden Phase zu verstehen, betrachten wir die Gruppenlaufzeit\nEine linear ansteigende oder abnehmende Phase bedeutet eine konstante Gruppenlaufzeit. Das heisst, dass jede Signalkomponente bei einer Frequenz im Bereich der linearen Phase um die gleiche zeit verzögert wird: Das Signal wird also nicht verzerrt.\nAbbildung 4.264.: Reﬂektierte Signale an einer Leitung abhängig vom Abschlusswiderstand.\nBei einer Messung des Reﬂexionsverhaltens wird die aus einem Messobjekt in die Quelle zurückreﬂektierte Spannung UR bestimmt. Sie hängt mit der Eingangsspannung Uein über\nzusammen. Z0 ist die (konstante?) Impedanz einer Übertragungsstrecke und ZL ist die Impedanz des Abschlusses der Übertragungsstrecke. Es ist üblich, einen komplexen Reﬂexionsfaktor\nzu deﬁnieren. Für r gilt, dass 0 ≤|r| = r ≤ 1 ist. Abbildung 4.264 zeigt die Grösse der reﬂektierten Signale für drei Fälle: Kurzschluss (ZL = 0), Leerlauf (ZL = ∞) und Anpassung (ZL = Z0).\nDie rückreﬂektierte Welle interferiert mit der eingespeisten Welle. Das dabei entstehende Muster von Wellenbergen und Tälern hängt vom Reﬂexionsfaktor r ab. In der Antennentechnik ist es üblich das Stehwellenverhältnis\nzu verwenden. Es gilt, dass 1 ≤SWR ≤∞ ist.\nAbbildung 4.265.: Links: Frequenzgang des Abschlusswiderstandes für Abbildung 4.266. Rechts ist die entsprechende Nyquist-Darstellung gezeigt.\nDie Transformation des Abschlusswiderstandes (4.6) ist äquivalent zu einer Abbildung der komplexen Ebene auf sich. Wenn alle Impedanzen auf den Wert Z0 bezogen werden, bekommt man für r\nDabei wurde z = ZL∕Z gesetzt. Die Transformation von z nach r ist eine konforme Abbildung auf sich selber. Mit dieser Abbildung nach Gleichung (4.8) kann im Polardiagramm (siehe Abbildung 4.266, links) direkt der Betrag des Reﬂexionsfaktors und seine Phase abgelesen werden.\nAndererseits kann man mit der gleichen Abbildung Gleichung (4.8) auch die Koordinatenachsen und das Gitternetz der Z-Ebene abbilden. Man tranformiert also die Geraden mit konstantem Real- (Widerstands-) und Imaginärteil. Konforme Abbildungen bilden Geraden auf Kreise ab. Die entstehenden Kurven (siehe Abbildung 4.266, rechts) heissen dann Smith-Chart.\nDie Transformation der Linien mit konstantem Real- oder Imaginärteil ist im Anhang G.4 gezeigt. Die entstehenden Ortskurven sind Kreise, ihre Anordnung heisst Smith-Chart.\nAbbildung 4.266.: Darstellung der reﬂektierten Signale in der Polardarstellung und im Smith-Diagramm. Die Polardarstellung zeigtden Reﬂexionsfaktor r und die Phase ϕ, während die Smith-Darstellung Real- und Imaginärteil zeigt.\nWir wollen nun einen Abschlusswiderstand, der sich wie in der Abbildung 4.265 verhält, in einen Smith-Chart eintragen. Dazu werden der Real- und der Imaginärteil auf den Gitternetzlinien im Bild 4.266 abgetragen. Die entstehende rote Ortskurve zeigt das reﬂektierte Signal (abzulesen an den äusseren Achsenbeschriftungen) als Funktion der Abschlussimpedanz.\nAbbildung 4.267.: Darstellung der reﬂektierten Signale kombiniert in der Polardarstellung und im Smith-Diagramm.\nPolardiagramm und Smith-Chart können kombiniert werden. Dies ist in Abbildung 4.267 gezeigt.\nBei der Berechnung von Schaltungen mit Smith-Charts hilft eine einfache graphische Regel. Nehmen wir an, Z sei die Impedanz und Y ∕Y 0 = Z0∕Z die dazugehörige Admittanz (Dualismus Widerstand - Leitwert). Z0 ist die Referenzimpedanz, Y 0 = 1∕Z0 die Referenzadmittanz. Dann liegt der zu Y ∕Y 0 gehörige Punkt im Smith-Diagramm bei\nDies bedeutet, dass die zu Z∕Z0 gehörige Admittanz Y ∕Y 0 einfach am Punkt r = 0 gespiegelt ist. Damit könnenin einem Smith-Chart sehr leicht Reihen- und Parallelschaltungen berechnet werden. Bei Reihenschaltungen von Impedanzen werden die Real- und Imaginärteile addiert. Bei Parallelschaltungen von Impedanzen werden die zugehörigen Admittanzen addiert. Damit kann sehr leicht aus Impedanzkurven im Smith-Chart der resultierende Frequenzverlauf konstruiert werden.\nAbbildung 4.268.: S-Parameter. Oben ist die Deﬁnition gezeigt, unten das dazugehörige Flussdiagramm\nZur Untersuchung von komplexeren Objekten wie Transistoren oder Verstärkern führt man sie auf Vierpole (siehe auch Abschnitt 2.5) zurück. Im Hoch- und Höchstfrequenzbereich werden bevorzugt die S-Parameter verwendet. Die Deﬁnition der S-Parameter ist in der Abbildung 4.268 gezeigt. In Gleichungen gefasst ergibt sich\nDie Grössen ai und bi können mit einem vektoriellen Netzwerkanalysator direkt gemessen werden. Durch Messung in Vorwärtsrichtung lassen sich mit a2 = 0\nbestimmen. In Rückwärtsrichtung erhält man mit a1 = 0\nDamit sind die Kleinsignalparameter eines Prüﬂings bestimmt.\n4.9.1 Feldemissionsmikroskopie, Feldionenmikroskopie\nAbbildung 4.269.: Geometrie der Abbildung in einem Feldionenmikroskop\nBei einem Feldemissionsmikroskop wie auch bei einem Feldionenmikroskop werden Teilchen von einer stark gekrümmten Oberﬂäche radial emittiert. Die geometrische Situation ist in der Abbildung 4.269 gezeigt. Wenn die Spitze den Krümmungsradius r und der Beobachtungsschirm den Radius R haben, dann ist die Vergrösserung nach dem Strahlensatz durch\nWenn wir für den Beobachtungsschirm einen Radius von R = 0.1m = 10−1m annehmen und für die Spitze einen Krümmungsradius von r = 100nm = 10−7m, dann ist die Vergrösserung A = 106. Zwei Kohlenstoﬀatome in einem Graphitgitter mit einem Abstand von 0.14nm würden in einem Abstand von 0.14mm abgebildet. Kann der Krümmungsradius der Spitze auf 10nm gesenkt werden, dann würden die zwei Kohlenstoﬀatome im Abstand von 1.4mm abgebildet.\nBei der Diskussion der Abbildung in einem Feldemissionsmikroskop oder in einem Feldionenmikroskop ist nicht berücksichtigt worden, dass die lokale Topographie den Austrittsort der Elektronen oder den Ort der Feldemission beeinﬂussen kann. Diese Topographie der Potentiallinien in der Nähe der Spitze mitteln sich jedoch über wenige nm aus, so dass die Trajektorie und damit die Abbildung nicht beeinﬂusst wird.\nAbbildung 4.270.: Feldemissionsprozess\nWie in der Abbildung 4.269 diskutiert, bewegen sich die Elektronen auf radialen Trajektorien von der Spitze zum Schirm. Das elektrische Feld in einem Feldemissionsmikroskop entspricht dem eines Kugelkondensators. Die im obigen Abschnitt angesprochene Topographie der Emitterspitze bewirkt eine tangentiale Geschwindigkeit der Elektronen. Diese Tangentialgeschwindigkeit der Elektronen entspricht einer Energie ≈ 0.1 eV. Diese muss mit der gesamten kinetischen Energie von 5 keV verglichen werden, ist also vernachlässigbar.\nAbbildung 4.271.: Prinzipieller Aufbau eines Felemissionsmikroskopes\nDie Potentialverhältnisse beim Emissionsprozess von Elektronen werden in der Abbildung 4.270 gezeigt. Die Berechnung kann mit den in den Abschnitten zur Theorie des Tunnelmikroskopes angegebenen Gleichung (??) für den Feldemissionsstrom berechnet werden.\nDie Abbildung 4.271 zeigt den prinzipiellen Aufbau eines Feldemissionsmikroskopes. Die Emitterspitze ist in einem Gefäss mit einem Hochvakuum- oder Ultrahochvakuumdruck eingeschlossen. Der Phosphorschirm rechts wandelt die Elektronen entweder direkt oder mit einer vorgeschalteten Mikrokanalplatte in für das Auge sichtbare Bilder um.\nDurch die geringe Masse der Elektronen ist deren Brownsche Bewegung so gross, dass eine Abbildung einzelner Atome nicht möglich ist. Deshalb wurde durch Müller und Tsong[ET69] das Feldionenmikroskop entwickelt.\n4.9.1.2. Feld-Ionenmikroskopie (FIM)\nAbbildung 4.272.: Feldionisation an der Spitze eines Feldionenmikroskopes\nBeim Feldionenmikroskop wird eine positive Spannung an die Spitze angelegt. Ein Abbildungsgas, in der Regel He, H2 oder Ne wird mit niedrigem Druck zur Probenkammer hinzugegeben. Diese ist ähnlich aufgebaut wie die Kammer der Feldemissionsmikroskope (siehe Abbildung 4.271). Die Auﬂösung bei dieser Art Mikroskopie ist 0.1nm. Sie ist besser als bei der Flemissionsmikroskopie, da die Masse der abbildenden Teilchen sehr viel grösser ist, die Brownsche Bewegung deshalb entsprechend geringer ist.\nAbbildung 4.273.: Potentialverlauf bei der Feldionenmikroskopie\nDie Abbildung 4.273 zeigt den Potentialverlauf an der Spitze eines Feldionenmikroskopes. Wenn ein Atom sich der Oberﬂäche nähert, verliert es durch Stösse kinetische Energie. Durch die Polarisierbarkeit wird das Atom an der Spitzenoberﬂäche gehalten. Zwischen dem Atom und der Spitze bildet sich eine Tunnelbarriere. Die Tunnelwahrscheinlichkeit ist desto grösser, je näher das Atom an der Probenoberﬂäche ist.\nWenn die Austrittsarbeit der Oberﬂäche ϕ und die Ionisationsenergie I des obersten Energieniveaus ist, dann ist bei einer Feldstärke E an der Spitze die Ionisation durch den Tunneleﬀekt möglich, wenn\nDann liegt das oberste Energieniveau des Atoms über der Fermi-Energie EF . Für Helium liegt das oberste besetzte Niveau , das HeI-Niveau, bei 24.5 eV. Mit der typischen Austrittsarbeit von Wolfram von ϕ = 4.5 eV und einem Feld von 50 V/nm ergibt Gleichung (4.13) für die Ionisationsdistanz den Wert xc = 0.4 nm. Ein Heliumatom aus dem Füllgas der Probenkammer, das durch seine zufällige Bewegung in die Nähe der Spitze kommt, wird durch den Feldgradienten polarisiert. Der entstehende Dipol ist so gerichtet, dass die negative Ladung zur positiven Spitze hin zeigt. Das polarisierte Heliumatom wird deshalb von der positiv geladenen Feldionenmikroskopspitze angezogen und gewinnt an Geschwindigkeit. Wie Bild 4.272 zeigt, stösst das He-Atom mit der Spitze. Durch den teilweise inelastischen Stoss verliert es an Energie. Es wird jedoch, mit verminderter Geschwindigkeit von der Spitze zurückreﬂektiert. Die Bewegung folgt den Feldlinien des elektrischen Feldes.\nAus der Elektrodynamik ist bekannt, dass sich die Feldlinien des elektrischen Feldes an Orten mit kleinen Krümmungsradien konzentrieren. Dieser Eﬀekt, der auch bei Blitzableitern ausgenutzt wird, bewirkt, dass an Ecken und Kanten die Feldstärke besonders hoch ist. Deshalb sind Ecken und kanten die Orte, Die Feldionisation geschieht bevorzugt an Orten hoher Feldstärke (Ecken, Kanten). Das heisst, dass der nächste und die folgenden Stösse des polarisierten He-Atoms bevorzugt an den Kanten und Ecken geschehen. Nach wenigen Annäherungsbewegungen bleibt das Atom solange an der Oberﬂäche der Spitze, dass das Valenzelektron (das elektrische Feld bricht die Symmetrie, so dass die Energieniveaux aufspalten) vom Restion getrennt wird. Sobald das He-Atom ionisiert ist, ﬂiegt das Ion entlang der Feldlinien von der Spitze weg und wird auf dem Schirm detektiert.\nAbbildung 4.274.: Vergleich eines feldionenmikroskopischen Bildes mit einem Kugelmodell. Links ist das Kugelmodell für eine Pt-Kristall gezeigt. Rechts ist das entsprechende feldionenmikroskopische Bild (By Tatsuo Iwata from Sapporo, JAPAN (platinum) [CC BY 2.0 (http://creativecommons.org/licenses/by/2.0)], via Wikimedia Commons. [Iwa17]).\nAbbildung 4.274 zeigt auf der linken Seite ein mit Mathematica gerechnetes Kugelkalottenmodell und ein ein gemessenes Feldionenmikroskopbild [Iwa17].\nDamit die Abbildung gelingt, ist es notwendig, dass sowohl die Spitze wie auch die Atome des Füllgases gekühlt werden. Als Kühlmittel werden typischerweise ﬂüssiger Stickstoﬀ (LN2) oder ﬂüssiges Helium (He) verwendet. Damit werden die Tangentialgeschwindigkeiten der He-Ionen klein gehalten.\nDie Feldionenmikroskopie war die erste experimentelle Methode, die individuelle Atome abbilden konnte. Da die Spitzen leitfähig sein müssen, ist die Anwendung dieser höchstauﬂösenden mikroskopischen Methode auf Metalle oder leitfähige Materialien beschränkt.\nErhöht man die an der Spitze angelegte Spannung zu stark, dann ist die Polarisation der Atome an ihrer Oberﬂäche so gross, dass auch Atome der Spitze im eigenen Feld ionisiert werden. Dieser Eﬀekt wird Felddesorption genannt. Bei erhöhten Feldern wird xc kleiner. Wenn xc in den Bereich von 0.1 nm kommt, werden auch Atome in der Spitzenoberﬂäche ionisiert.\nSpitzen für die Feldionenmikroskopie werden analog zu den Spitzen für die Rastertunnelmikroskopie präpariert (Siehe den Abschnitt ??). Zusätzlich kann der Eﬀekt der Felddesorption zur Formung der Spitze und zur Reduktion der Spitzengrösse verwendet werden. Durch Adsorption aus der Gasphase kann die Spitze auch gezielt vergrössert werden.\nDamit ein Material für eine feldionenmikroskopische Abbildung tauglich ist, muss die Felddesorptionsschwelle für die Spitze höher liegen als Feldionisationsschwelle für das Füllgas. Typische in der Feldionenmikroskopie verwendete Materialien sind W, Re, Mo, Fe und Cu. Dazu kommen Mischkristalle und andere, hier nicht genannte Materialien.\nDie Abbildung der Geometrie der Probe steht, zumindest bei reinen Oberﬂächen, heute nicht mehr im Vordergrund. Die Beobachtung der Bewegung einzelner Atome auf Terrassen von 20 bis 30 Substratatomen ermöglicht eine Bestimmung der Sprungwahrscheinlichkeit. Aus dieser lässt sich der Diﬀusionskoeﬃzient für einzelne, markierte Atome bestimmen. Wenn der Strom der ionisierten Bildgasatome nicht auf einem Fluoreszenzschirm mit oder ohne vorgeschaltete Mikrokanalplatte, sondern mit einem, die Fläche einer Atomposition abdeckenden Faradaybecher detektiert wird, kann man über die Stromschwankungen auf den Diﬀusionskoeﬃzienten rückschliessen.\n4.9.1.3. Atom-Probe Feldionenmikroskopie\nAbbildung 4.275.: Prinzipbild der Atom-Probe- Feldionenmikroskopie\nDie Atom-Probe Feldionenmikroskopie (Abbildung 4.275) ist eine Weiterentwicklung der Feldionenmikroskopie. Die Feldionenmikroskopie erlaubt eine Abbildung der Position von an Kanten oder Ecken sitzenden Atomen. dabei ist jedoch die Atomsorte nicht feststellbar. Die einfachste Art der Atom-Probe-Feldionenmikroskopie beruht darauf, dass bei der Felddesorption ein Atom aus der Probenoberﬂäche entfernt wird. Die kinetische Energie dieser Ionen hängt von ihrer Masse ab. In einem Massenspektrometer kann, da die Ionen einfach geladen sind, die Masse bestimmt werden.\nAbbildung 4.276.: Messung der Atommasse über die Laufzeit der felddesorbierten Atome.\nWenn die Felddesorption mit Spannungspulsen durchgeführt wird, kann über die Flugzeit der Ionen wie in der Abbildung 4.276 gezeigt die Masse bestimmt werden. Zur Zeit t0 soll ein Spannungspuls an die Spitze angelegt werden. Die Ionen sollen mit der Beschleunigungsspannung U beschleunigt werden. Da die Potentialgradienten des elektrischen Potentials nur in der Nähe der Spitze wesentlich von null verschieden sind, kann man das beschleunigende Feld aus der angelegten Desorptionsspannung berechnen. Zwischen der als konstant angenommenen Geschwindigkeit v, der Masse des Ions mI und der Beschleunigungsspannung gilt die folgende Beziehung.\nMit der Flugstrecke L, der Distanz zwischen der Spitze und dem Detektor kann die Flugzeit Δt gefunden werden.\nDamit ist die Ionenmasse\nUnter der Voraussetzung, dass jedes einzelne Ion detektiert werden kann, kann mit dieser Technik die Oberﬂäche der Spitze Atom für Atom abgetragen werden. Indem die Spannung des Desorptionspulses so klein gewählt wird, dass im Mittel wesentlich weniger als ein Atom desorbiert wird und indem man nach jedem Desorptionspuls eine Abbildung der Oberﬂäche aufnimmt, kann man die Zusammensetzung einer Spitze dreidimensional aufgelöst messen.\nAbbildung 4.277.: Prinzip des Projektionselektronenmikroskops\nWenn man ein Feldemissionsmikroskop als punktförmige Quelle von Elektronen betrachtet kommt man zum Konzept eines Projektionselektronenmikroskopes[FS99]. Es ist möglich, eine Feldemissionsspitze so zu präparieren, dass sie in einem einzelnen Atom endet. Durch dieses einzelne Atom können Ströme von einigen μA ﬂiessen. Durch das kleine Volumen des Atoms, kann sich immer nur ein Elektron in diesem Gebiet aufhalten. Es ist zu erwarten und auch beobachtet worden, dass Elektronen, die aus einem einzelnen Atom emittiert werden, aussergewöhnliche Kohärenzeigenschaften haben.\nAbbildung 4.277 zeigt das Prinzip eines Projektionsmikroskopes. Eine feine Spitze wird gegenüber einer Anode mit einem Mikrometer grossen Loch positioniert. Die Spannungsdiﬀerenz zwischen der Spitze und der Anode bestimmt die kinetische Energie der Elektronen. Typischerweise werden Spannungen von einigen 10 Volt angelegt. Dadurch ist die kinetische Energie der Elektronen so gering, dass die Wechselwirkung mit Kohlenstoﬀ zu einem deutlich sichtbaren Kontrast führt[FS99]. Die Vergrösserung eines Projektionselektronenmikroskopes ist durch das Verhältnis der Distanz von der Spitze zum Beobachtungsschirm zur Distanz von der Spitze zum Objekt gegeben.\nWenn das Objekt einen oder einige Mikrometer von der Spitze entfernt ist und die Distanz zum Schirm 10 cm beträgt, wäre die Vergrösserung zwischen 104 und 105. Die Abbildung mit einem Projektionselektronenmikroskop ist prinzipbedingt verzerrungsfrei und schädigt die Proben kaum.\nAbbildung 4.278.: Simuliertes Hologramm eines Faserkreuzes\nAbbildung 4.278 zeigt ein simuliertes Hologramm von eine Faserkreuzes. Wenn Interferenzerscheinungen sichtbar sind, deutet dies auf eine für Elektronen aussergewöhnlich hohe Kohärenzlänge hin.\nElektronenbeugung ist eine in der Oberﬂächenphysik[HG91] übliche Methode zur Untersuchung periodischer Probenoberﬂächen. In den nächsten beiden Abschnitten werden die Beugung niederenergetischer Elektronen sowie die Beugung von Elektronen mit mittlerer Energie besprochen.\n4.9.3.1. Reziprokes Gitter\nPeriodische Anordnungen von Atomen werden Netze genannt. Oberﬂächennetze sind translationsinvariant. Es gilt also\nmit = v 1 + w 2 wobei . Dabei ist f die funktionale Darstellung einer beliebigen Eigenschaft der Oberﬂäche. Die Entwicklung von f in eine Fourier-Reihe ergibt\nDie Summe in Gleichung (4.19) geht über alle reziproken Gittervektoren. Dabei ist\nwobei h und k ganze Zahlen sind. 1 und 2 sind die erzeugenden Vektoren des primitiven Netzes.\nZwischen dem Netz im realen Raum aufgespannt durch 1 und 2 und dem Netz im reziproken Raum aufgespannt durch 1 und 2 muss die Beziehung\nAus den Beziehungen (4.18) bis (4.21) folgt:\nDiese Bedingungen werden erfüllt wenn 1 und 2 wie folgt konstruiert werden:\nDabei ist ein beliebiger Vektor senkrecht zum Oberﬂächennetz\nAbbildung 4.279.: Reales Gitter (links) und reziprokes Gitter (rechts).\n4.9.3.2. Streuung (Beugung) an Oberﬂächen\nAbbildung 4.280.: Skizze zur Streuung an Oberﬂächenatomen\nAbbildung 4.280 zeigt die Geometrie der Streuung. Die Einfallende ebene Welle wird mit und die gestreute ebene Welle mit ′ bezeichnet. Der Abstand der Streuzentren sei .\nDie Wegdiﬀerenzen der Wellenzüge zwischen zwei benachbarten Streuzentren sind\nAus dem Wegunterschied berechnet man die Phasendiﬀerenzen zu\nDie Phasendiﬀerenz ist\nmit Δ = ′− . Für die Amplituden gilt ψ′ = ψeiΔ i· für das i-te Atom.\nFür die Beträge der Wellenvektoren gilt\nmit der de Broglie–Wellenlänge λ und dem Impuls der Teilchen p.\nFür die Streuamplitude eines Netzes mit monoatomarer Basis erhält man:\nmit = v· 1 + w· 2. Für eine mehratomige Basis erhält man:\nfj ist der Streufaktor des j-ten Streuzentrums und j ist die Position dieses Streuzentrums in der Einheitszelle. Der erste Faktor in der Gleichung (4.30) hängt nur vom Oberﬂächennetz ab und nicht von der Struktur der Einheitszelle. Dieser Faktor wird Gittersumme\ngenannt. Der zweite Faktor in Gleichung (4.30) ist die geometrische Strukturamplitude\nDa in der Oberﬂäche liegt, ist\nAlso ist die Laue-Bedingung\nBei elastischer Streuung gilt\nAbbildung 4.281.: Ewald-Konstruktion für Oberﬂächennetze. Rechts wird ein Schnitt dargestellt.\nAus dieser Bedingung kann man die in Abb. 4.281 gezeigte Ewald-Konstruktion für Oberﬂächennetze ableiten.\nLEED[ISY82] ist die am häuﬁgsten angewandte Methode zur strukturellen Untersuchung periodischer Kristalloberﬂächen. Die Elektronen werden mit einer bestimmten, möglichst monochromatischen Energie aus einer wohldeﬁnierten Richtung auf die Probe gesandt. Ihre de Broglie-Wellenlänge muss von der gleichen Grössenordnung wie die Gitterperiode an der Kristalloberﬂäche sein. Wenn man eine Periodizität von 0.1nm annimmt, so ergibt sich\nDaraus folgt für die Energie\nAbbildung 4.282.: Aufbau eines LEED. Links ist die Elektronenkanone gezeigt. Rechts ist der schematische Aufbau des LEED-Schirms gezeigt.\nAbbildung 4.283.: Energieverlauf im LEED-Detektor. Rechts ist der Zwischenraum zwischen der Probe und dem Detektor.\nAbbildung 4.282 zeigt den Aufbau eines LEED. Die Elektronen stammen in der Regel aus einer thermischen Kathode, wie sie in der Abb. ?? gezeigt ist. Der von den Elektronen bei der Glühemission durchquerte Potentialverlauf ist in der Abb. ?? gezeigt. Nach der Beschleunigungsphase bewegen sich die Elektronen in einem feldfreien Raum bis zur Probe. Die rückgestreuten Elektronen nähern sich dem mit einer phosphoreszierenden Substanz belegten kugelkalottenförmigen Schirm in einem feldfreien Raum. Der Energieverlauf im LEED-Detektor ist schliesslich in der Abb. 4.283 gezeigt.\nDie Energieunschärfe bei der Emission muss mit der thermischen Energie bei Raumtemperatur verglichen werden. Diese ist ΔE ≈kT ≈ eV . Die Glühemission bei T = 2000K ist mit einer Energieunschärfe von ΔE ≈ 0.2eV behaftet und damit etwa acht mal grösser als kT bei Raumtemperatur. Die Energieunschärfe der Feldemission bei T = 300K ist schliesslich gleich der thermischen Energie kT, also ΔE ≈ 0.025eV .\nAbbildung 4.284.: Eindringtiefe der Elektronen als Funktion der Energie\nAbbildung 4.284 zeigt die Eindringtiefe der Elektronen als Funktion ihrer kinetischen Energie. Die Eindringtiefe ist für Elektronen mit einer Energie von etwa 100eV minimal. Bei höheren Energien, wie sie zum Beispiel bei RHEED (siehe Abschnitt 4.9.3.4) oder bei der Elektronenmikroskopie (siehe Abschnitt ??) vorkommen ist die Eindringtiefe grösser. Sie nimmt über etwa 500eV monoton mit der kinetischen Energie der Elektronen zu.\nFür LEED verwendet man Elektronen mit einer kinetischen Energie von 20 − 500eV . Die Eindringtiefe der Elektronen ist entsprechend kleiner als einen Nanometer.\nAbbildung 4.285.: Ewaldkonstruktion für LEED\nDas durch die Wechselwirkung der langsamen Elektronen mit der Probe entstehende Beugungsbild kann mit Hilfe der Ewald-Konstruktion nach Abb. 4.285 interpretiert werden.\nZwischen der periodischen Struktur der Probenoberﬂäche oder einer eventuell vorhandenen Überstruktur und der Überstruktur im reziproken Raum besteht folgender Zusammenhang:\nHier ist nach dem Anhang J S die die Struktur der Oberﬂäche charakterisierende Matrix. Nach der Gleichung (4.39) kennt man mit Srez auch S.\nDamit Beugungseﬀekte in der Abbildung mit Elektronen beobachtet werden können, muss die Kohärenzlänge der Elektronen grösser als die maximal möglichen Wegunterschiede sein. Wie bei Licht müssen zwei Arten von Kohärenz unterschieden werden.\nist gegeben durch die Energieunschärfe.\nist gegeben durch die Ausdehnung der Elektronenquelle (dominant)\nAbbildung 4.286.: Beugungsmuster und Deﬁnitionen zur Transferweite\nMit der Transferweite t (für die Deﬁnitionen siehe Abb. 4.286) bezeichnet man die Breite des Elektronenstrahls, die bei perfekter Quelle und perfekter Abbildung die gleiche Breite der Leuchtﬂächen bewirkt wie der Elektronenstrahl im realen LEED. Sie ist gegeben durch\nDamit wird t ≈ 10nm. Da Elektronen eine sehr kleine Kohärenzlänge haben und da sie als Fermionen nicht im gleichen Quantenzustand sein können26 kann jedes Elektron nur mit sich selber interferieren.\nAbbildung 4.287.: Schematische Skizze eines LEED-Bildes von Cu(110) (gezeichnet nach [ISY82]). Dies ist eine FCC-Struktur.\nAbbildung 4.288.: Schematische Skizze eines LEED-Bildes von Ni (111) bei einer Primärenergie von 205 eV (gezeichnet nach [ISY82]).\nNicht ideale Oberﬂächen Bei einer endlich ausgedehnten Probe treten neue Eﬀekte auf. Wir beschreiben die Struktur der Probenoberﬂäche mit der folgenden Gleichung\nHier sind 1 und 2 die Vektoren, die die Einheitszelle aufspannen. v und w sind ganze Zahlen, die die einzelnen Einheitszellen adressieren. Sie können auch als Vektor\ngeschrieben werden. Die Bewegung der Elektronen wird durch ihren k-Vektor beschrieben.\nDie Wellenfunktion der gestreuten Elektronen ist gegeben durch\nDie obigen Gleichungen können für die v- und die w-Komponente einzeln umgeschrieben werden. Man erhält\nDiese Summe ist nur ⇔ 0 wenn k1a1 ein Vielfaches von π ist. Dann ist nach dem Satz von l’Hôspital sin = V . Der Grenzwert für V →∞ ist die δ–Funktion. Daraus berechnet sich das Betragsquadrat der Elektronenwellenfunktion zu\nwobei |F| der Strukturfaktor aus ∑ jfjeiΔ j ist. Der Strukturfaktor beinhaltet die Information über die Struktur der Einheitszelle.\nDie Breite der Beugungsreﬂexe ist proportional zu beziehungsweise zu . Diese Aussage folgt aus der Tatsache, dass die erste Nullstelle von sin(k1a1V ) neben k1a1 = nπ bei k1a1 − liegt. Deshalb ist die Breite eines Reﬂexes .\nDomänen Bei vielen asymmetrischen Überstrukturen ist durch das Substrat keine Vorzugsrichtung vorgegeben. Deshalb können Domänen der Überstruktur mit unterschiedlicher Orientierung gleichzeitig auftreten.\nAbbildung 4.289.: Mosaikstruktur links im realen Raum und rechts im reziproken Raum\nMan spricht von einer Mosaikstruktur, wenn gleichzeitig mehrere leicht gegeneinander verkippte Gitter vorliegen.\nPaarkorrelation und LEED-Bilder Wir wandeln die Gittersumme in ein Integral um:\nalso ψΔ ist die Fouriertransformierte von P\nRelationen für Fouriertransformationen:\neiner Faltung entspricht das Produkt der Fouriertransformation. Wenn wir in der obigen Gleichung g = f∗ setzen, dann wird die Autokorrelation\nDamit wird das Leistungsspektrum\nGemessen werden in einem LEED-Experiment oder, allgemeiner, in einem beliebigen Streuexperiment die Intensitäten\nNach der Gleichung (4.53) ist die gemessene Intensität proportional zur Paarkorrelation der Streuzentren. Durch eine Theorie lässt sich aus der Paarkorrelationsfunktion die Intensitätsverteilung berechnen. Die Umkehrung ist aber nicht möglich, da bei der Intensitätsmessung die Phase verloren geht (Phasenproblem).\nAbbildung 4.290.: Beispiel: Regelmässige Domänen einer Kristallstruktur mit der Periode a jeweils im Abstand von (N + 1∕2)a\nBei einer komplexen Abbildung ist die Fouriertransformation der Paarkorrelationsfunktion der gesamten Abbildung das Produkt der Fouriertransformationen der Paarkorrelationsfunktionen der einzelnen Schritte der Abbildung. Dies entspricht im realen Raum dies einer Faltung. Abbildung 4.290 zeigt als Beispiel die Abbildung mit mehreren Domänen. Dabei ist ersichtlich, dass jeweils jeder zweite Spot ist aufgespalten ist. Sind die Domänen nicht streng periodisch angeordnet, überlagern sich alle möglichen Verbreiterungen. Die LEED-Spots sind dann verbreitert.\nMit dem gleichen Formalismus lassen sich die Beugungsmuster gestufter Oberﬂächen berechnen.\nGittergase Nichtperiodische Oberﬂächen können durch Gittergase beschrieben werden. Ein Gittergas ist ein Gas, dessen Teilchen sich statistisch verteilt auf Gitterplätzen aufhalten. Wenn nun eine Welle an dieser statistischen Oberﬂäche gestreut wird, dann ist die gestreute Intensität\nAnders als bei periodischen Anordnungen muss jedem Atom eine eigene Streuamplitude angenommen werden. Wenn man statistische Unabhängigkeit annimmt, dann gilt für m ⇔ n\nda keine Korrelation zwischen den einzelnen Faktoren herrscht. Für den Fall m = n herrscht jedoch eine strenge Korrelation. Deshalb muss zuerst quadriert und dann erst der Mittelwert berechnet werden.\nEingesetzt in Gleichung (4.54) erhält man\nAus Gleichung (4.58) ist ersichtlich, dass statistisch verteilte Streuzentren einen konstanten Untergrund bilden. Sie verbreitern die Reﬂexe jedoch nicht.\nAbhängigkeit des LEED-Bildes von der Elektronenenergie\nAbbildung 4.291.: Mögliche Wege der Elektronen bei der Streuung an Oberﬂächen.\nFür Elektronen sind die Intensitäten der Reﬂexe abhängig von der Elektronenenergie eV, vom Einfallswinkel φ, von d und von 1 und 2. Bei der Berechnung der Spannungsabhängigkeit muss der Einﬂuss des Strukturfaktors berücksichtigt werden. Bei einer Änderung der Spannung werden mehr oder weniger Netzebenen in der Tiefe beteiligt. Immer dann wenn die Elektronenenergie oder die Beschleunigungsspannung so ist, dass eine ganze Anzahl Netzebenen berücksichtigt werden, werden die Strukturfaktoren der beteiligten Atome in allen Tiefen phasenrichtig addiert. In allen anderen Fällen mittelt sich die gestreute Amplitude mehr oder weniger aus.\nWird die Intensität gegen die Beschleunigungsspannung aufgetragen und nicht gegen den Streuvektor, dann ergeben sich scharfe Maxima für alle Reﬂexe. Diese Maxima hängen vom Schichtabstand d und, ausser beim 0, 0-Reﬂex, auch vom Einfallswinkel ab.\nFür den 0, 0-Reﬂex gilt die Bragg-Bedingung für die folgenden Spannungen.\nFür Vielfache dieser Spannungen treten Intensitätsmaxima auf. Durch Messung von IΔ kann die Wechselwirkung der Elektronen mit der Probe bestimmt werden. Dies wird auch I-V-Messung genannt.\nDie oben vorgestellte einfache Rechnung kann mit realistischen Potentialen verbessert werden.\n4.9.3.4. RHEED: Reﬂection high energy electron diﬀraction\nLangsame Elektronen werden durch kleine elektrische und magnetische Streufelder abgelenkt. Elektronen höherer Energie zeigen wegen der kürzeren Wechselwirkungszeit mit den Störfeldern weniger Empﬁndlichkeit. Zudem ist bei höheren Elektronenenergien die relative Energieunschärfe kleiner.\nAbbildung 4.292.: Geometrie bei der RHEED-Abbildung. Links ist dargestellt, wie die Trajektorien der Elektronen angeordnet sind. Rechts ist gezeigt, wie die Ewald-Konstruktion zum Auﬃnden der RHEED-Reﬂexe angewandt werden.\nDie Geschwindigkeitskomponente der Elektronen senkrecht zur Oberﬂäche muss im LEED-Bereich (20-500 eV) sein. Die Energien sind\nDamit kann man die für eine Streuung benötigte Geschwindigkeitskomponente senkrecht zur Probenoberﬂäche berechnen.\nDie möglichen Einfallswinkel sind also\nWenn man typische Energien einsetzt wird der Einfallswinkel einer RHEED-Apparatur\nAbbildung 4.293.: Konstruktion der Reﬂexe bei RHEED. Links werden die Strukturen der Oberﬂächen gezeigt. Rechts ist das entsprechende RHEED-Bild. Von oben nach unten wird die Abbildung bei idealer Oberﬂäche, bei schwach gestuften Oberﬂächen, bei einer Mosaikstruktur, stark gestufte Oberﬂächen sowie 3D-Inseln\nDie bei RHEED Reﬂexe liegen auf Kreislinien. Bei der RHEED-Abbildung erzeugen Defekte zigarrenförmige Reﬂexe. Der Spiegelreﬂex (das ist der 0, 0-Reﬂex) zeigt Intensitätsmodulationen abhängig von der Oberﬂächenrauhigkeit.\nAbbildung 4.294.: RHEED-Kontrolle des Schichtwachstums zum Beispiel bei der Herstellung von Halbleiter-Quantenschichten.\nEin grosser Vorteil der RHEED-Abbildung ist der ﬂache Einfallswinkel der Elektronen. Deshalb ist fast der ganze Halbraum gegenüber der Probenoberﬂäche frei. Die Probenoberﬂäche ist für parallele laufende Experimente zugänglich. Typischerweise wird RHEED zur Prozesskontrolle bei Wachstumsprozessen verwendet. Abb. 4.294 zeigt links eine schematische Darstellung der Kristallstruktur und rechts den zeitlichen Verlauf der Intensität des Spiegelreﬂexes. Die Intensität bei einem perfekten Kristall ist maximal. Wenn das Schichtwachstum startet, dann sinkt die Intensität bis sie bei der halben Bedeckung minimal wird. Wenn eine Monolage voollständig abgeschieden ist, wird wieder ein Maximum erreicht. Dieses ist aber weniger hoch, da mit dem Kristallwachstum immer auch Defekte eingebaut werden.\nIm Gegensatz zu LEED ist das reziproke Gitter aus RHEED-Bildern sehr viel schwieriger zu bestimmen.


Taktraten bis 3,6 Gigahertz möglich: SIA äußert sich über die Entwicklung der Halbleitertechnik bis 2014 - computerwoche.de\nTaktraten bis 3,6 Gigahertz möglich\nSIA äußert sich über die Entwicklung der Halbleitertechnik bis 2014\nMÜNCHEN (CW) - Trotz einiger technischer Hindernisse wird die Chiptechnik in den nächsten 15 Jahren mit kaum verminderter Geschwindigkeit voranschreiten. Das jedenfalls prognostiziert die Herstellervereinigung Semiconductor Industry Association (SIA).\nIn ihrer Technology Roadmap wagt die SIA einen Blick in die Zukunft der Halbleitertechnik. Im wesentlichen werde sich die Entwicklung auch in den kommenden Jahren an Moore''s Law messen lassen können, so die Einschätzung. Die nach dem Intel-Mitbegründer Gordon Moore benannte Regel besagt, daß sich die Anzahl der Transistoren auf einem Chip alle 18 Monate verdoppelt.\nIn etwa fünf Jahren würden die Chiphersteller zwar bei der Entwicklung immer leistungsfähigerer Halbleiter an physikalische Grenzen stoßen. Diese seien unter anderem durch die Verwendung von Siliziumdioxid als Isolationsmaterial gegeben. Mit zunehmender Miniaturisierung kann das Material seine Funktion nicht mehr erfüllen. Mehrere Hersteller und Forschungsinstitute bastelten aber bereits an Alternativen.\nBis zum Jahr 2014 werden Mikroprozessoren mit Taktraten von bis zu 3,6 Gigahertz arbeiten, schätzt der Industrieverband. Die schnellsten derzeit erhältlichen CPUs für PCs sind mit 750 Megahertz getaktet (AMDs Athlon). In 15 Jahren werde sich zudem die Anzahl der Transistoren auf einem Chip von derzeit 64 Millionen auf 64 Milliarden vertausendfachen.\nDie Art und Weise, wie Halbleiter künftig gefertigt werden, wird sich der SIA zufolge auf lange Sicht grundsätzlich ändern. Wissenschaftler der University of California Los Angeles (Ucla) haben beispielsweise gemeinsam mit Forschern von HewlettPackard (HP) eine Technologie entwickelt, die den Bau von Computern in der Größe einzelner Moleküle (Nanocomputer) ermöglichen könnte.


【ᐅᐅ】test pelletofen Videotest ✅ Produkte im Vergleichtest - August 2020\nUm an den Kauf von test pelletofen heranzugehen gibt es immer verschiedene Möglichkeiten. Die eine ist, sich alle Möglichkeiten über test pelletofen selbst zusammenzusuchen und so nach einiger Zeit und langem Suchen das richtige test pelletofen zu finden. Eine andere Option ist der Vergleich von den einzelnen Varianten von test pelletofen in einem test pelletofen Test. In unserem großen test pelletofen Test bieten wir verschiedene Modelle von bekannten und weniger bekannten Marken und gehen auf die Funktionen von jedem test pelletofen ein. Außerdem zeigt der test pelletofen Test nicht nur die Vorteile von jedem Produkt, sondern auch die jeweiligen Nachteile. Die Entscheidung für ein test pelletofen fällt durch den test pelletofen Test in jedem Fall leichter, da die Möglichkeiten schon übersichtlich miteinander verglichen werden. 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Diese sind zum Teil ja doch sehr unterschiedlich und sonst ist es gar nicht so einfach, ein geeignetes test pelletofen zu finden.\nWeitere wichtige Kriterien für den Kauf von test pelletofen sind die Marke oder das genaue Modell mit den Funktionen und natürlich der Preis. Im Normalfall spielt der Preis von test pelletofen sehr wohl eine Rolle und dann macht es Sinn, eine Grenze von dem Preis früh genug zu bestimmen. Schließlich ist eine Entscheidung für ein bestimmtes test pelletofen eher nicht sinnvoll, wenn dieses dann gar nicht bezahlt werden kann. Aus diesem Grund ist die Bestimmung von einem genauen Budget empfehlenswert und hilft in jedem Fall bei der Eingrenzung der vorhandenen Möglichkeiten von test pelletofen weiter.\nDer test pelletofen Test hilft beim Beachten der eigenen Bedürfnisse\nViel zu oft werden die eigenen Bedürfnisse nicht richtig beachtet. Das gilt im allgemeinen Sinn, jedoch auch beim Kauf von Produkten wie test pelletofen. Dabei sind die eigenen Bedürfnisse doch sehr wichtig und entscheiden mit darüber, ob das test pelletofen aus dem test pelletofen Test wirklich passt. Andernfalls kann es schnell passieren, dass test pelletofen als Fehlinvestition angesehen wird. Nicht jeder benötigt das gleiche Produkt und ein test pelletofen kann daher auch nicht für jeden Bereich eingesetzt werden. Damit test pelletofen eben keine Fehlinvestition darstellt macht es Sinn, sich auf die Anforderungen an test pelletofen zu konzentrieren. Denn dann fällt oft sehr schnell auf, dass bestimmte Funktionen gar nicht nötig sind und andere hingegen nicht fehlen dürfen. Ein wenig mehr auf die eigenen Bedürfnisse zu achten ist daher auch beim test pelletofen Kaufen von Bedeutung. Der test pelletofen Test hilft auch dabei, die eigenen Bedürfnisse zu erkennen. Schließlich werden Funktionen und bestimmte Ausstattungsmerkmale miteinander verglichen. Dadurch ist es auch leichter zu sagen, was man nicht will und was in jedem Fall bei test pelletofen vorhanden sein muss.\ntest pelletofen durch den test pelletofen Test finden – Werbung ausblenden\nEs gibt mittlerweile das große Problem, dass Produkte wie test pelletofen von allen Seiten durch die Werbung angeboten werden. Dabei werden natürlich vor allem die Vorteile sehr in den Vordergrund geschoben und test pelletofen wird als die perfekte Wahl angepriesen. Gerade die größeren Firmen oder bekannte Märkte bieten dort ihr Modell von test pelletofen an und die kleineren Unternehmen gehen in dem Kampf um Aufmerksamkeit oft unter. Dadurch wird es aber nicht unbedingt einfacher, dass perfekte Produkt für die eigenen Bedürfnisse zu finden. Schließlich geht es beim passenden test pelletofen nicht um große Versprechungen der Werbung, sondern vielmehr um die Tatsachen. Und die können manchmal ganz anders aussehen. Es macht daher Sinn, sich möglichst nicht zu sehr von der überall präsenten Werbung beeinflussen zu lassen und die Wahl lieber aufgrund von Fakten zu treffen. Dabei hilft ein großer test pelletofen Test in jedem Fall, denn dort werden die verschiedenen und teilweise stark beworbenen Varianten von test pelletofen näher betrachtet. Vielleicht fallen dabei Funktionen auf, die in der Werbung gar nicht in den Vordergrund gerückt wurden – aber sehr wichtig für den jeweiligen Einsatz sind.\nEine günstige Lieferung von test pelletofen finden\nSelbst wenn der Preis von test pelletofen in einem Online Shop stimmt, gilt es auch die Lieferung genauer zu betrachten. Sonst kann es schnell passieren, dass die Lieferung recht teuer ist und die Preisersparnis beim Kauf von test pelletofen im jeweiligen Shop gar nicht mehr so groß ist. Sehr günstig oder vielmehr kostenfrei ist in vielen Fällen die Lieferung von test pelletofen über Amazon. Daher ist ein Blick auf das Angebot von Amazon wirklich hilfreich, da dann auch die Kosten für eine Lieferung minimiert werden können. Andere Anbieter geben einen günstigen Preis für die jeweilige Variante von test pelletofen an – beim test pelletofen kaufen fallen dann aber gar nicht günstige Kosten für die Lieferung auf.\nDie Zahlungsarten zum bequemen test pelletofen Kaufen aussuchen\nEin weiterer wichtiger Aspekt beim Kauf von test pelletofen ist ganz sicher, ob verschiedene Zahlungsarten im Shop angeboten werden. Zu den fast immer vorhandenen Möglichkeiten zählen heutzutage die Bezahlung von test pelletofen mit der Kreditkarte, per Lastschrift oder per Banküberweisung. Sehr beliebt ist darüber hinaus die Bezahlung von test pelletofen per PayPal, da die Zahlung als besonders sicher gilt. Bei Amazon werden im Normalfall beim Kauf von test pelletofen noch weitere Optionen angeboten. Auf diese Weise ist es einfach, test pelletofen bequem zu kaufen und günstig zu sich liefern zu lassen. Schließlich ist nicht für jeden Nutzer die Kreditkarte ideal und andere haben vielleicht kein Konto bei PayPal zur Bezahlung von test pelletofen.\ntest pelletofen sicher einkaufen und test pelletofen sicher liefern lassen\nDas Umtauschrecht beim test pelletofen Kaufen beachten – oder eher darauf achten, dass ein solches Umtauschrecht vorhanden ist, spielt ebenfalls eine Rolle beim Kauf. Denn ohne ein Umtauschrecht von 14 Tagen wie es bei Amazon gewährt wird ist es oft schwierig, sich wirklich für ein Produkt zu entscheiden. Mit dem Rückgaberecht können Sie im Falle eines Schadens ebenfalls test pelletofen zurücksenden. Darüber hinaus haben Sie einige Tage nach dem Erhalt von test pelletofen Zeit, bis Sie sich wirklich dafür entscheiden müssen. Zusammen mit dem Umtauschrecht ist auch die sichere Lieferung von test pelletofen sehr wichtig. Nur dann kommt test pelletofen auch wirklich zum gewünschten Ziel und wird so behandelt, dass es in den meisten Fällen auch ohne Schaden ankommt. Ganz selbstverständlich ist das ja nicht. Das Rückgaberecht, ein sicherer Einkauf und eine zuverlässige Lieferung von test pelletofen sind daher sehr wichtige Kriterien für den Kauf von einem test pelletofen. Da diese Punkte nicht im test pelletofen Test miteinander verglichen werden, ist es hilfreich auf einen sicheren Online-Shop wie auf Amazon zurückzugreifen. Dort müssen keine Probleme mit der Lieferung oder der Bezahlung befürchtet werden.\nBeim Kauf von test pelletofen Bewertungen anderer Kunden im test pelletofen Test lesen\nImmer wichtiger wird bei der Entscheidung für oder gegen eine Variante von test pelletofen auch, was denn andere Kunden von diesem Produkt halten. Die Erfahrungen nach dem Kauf und der Benutzung werden geteilt und helfen anderen Interessenten dabei, eine gute Option für sich selbst zu finden. Wenn Sie sich nicht zwischen zwei oder drei Modellen für ein bestimmtes test pelletofen entscheiden können, helfen die Bewertungen wirklich oft weiter.\nFazit: Das passende test pelletofen durch den test pelletofen Test finden\nDer test pelletofen Test ist ein beliebtes und einfach anzuwendendes Hilfsmittel, um sich für eine bestimmte Variante von test pelletofen zu entscheiden. Dadurch besteht die Möglichkeit, aus verschiedenen Angeboten genau das richtige test pelletofen herauszufiltern und so ein überzeugendes Produkt zu erhalten. Die eigenen Bedürfnisse sollten vor dem genauen studieren vom test pelletofen Test immer beachtet werden. Nur dann ist es auch möglich, wirklich ein passendes Modell auszuwählen und am Ende zufrieden mit der Auswahl zu sein. Die Vorteile und Nachteile vom jeweiligen test pelletofen spielen dann genau wie die Bewertungen von anderen Kunden eine Rolle bei der Kaufentscheidung. Letztendlich ist es ohnehin für einige Nutzer leichter und für andere schwieriger, eine passende Variante von test pelletofen auszuwählen. Wichtig ist vor allem, dass es kaum ein perfektes test pelletofen für jeden Anspruch gibt. Manche Anforderungen sind so speziell, dass es noch gar kein entsprechendes Produkt auf dem Markt gibt – oder das jeweilige Produkt ist nicht bezahlbar. Im Allgemeinen stellt der genauere Blick in einen umfassenden test pelletofen Test aber eine gute Option dar, um eine passende Entscheidung zu treffen.\ntest peletofen Videotest, est pelletofen Videotest, rest pelletofen Videotest, 5est pelletofen Videotest, 6est pelletofen Videotest, zest pelletofen Videotest, gest pelletofen Videotest, fest pelletofen Videotest, tst pelletofen Videotest, twst pelletofen Videotest, t3st pelletofen Videotest, t4st pelletofen Videotest, trst pelletofen Videotest, tdst pelletofen Videotest, tsst pelletofen Videotest, tet pelletofen Videotest, teat pelletofen Videotest, tewt pelletofen Videotest, teet pelletofen Videotest, tedt pelletofen Videotest, text pelletofen Videotest, teyt pelletofen Videotest, tes pelletofen Videotest, tesr pelletofen Videotest, tes5 pelletofen Videotest, tes6 pelletofen Videotest, tesz pelletofen Videotest, tesg pelletofen Videotest, tesf pelletofen Videotest, testpelletofen Videotest, test elletofen Videotest, test oelletofen Videotest, test 0elletofen Videotest, test üelletofen Videotest, test öelletofen Videotest, test lelletofen Videotest, test plletofen Videotest, test pwlletofen Videotest, test p3lletofen Videotest, test p4lletofen Videotest, test prlletofen Videotest, test pdlletofen Videotest, test pslletofen Videotest, test peletofen Videotest, test pekletofen Videotest, test peiletofen Videotest, test peoletofen Videotest, test pepletofen Videotest, test peöletofen Videotest, test peletofen Videotest, test pelketofen Videotest, test pelietofen Videotest, test peloetofen Videotest, test pelpetofen Videotest, test pelöetofen Videotest, test pelltofen Videotest, test pellwtofen Videotest, test pell3tofen Videotest, test pell4tofen Videotest, test pellrtofen Videotest, test pelldtofen Videotest, test pellstofen Videotest, test pelleofen Videotest, test pellerofen Videotest, test pelle5ofen Videotest, test pelle6ofen Videotest, test pellezofen Videotest, test pellegofen Videotest, test pellefofen Videotest, test pelletfen Videotest, test pelletifen Videotest, test pellet9fen Videotest, test pellet0fen Videotest, test pelletpfen Videotest, test pelletlfen Videotest, test pelletkfen Videotest, test pelletoen Videotest, test pelletoden Videotest, test pelletoeen Videotest, test pelletoren Videotest, test pelletoten Videotest, test pelletogen Videotest, test pelletoven Videotest, test pelletocen Videotest, test pelletofn Videotest, test pelletofwn Videotest, test pelletof3n Videotest, test pelletof4n Videotest, test pelletofrn Videotest, test pelletofdn Videotest, test pelletofsn Videotest, test pelletofe Videotest, test pelletofeb Videotest, test pelletofeh Videotest, test pelletofej Videotest, test pelletofem Videotest, test pelletofenVideotest, test pelletofen ideotest, test pelletofen Cideotest, test pelletofen Fideotest, test pelletofen Gideotest, test pelletofen Bideotest, test pelletofen Vdeotest, test pelletofen Vjdeotest, test pelletofen Vudeotest, test pelletofen V8deotest, test pelletofen V9deotest, test pelletofen Vodeotest, test pelletofen Vkdeotest, test pelletofen Vieotest, test pelletofen Viseotest, test pelletofen Vieeotest, test pelletofen Vireotest, test pelletofen Vifeotest, test pelletofen Viceotest, test pelletofen Vixeotest, test pelletofen Vidotest, test pelletofen Vidwotest, test pelletofen Vid3otest, test pelletofen Vid4otest, test pelletofen Vidrotest, test pelletofen Viddotest, test pelletofen Vidsotest, test pelletofen Videtest, test pelletofen Videitest, test pelletofen Vide9test, test pelletofen Vide0test, test pelletofen Videptest, test pelletofen Videltest, test pelletofen Videktest, test pelletofen Videoest, test pelletofen Videorest, test pelletofen Video5est, test pelletofen Video6est, test pelletofen Videozest, test pelletofen Videogest, test pelletofen Videofest, test pelletofen Videotst, test pelletofen Videotwst, test pelletofen Videot3st, test pelletofen Videot4st, test pelletofen Videotrst, test pelletofen Videotdst, test pelletofen Videotsst, test pelletofen Videotet, test pelletofen Videoteat, test pelletofen Videotewt, test pelletofen Videoteet, test pelletofen Videotedt, test pelletofen Videotext, test pelletofen Videoteyt, test pelletofen Videotes, test pelletofen Videotesr, test pelletofen Videotes5, test pelletofen Videotes6, test pelletofen Videotesz, test pelletofen Videotesg, test pelletofen Videotesf


Wasserzähler werden gewechselt - Kapitel 1805\nIm Bereich des Stadtgebiets Marsberg werden in den nächsten Monaten wegen Ablauf der Eichfrist turnusgemäß ca. 1.200 Wasserzähler des Eichjahres 2012 gewechselt. Dieser Service ist kostenlos. Da das Eichjahr auf den Wasserzählern angegeben ist, kann jeder Grundstückseigentümer erkennen, ob sein Zähler zum Wechsel ansteht.\nMit dem Wechsel der Zähler sind in diesem Jahr zwei Installationsbetriebe beauftragt worden. Es wird darum gebeten, den Mitarbeitern der Fa. Bunse und der Fa. Lachenit den freien Zugang zu den Zählern zu ermöglichen. Die beauftragten Mitarbeiter können sich ausweisen. Der bei dem Zählerwechsel anwesende Grundstückseigentümer oder Mieter wird gebeten, sich zu vergewissern, dass der auf dem Wechselbeleg notierte Zählerstand mit dem des Wasserzählers übereinstimmt, da der Ausbaustand eine Grundlage für die kommende Jahresverbrauchsabrechnung ist.


Nieder�sterreicher bei Fahrradunfall schwerst verletzt > Kleine Zeitung\nZuletzt aktualisiert: 26.07.2009 um 14:44 UhrKommentare\nNieder�sterreicher bei Fahrradunfall schwerst verletzt35-j�hriger Urlauber aus Nieder�sterreich erlitt nach einem Sturz mit seinem Mountainbike ein schweres Sch�del-Hirn-Trauma. Er musste ins LKH Klagenfurt geflogen werden.Foto © APA / SymbolbildEin Urlauber aus Nieder�sterreich ist am Sonntag in K�rnten bei einem Fahrradunfall schwerst verletzt worden. Der Mann erlitt ein Sch�del-Hirn-Trauma.\nDer 35-J�hrige aus Heidenreichstein (Bezirk Gm�nd) war auf der Eggeralm-Stra�e zwischen Hermagor und St. Stefan im Gailtal mti seinem Mountainbike talw�rts gefahren, als er aufgrund eines Fahrfehlers zu Sturz kam. Er schlug mit dem Kopf auf der Stra�e auf und erlitt trotz des Radhelms schwerste Verletzungen. Der Nieder�sterreicher wurde mit dem Rettungshubschrauber ins Landeskrankenhaus nach Klagenfurt geflogen.


Gemeinschaftspraxis für Radiologie und Nuklearmedizin in der Kaiser-Passage: Digitales Röntgen\nDiagnostisches Spektrum: Digitales Röntgen\nDie konventionelle Röntgentechnik nutzt Röntgenstrahlung zur Abbildung ausgewählter Körperbereiche. In Verbindung mit Kontrastmitteln können der Magen/Darmtrakt die Nieren, die Gallengänge und Gallenblase sowie Gefäße untersucht werden.\nWie funktioniert die digitale Radiographie?\nMittels einer Röntgenröhre werden Röntgenstrahlen erzeugt. Diese werden anschließend über Blendensyteme auf die zu untersuchende Körperregion eingegrenzt, so daß die übrigen Körperteile nicht dem Strahlenfeld ausgesetzt sind und auch geschützt werden. Nach Eindringen der Strahlen in den Körper werden sie durch die verschiedenen Dichten des Gewebes mehr oder weniger stark abgeschwächt. Kompaktes Gewebe wie Knochen oder Fremdmaterialien wie Endoprothesen weisen eine sehr hohe Dichte auf und absorbieren einen hohen Strahlenanteil, während beispielsweise Lungengwebe auf Grund seines hohen Luftanteils nur eine geringe Absorption zeigt. Auf der Gegenseite werden die unterschiedlich abgeschwächten Strahlen von einem Detektor (Speicherfolien oder digitale Detektoren) erfaßt.\nWann wird eine Radiographie veranlasst?\nDie Haupteinsatzgebiete der Radiographie liegen heute in der Diagnostik von krankhaften Veränderungen in der Lunge (z.B. Lungenentzündungen), der Beurteilung der Herzkonfiguration sowie in der Erkennung von Erkrankungen des Skelettsystems (z.B. Knochenbrüche) und der Beurteilung von Nasennebenhöhlenentzündungen.\nEine spezielle Vorbereitung der Untersuchung ist in der Regel nicht notwendig. Vor der Untersuchung sollten alle äußerlichen Gegenstände an der Körperoberfläche aus dem Untersuchungsgebiet entfernt werden (z.B. BH-Bügel, Schmuckstücke usw.), um eine Überlagerung auf den Aufnahmen zu vermeiden. Hierbei helfen Ihnen gerne unsere MTR-Assistenten.\nWie wird die Röntgenuntersuchung durchgeführt?\nEntsprechend der zu untersuchenden Region erfolgt die Aufnahme nach Standardpositionen im Stehen, Sitzen oder Liegen, wobei die Körperregion durch die MTRA in standartisierte Stellung gebracht wird. Strahlensensible Körperregionen (Gonaden) werden zusätzlich durch Bleischürzen geschützt. Da es sich bei der konventionellen Radiographie um eine Projektionaufnahme handelt, ist es häufig sinnvoll eine weitere Aufnahme in einer anderen Projektionsebene zu erstellen, um Organstrukturen besser räumlich zuordnen zu können.\nSpektrum der angebotenen Untersuchungen :\nRöntgen Felsenbein nach Schüller


„Sturm der Liebe“: Noch eine GNTM-Kandidatin bald am „Fürstenhof“ zu sehen\n22. Mai 2019 - 15:29 Uhr / Fiona Habersack\nDas Hotel „Fürstenhof“ ist seit 2005 Hauptkulisse von „Sturm der Liebe“\n(© imago images / Michael Westermann)\n„Sturm der Liebe“ bekommt einen Neuzugang. Nachdem die ehemalige „Germany’s Next Topmodel“-Kandidatin Larissa Marolt in der 14. Staffel der ARD-Telenovela eine Hauptrolle ergattern konnte, wagt sich nun ein weiteres EX-GNTM-Girl an den „Fürstenhof“ zu „Sturm der Liebe“: Rebecca Mir.\nWie am Mittwoch auf dem offiziellen Instagram-Account von „Sturm der Liebe“ bekanntgegeben wurde, wird Rebecca Mir (27) bald in der beliebten Telenovela zu sehen sein. Ein kurzer Clip zeigt Rebecca am Set der Serie, lässt jedoch noch einige Geheimnisse offen.\nFröhlich verkündet das Model lediglich: „Hi ihr Lieben, mein Name ist Rebecca Mir und ich bin heute am Set von ,Sturm der Liebe’!“ Welche Rolle Rebecca bei „Sturm der Liebe“ spielen wird und ob sie nur für einen Gastauftritt erscheint oder doch länger bleibt, ist bisher unklar.\nEin Sprungbrett für ihre Karriere war GNTM aber allemal. Rebecca ist erfolgreich im Model-Business unterwegs und arbeitet außerdem als Moderatorin. Nun will sie sich auch an die Schauspielerei wagen.


Stud-Blog » Die gute studentische Diskussion – 8 Positionen für mehr Intellektuelle Redlichkeit\nDie gute studentische Diskussion – 8 Positionen für mehr Intellektuelle Redlichkeit\nIn der Universität kommt es sehr auf Verständigung und die Möglichkeit des „Überlegenkönnens“ an, um Gründe und Gegengründe für bestimmte Diskussionspunkte finden zu können. Insbesondere Seminare sollen der Verständigung und des gemeinschaftlichen „Überlegenkönnens“ dienen. Diese Rationalität ist allerdings voraussetzungsvoll, sie basiert auf intellektueller Redlichkeit. Jeder hat mal einen schlechten Tag, ein bestimmtes Kriterium, intellektuelle Redlichkeit, gilt aber jederzeit […]\nIn der Universität kommt es sehr auf Verständigung und die Möglichkeit des „Überlegenkönnens“ an, um Gründe und Gegengründe für bestimmte Diskussionspunkte finden zu können. Insbesondere Seminare sollen der Verständigung und des gemeinschaftlichen „Überlegenkönnens“ dienen. Diese Rationalität ist allerdings voraussetzungsvoll, sie basiert auf intellektueller Redlichkeit. Jeder hat mal einen schlechten Tag, ein bestimmtes Kriterium, intellektuelle Redlichkeit, gilt aber jederzeit für jeden.\nStud-Blog hat da ein paar Hinweise, wie man diese Tugend erwirbt:\n1. Niemals das eigene Argument überbewerten: Intellektuelle Redlichkeit steht im Zusammenhang mit Demut, nicht Arroganz. Selbstzweifel und die Sorge um die Richtigkeit des Argumentes gehören ebenfalls dazu.\n2. Ehrlichkeit im Umgang mit Alternativen: Intellektuelle Redlichkeit zeichnet sich durch die Bereitschaft aus, alternative Sichtweisen zu würdigen. Wahrheit lässt sich nur schwer monopolisieren.\n3. Zu den eigenen argumentativen Schwächen stehen: Die Fähigkeit, eigenen Annahmen auch öffentlich zu hinterfragen und Schwachstellen zu offenbaren, ist westlich besser, als den eigenen Ansatz und die damit zusammenhängenden Aussagen in irgendeiner kreativen Art zu immunisieren. Irgendwann kommt jede Verzerrung auf den Tisch oder das Mikroskop. Das verschleiern oder herunterzuspielen von Schwachstellen ist unredlich.\n4. Mut zur Revidierung: Die Bereitschaft, öffentlich die Falschheit oder Trivialität des eigenen Arguments anzuerkennen, sollte man entwickeln. Das Gegenteil ist Merkmal einer unredlichen Mentalität. Die eigene Position notfalls zu revidieren, ist ein starkes Zeichen geistiger Redlichkeit.\n5. Niemals mit zweierlei Maß urteilen: Wer einen übermäßig hohen argumentativen Standard für gegnerische Argumente setzt, für sich und Verbündete aber eine sehr viel geringe Norm akzeptiert, der macht einen großen Fehler. Es ist nicht nur unzulässig, Werturteil zugunsten der eigenen Anliegen zu fällen, es fällt auch schnell negativ auf.\n6. Nie gegen die Person: Man sollte immer das Argument angreifen, niemals die argumentierende Person. Am schlimmsten sind die subtilen Varianten dieser Unredlichkeit. Unterstellungen in Bezug auf die Fähigkeit zum korrekten Argumentieren, auf fehlendes Fachwissen, eine ungeeignete Profession usw., sollten vermieden werden.\n7. Ehre wem Ehre gebührt: Würdige öffentlich die Kritik des Gegenübers. Die Unart, offensichtlich leistungsfähige Kritikpunkte nicht zu würdigen, zeigt mangelndes Interesse an einem ehrlichen intellektuellen Austausch an.\n8. Klar und deutlich: Man sollte sich immer um ein Höchstmaß an Verstehbarkeit bemühen. Schwache Argumente durch kryptische Sprache und persuasive Rhetorik hermetisch gegen Kritik abzuriegeln, ist hochgradig unredlich.\nSchlagwörter: Intellektuelle Redlichkeit, Tipps\n« Verrücktheiten studieren – Die 6 blödesten Universitätskurse der Welt (die so mancher Studierende sich auch an seiner Universität wünscht)\n» Die Serendipitätstugenden – 5 alternative wissenschaftliche Tugenden, die die Welt veränderten\nWolli hat diesen Kommentar 17. März 2009 geschrieben| Permalink\nna das sollte man nicht nur an der uni so handhaben. intellektuelle redlichkeit sollte man überall anstreben.\ntester hat diesen Kommentar 18. März 2009 geschrieben| Permalink\ndas finde ich allerdings auch wolli\nJR hat diesen Kommentar 11. Mai 2009 geschrieben| Permalink\nI like the habitus asserta demonstrandi!\nASS hat diesen Kommentar 13. Januar 2017 geschrieben| Permalink\nNaja, die Redlichgkeit selber zu üben ist gut solang die Umgebung dem auch bestrebt ist. Aber in einer Kultur in der die Meinungsbekundung in sozialen Medien immer wichtiger wird macht es nicht einfacher.\njay bates hat diesen Kommentar 9. September 2018 geschrieben| Permalink\nGuter Ansatz, aber handwerklich lieblos und schlampig realisiert:\n@ 3. Schreibfehler „ist westlich besser“\n@ 3. Falsche Grammatik bzw. falsches Bild: „kommt jede Verzerrung auf den Tisch oder das Mikroskop.“ AUF das Mikroskop??\n@ 8. Unter „Klar und deutlich“ eine Fremdwörter-Sammlung „kryptische Sprache und persuasive Rhetorik hermetisch“?\nStudido/Bushido – Was man als Student von Samurai lernen kann | Stud-Blog on 21. Oktober 2009\n[…] handelt sich dabei im Wesentlichen um intellektuelle Redlichkeit, worüber wir in unseren Beitrag 8 Positionen für mehr Intellektuelle Redlichkeit geschrieben […]


Fuhrmann, Maximilian - alle Bücher Online\nBücher von Fuhrmann, Maximilian\nSie suchen ein Buch oder Publikation vonFuhrmann, Maximilian ? Bei Buch findr finden Sie alle Bücher Fuhrmann, Maximilian. Entdecken Sie neue Bücher oder Klassiker für Sie selbst oder zum Verschenken. Buch findr hat zahlreiche Bücher von Fuhrmann, Maximilian im Sortiment. Nehmen Sie sich Zeit zum Stöbern und finden Sie das passende Buch oder die Publiketion für Ihr Lesevergnügen oder Ihr Interessensgebiet. Stöbern Sie durch unser Angebot und finden Sie aus unserer großen Auswahl das Buch, das Ihnen zusagt. Bei Buch findr finden Sie Romane, Ratgeber, wissenschaftliche und populärwissenschaftliche Bücher uvm. Bestellen Sie Ihr Buch zu Ihrem Thema einfach online und lassen Sie es sich bequem nach Hause schicken. Wir wünschen Ihnen schöne und entspannte Lesemomente mit Ihrem Buch von Fuhrmann, Maximilian .\nFuhrmann, Maximilian - Große Auswahl an Publikationen bei Buch findr\nBei uns finden Sie Bücher aller beliebter Autoren, Neuerscheinungen, Bestseller genauso wie alte Schätze. Bücher von Fuhrmann, Maximilian die Ihre Fantasie anregen und Bücher, die Sie weiterbilden und Ihnen wissenschaftliche Fakten vermitteln. Ganz nach Ihrem Geschmack ist das passende Buch für Sie dabei. Finden Sie eine große Auswahl Bücher verschiedenster Genres, Verlage, Schlagworte Genre bei Buchfindr:\nSie haben viele Möglichkeiten bei Buch findr die passenden Bücher für Ihr Lesevergnügen zu entdecken. Nutzen Sie unsere Suchfunktionen, um zu stöbern und für Sie interessante Bücher in den unterschiedlichen Genres und Kategorien zu finden. Neben Büchern von Fuhrmann, Maximilian und Büchern aus verschiedenen Kategorien finden Sie schnell und einfach auch eine Auflistung thematisch passender Publikationen. Probieren Sie es aus, legen Sie jetzt los! Ihrem Lesevergnügen steht nichts im Wege. Nutzen Sie die Vorteile Ihre Bücher online zu kaufen und bekommen Sie die bestellten Bücher schnell und bequem zugestellt. Nehmen Sie sich die Zeit, online die Bücher Ihrer Wahl anzulesen, Buchempfehlungen und Rezensionen zu studieren, Informationen zu Autoren zu lesen. Viel Spaß beim Lesen wünscht Ihnen das Team von Buchfindr.


Schmidt: “Das war nicht mehr das, was ich wollte“ | radsport-news.com\nInterview mit dem Ex-Katusha-Sportdirektor\nSchmidt: “Das war nicht mehr das, was ich wollte“\nTorsten Schmidt, ehemaliger Sportlicher Leiter bei Katusha - Alpecin | Foto: privat\n08.03.2019 | (rsn) - Torsten Schmidt war seit der Saison 2012 Sportlicher Leiter beim Team Katusha - Alpecin. Im vergangenen Herbst trennten sich die Wege. Im Interview mit radsport-news.com sprach der 47-Jährige über seinen Abgang bei der in der Schweiz lizenzierten Equipe und seine aktuelle Tätigkeit als Landesverbandstrainer der U17 in Nordrhein-Westfalen.\nDerzeit laufen die ersten Klassiker, bei denen Sie im letzten Jahrzehnt als Sportlicher Leiter im Einsatz waren. Wie fühlt es sich an, diesmal nicht mit von der Partie zu sein?\nTorsten Schmidt: Auf der einen Seite denke ich gerne zurück an die Erfolge, die meine Sportler in der Vergangenheit zum Klassikerauftakt gehabt haben. Ich war jetzt aber 25 Jahre im Profiradsport und muss sagen, mir hat nichts gefehlt. Ich habe es genossen, die Zeit mit Fahrrad fahren und mit meiner Familie zu verbringen.\nIn den sozialen Netzwerken kann man sehen, wie Sie mit Ihren Söhnen auf Mallorca trainieren. War es ein bewusster Schritt, gerade jetzt etwas anderes zu machen und die Rennen nicht vor dem Fernseherzu verfolgen?\nSchmidt: Nein. Der UCI-Rennkalender ist fix und mein beruflicher Kalender auch. Es war keine Flucht, ich muss vor nichts wegrennen. Ich schaue mir abends die Ergebnisse an und habe noch Kontakt zu Fahrern, mit denen ich ein enges Verhältnis habe, etwa Nils Politt.\nNach sieben Jahren als Sportlicher Leiter bei Katusha - Alpecin war für Sie im vergangenen Herbst Schluss. Was waren die Gründe?\nSchmidt: Es war schon im Sommer klar, dass es nicht mehr weitergehen würde. Darüber waren sich beide Seiten einig. Seit der neuen Besetzung im Head-Management war ich mit der Entwicklung im Team nicht mehr zufrieden. Dazu hat mir in manchen Bereichen die interne Anerkennung gefehlt. Nach zwölf Jahren als Sportlicher Leiter hatte ich auch die Reife zu sagen: Das war nicht mehr das, was ich wollte. Die Bereitschaft für die Performance war nicht mehr so, wie ich es gewohnt war. Dennoch möchte ich sagen, dass es auch 2018 noch schöne Momente gab, etwa mit der Deutschland Tour, wo wir mit einer tollen Truppe am Start standen. Das hat mir richtig Spaß gemacht, auch wenn da schon klar war, dass ich das Team verlassen würde.\nHatten Sie keine Ambitionen, bei einem anderen Profiteam als Sportlicher Leiter tätig zu sein?\nSchmidt: Die einzige Option wäre gewesen, beim Aufbau eines neuen Teams zu helfen. Bei einem bestehenden Rennstall einfach als Sportlicher Leiter einzusteigen, das wollte ich nicht. Und ich habe relativ schnell gemerkt, dass ich mich lieber um den Nachwuchs kümmern möchte.\nSchmidt: Ich bin seit vergangenem Herbst U17-Trainer im Landesverband Nordrhein-Westfalen. Ich betreue 17 Jugendliche, darunter vier Mädchen. Die Arbeit macht mir viel Spaß, es ist eine neue Herausforderung, und ich möchte auch an der Basis etwas von meiner Erfahrung zurückgeben. Und schon nach wenigen Wochen kann ich sagen: Ich bin sehr glücklich mit meiner neuen Tätigkeit.\nSie sind aber auch in beratender Funktion bei Lotto – Kern Haus aktiv. Wie sieht die aus?\nSchmidt: Beratende Funktion ist dafür fast schon ein zu großes Wort. Wenn das Team meinen Rat braucht, stehe ich natürlich zur Verfügung. Ich habe mit Teamchef Florian Monreal seit Jahren einen engen Kontakt und unterstütze die Mannschaft, wenn es gewünscht wird. Aber einen "Klugscheißer von hinten" brauchen sie nicht. Ich treffe dort keine Entscheidungen, stelle aber zum Beispiel mal einen Kontakt zu einem Rennveranstalter her. Und falls alle Sportlichen Leiter ausfielen, dann würde ich als Freundschaftsdienst sicherlich auch mal im Begleitwagen sitzen.\nDerzeit drehen sich viele Schlagzeilen um die "Operation Aderlass", in die auch Radsportler wie Denifl und Preidler verwickelt sind. Muss man nun an der Effektivität des Blutpasses zweifeln?\nSchmidt: Ich bin kein Mediziner, kein Fachmann, bilde mir meine Meinung selbst aus den Medien. Ich könnte nur eine laienhafte Aussage treffen und möchte deshalb den Experten die Urteilsbildung überlassen.\nGab es bei Katusha – Alpecin für Sie auch mal alarmierende Zeichen?\nSchmidt: Es gibt Teamärzte und die Trainer, die natürlich hellhörig werden sollten, wenn es nicht nachvollziehbare Leistungssprünge gibt. Die sollten dann intern unbedingt angesprochen werden. Ich kann nur für die Sportler sprechen, die ich betreut habe, da waren die Entwicklungen alle nachvollziehbar, etwa bei einem Nils Politt, der sich seit seiner Neo-Profi-Saison kontinuierlich gesteigert hat. Wenn aber jetzt ein Helfer auf einmal bei einem Weltcup-Rennen das Finale mitbestimmt, dann sollten die Alarmglocken angehen.\nWürden Sie Ihren Söhnen denn raten, Profi zu werden?\nSchmidt: Generell möchte ich hier nicht nur von meinen Söhnen reden, sondern von all den Sportlern, die ich betreue. Ich finde, in diesem Alter sollte man einfach den Moment genießen und nicht an die Profikarriere denken. Das entscheidet sich erst später, zur U19 oder U23 muss man Grundsatzentscheidungen treffen, was etwa Schule oder Beruf betrifft. Wenn das Umfeld stimmt und die Leidenschaft da ist, den Schritt zu gehen, dann würde ich bei entsprechender Leistungsfähigkeit gewiss nicht abraten. Aber man sollte niemals den dritten vor dem ersten Schritt gehen.\nDrücken Sie dem nach dem vergangenen Jahr dem Katusha-Alpecin - Team als Ganzem noch die Daumen oder fiebern Sie eher mit einzelnen Fahrern wie Nils Politt mit?\nSchmidt: Die Team-Ergebnisse interessieren mich jetzt nicht mehr, aber für den Sponsor Alpecin würde mich ein gutes Abschneiden schon freuen, da sie viel in den Radsport investieren. Aber ich drücke, jetzt gerade bei den Klassikern, den deutschen Fahrern die Daumen, etwa Nils Politt, John Degenkolb oder André Greipel. Auch für Tony Martin hat mich der gute Einstand bei Jumbo – Visma gefreut. Aber Fan einer Mannschaft bin ich nicht. Vor allem den deutschen Fahrern, die ich auch schon sehr lange kenne, wünsche ich natürlich tolle Erfolge.\nWas trauen Sie Nils Politt perspektivisch bei den Klassikern zu?\nSchmidt: Die ersten beiden Rennen in Flandern liefen für ihn nicht wie gewünscht. Aber es gehört bei den Rennen auch Glück dazu, man darf kein Materialpech haben oder ähnliches. Nils ist fleißig, er ist heiß auf die Rennen in Belgien und Nordfrankreich. Ich wünsche ihm viel Kraft und Glück für diese Rennen. Sowohl die Flandern-Rundfahrt als auch Paris-Roubaix liegen ihm. Ergebnisse kann man aber nicht vorhersagen.\nSie haben Marcel Kittel im letzten Jahr hautnah miterlebt, trauen Sie ihm zu, dass er wieder der Alte wird?\nSchmidt: Marcel Kittel hat viele Rennen auf absolutem Topniveau gewonnen. Das kann nicht alles weg sein. Er hat ein Näschen für den Erfolg, aber seit einiger Zeit läuft es nicht bei ihm. Die Veränderung im Team hat ihn aktuell auch nicht weitergebracht. Aber er ist ein großer Rennfahrer, man darf ihn nicht abschreiben. Es muss nur der Knoten platzen. Dann ist er dort, wo er hingehört, aber in den knapp eineinhalb Jahren bei Katusha – Alpecin hat er das noch nicht geschafft.\nNach aktuellem Stand gibt es noch keinen Veranstalter für die DM 2019. Wäre das was für Sie, so eine Veranstaltung zu organisieren?\nSchmidt: Die Deutsche Meisterschaft ist ein Großevent, als Einzelperson kann man da wenig ausrichten. Ich denke, das muss eine Eventagentur in die Hand nehmen. Wir selbst hatten 2017 mal den Gedanken, im Rheinland eine DM auszurichten. Aber das ist ein Full-Time-Job, man muss eine radsportaffine Gegend mit entsprechenden Strukturen finden. Es dürfen keine Zufahrtsstrecken für Krankenhäuser, Altersheime, Autobahnkreuze und so weiter durch die Strecke blockiert werden und vieles mehr. Es ist keine einfache Angelegenheit. Aber ich denke, das BDR-Präsidium verfügt über die nötigen Kontakte, um einen Veranstalter für 2019 zu finden.


Fahrzeug- & Waggonbau - TRUMPF Elektrowerkzeuge HomeTRUMPF.comSitemapKontakt\nHome/LÖSUNGEN/Branchenlösungen/Fahrzeug- & Waggonbau\nIm Fahrzeug- und Waggonbau werden kleine bis mittlere Schweißkonstruktionen bis zu 6 Meter Länge und zwei Meter Breite hergestellt. Dabei ist die Qualität der Schweißnaht entscheidend, denn die Festigkeit von Material und Verbindungen muss garantiert sein.\nKilometerweise Bleche verschweißen\tIn einem Arbeitsgang stellen Sie gleichmäßige, oxydfreie und metallisch blanke Kanten her\nMit den Schweißkantenformern von TRUMPF können Sie kilometerweise Bleche und Stahlträger verschweißen. In einem Arbeitsgang stellen Sie gleichmäßige, oxydfreie und metallisch blanke K-, V-, X- oder Y-Kanten her.\nDas Verfahren ist nicht nur schnell, sondern auch sehr genau. Die Schweißkantenformer werden auch häufig bei Reparaturstellen eingesetzt. Denn dort muss im Bereich des Unterbaus oder bei tragenden Teilen oft von Hand geschweißt werden.\nEntgraten von scharfen Kanten\nKantenfräser eignen sich zum Entgraten von scharfen Kanten und zur Herstellung von sauberen Radien in einem Arbeitsgang. Der Blechdickenbereich beginnt bei 0,7 mm und ist nach oben unbegrenzt. Mit dem TruTool TKA produzieren Sie sowohl Gerade- als auch Radienkanten und selbst pulverbeschichtete Materialien bleiben dabei unbeschädigt.\nPräzises besäumen von Rändern TruTool S 214: gratfreies Besäumen an tiefgezogenen Blechformteilen\nWenn Sie Ränder an Karosserien oder tiefgezogenen Blechformteilen gratfrei besäumen, dann empfehlen wir Ihnen unsere TruTool S 214. Mit der Besäumscheren können Sie Werkstückränder bis zu 75 mm Breite beschneiden und die Maschine über enge Kanten und Radien führen. Laschen, welche für Lagerungs- oder Transportzwecke angebracht wurden, können einfach abgetrennt werden.\nZurück Dach & Wand\nVor Heizung & Klimatechnik


Wasmeiers Weihnachtsmarktl - Wasmeier\nWasmeiers Weihnachtsmarktl Ein Weihnachtsmarkt für die ganze Familie!\nKommen Sie vorbei und erleben Sie diese ganz besondere Adventsstimmung, wenn vom 9. bis 11. Dezember 2016 das altbayrische Dorf von Doppelolympiasieger Markus Wasmeier im Lichterglanz erstrahlt.Das ist bayrische Weihnachtsatmosphäre in den Schlierseer Bergen. Zahlreiche Aussteller, wie Weber, Stoffdrucker und Krippenbauer, zeigen ihr traditionelles Handwerk. Und an den Standln finden Sie bestimmt noch das eine oder andere Geschenk und viele Anregungen für Ihre Weihnachtsdekoration.Der historische Weihnachtsmarkt im altbayrischen Dorf gehört zu den schönsten Christkindlmärkten in Oberbayern.Unsere kleinen Gäste haben ihren Spaß im Kasperltheater, in der Weihnachtsbäckerei und der Bastelstube mit Glasbläserei. Außerdem können Alpakas bestaunt werden. Diese gehören zur Gattung der Kamele und sind ursprünglich in den südamerikanischen Anden zuhause.\nFür Ihr leibliches Wohl ist bestens gesorgt\nAuf dem Weihnachtsmarkt wärmen Sie sich unter anderem mit heißem Glühwein und Punsch – dazu genießen Sie gebrannte Mandeln, Bratäpfel und Maronen direkt vom offenen Feuer.\nZu einem Besuch von Wasmeiers Weihnachtsmarktl gehört selbstverständlich auch eine gemütliche Einkehr ins Hacker-Pschorr Wirtshaus „Zum Wofen“. Dort lassen Sie und Ihre Familie sich mit feinen, hausgemachten bayrischen Schmankerln verwöhnen.\nIhren Platz im Wirtshaus sichern Sie sich am besten mit einer rechtzeitigen Reservierung unter Telefon 08026 92922-0 oder office@wasmeier.de.\nSie möchten Informationen zu unserem Weihnachtsmarktl 2017 per E-Mail?\n24. November 2016 bis 17. Dezember 2016\nIn diesem Jahr möchten wir unseren Gäste in der Adventszeit etwas ganz Besonderes bieten. An jedem Adventswochenende tauchen Sie im Markus Wasmeier Freilichtmuseum in den Winterzauber ein und erleben das altbayrische Dorf in vorweihnachtlicher Stimmung.\nDas Weihnachtswirtshaus ist vom 24. November 2016 bis 17. Dezember 2016 jeden Donnerstag, Freitag und Samstag geöffnet.\nÖffnungszeiten, Eintrittspreis Eintrittspreis\nEintrittspreis: 2,00 Euro pro Person, Kinder und Jugendliche bis 17 Jahre haben freien Eintritt. Der Eintritt für Mitglieder und Saisonkarteninhaber ist kostenfrei. Kartenvorverkauf\nEintrittskarten für unseren Weihnachtsmarktl erhalten Sie hier:\nKasse Weihnachtsmarktl 2016Gäste-Information Schliersee\nFreitag, 9. Dezember 201615 Uhr bis 20 Uhr\nSamstag, 10. Dezember 201612 Uhr bis 20 Uhr\nSonntag, 11. Dezember 201612 Uhr bis 20 Uhr\nFreitag, 9. Dezember 201615 Uhr bis 24 Uhr\nSamstag, 10. Dezember 201612 Uhr bis 24 Uhr\nSonntag, 11. Dezember 201612 Uhr bis 24 Uhr\nReservierungen für das altbayerische Wirtshaus bitte telefonisch unter 08026-92922-0 oder per E-Mail office@wasmeier.de\nWeihnachtsbäckerei * Seifenherstellung * Alpakas * Bastelstube * historischer Buchdruck * Glasbläserei\nWeihnachtsmarktl-Kasperltheater mit dem Kasperls Spuikastl*Freitag, 9. Dezember 201615.30 Uhr: Kasperl und der Adventskranz16.30 Uhr: Kasperl und der Krampus\nSamstag, 10. Dezember 201613.30 Uhr: Kasperl und der Krampus15.00 Uhr: Kasperl und das Krippenspiel16.30 Uhr: Kasperl und der verhexte Wunschzettel\nSonntag, 11. Dezember 201613.30 Uhr: Kasperl und das Krippenspiel15.00 Uhr: Kasperl und der verhexte Wunschzettel16.30 Uhr: Kasperl und der Adventskranz\n* Eintrittspreis 2,- Euro pro Person. Den Eintritt zahlen Sie direkt im Kasperltheater zu Vorstellungsbeginn. Kartenreservierung ist nicht möglich.\nSie möchten mit einer Gruppe unseren Weihnachtsmarkt besuchen und in unserem altbayrischen Wirtshaus einkehren? Dann reservieren Sie noch heute per E-Mail eventagentur@wasmeier.de\nDas Museum liegt unmittelbar an der B307 zwischen Bayrischzell und Miesbach. Von der Autobahn A8 München–Salzburg kommend, gelangen sie entweder über die Anschlussstellen Weyarn, Irschenberg oder Bad Aibling zu unserem Bauernhofdorf. Sie finden uns am Rande des Ortsteils Neuhaus in Sichtweite des Bahnhofs Fischhausen-Neuhaus.\nWenn sie uns aus Richtung Schliersee besuchen möchten, erreichen sie unser Museum erst, nachdem sie den See bereits hinter sich gelassen haben. Unmittelbar bevor sie einen Bahnübergang überqueren würden, biegen sie bitte links ab. Parkplätze sind auf dem Museumsgelände ausreichend vorhanden und stehen für unsere Besucher kostenlos zur Verfügung.Unsere Adresse lautet: Markus Wasmeier Freilichtmuseum Schliersee\nBrunnbichl 5, D-83727 Schliersee / Neuhaus\nDank seiner günstigen Lage am Bahnhof Fischhausen–Neuhaus verfügt unser Bauernhofmuseum über eine optimale Anbindung an das öffentliche Busnetz des RVO (Regionalverkehr Oberbayern).\nDa sich unser Museum in unmittelbarer Nähe zum Bahnhof, Ausstieg Fischhausen–Neuhaus befindet, sind wir auch mit der Bayrischen Oberlandbahn (BOB) im Stundentakt bequem zu erreichen. Die Fahrt vom Hauptbahnhof München über Holzkirchen Richtung Bayrischzell dauert lediglich eine knappe Stunde. Vom Bahnhof Holzkirchen ist außerdem eine Weiterreise Richtung Rosenheim, Lenggries und Tegernsee möglich.\nAnreise mit der BOB\nUm komfortabel anzureisen, empfiehlt sich die Fahrt mit der BOB, die in nur dreiminütiger Entfernung zum Weihnachtsmarktl in Fischhausen-Neuhaus hält. Um möglichst vielen Besuchern die Anreise zu ermöglichen, stockt die BOB betreibt, ihre Kapazitäten auf. Folgende Züge verkehren mit zwei Zugteilen und bieten damit pro Fahrt doppelt so viele Sitzplätze an:\nSamstag, 10.12.2016 Bayrischzell – München 10:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 10:49 Uhr11:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 11:49 Uhr14:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 14:49 Uhr 16:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 16:49 Uhr, Ankunft in München Hbf um 17:53 Uhr 17:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 17:49 Uhr, Ankunft in München Hbf um 18:53 Uhr\nMünchen - Bayrischzell 12:05 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 13:07 Uhr15:05 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 16:07 Uhr16:05 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 17:07 Uhr\nSonntag, 11.12.2016Bayrischzell – München 10:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 10:49 Uhr11:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 11:49 Uhr14:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 14:49 Uhr 16:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 16:49 Uhr, Ankunft in München Hbf um 17:53 Uhr 17:32 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 17:49 Uhr, Ankunft in München Hbf um 18:53 Uhr\nMünchen - Bayrischzell 12:04 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 13:07 Uhr 15:04 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 16:07 Uhr 16:04 Uhr - Ankunft in Fischhausen-Neuhaus um 17:07 Uhr\nFür eine günstige Anreise nutzen Fahrgäste am besten das Guten Tag Ticket.\nParkmöglichkeiten Bitte beachten Sie die ausgewiesenen Parkmöglichkeiten in Schliersee. In unmittelbarer Nähe stehen kostenpflichtige Parkplätze zur Verfügung. Bitte beachten Sie die Ausschilderung bei Ihrer Anreise.\nParkplatz UnterleitenUnterleiten 4, 83727 Schliersee\nParkplatz WaldfestplatzSeestr. 38, 83727 Schliersee\nParkplatz Bahnhof SchlierseeBahnhofstr. 10, 83727 Schliersee\nParkplätze Surfstadl/SchlichterkurveNeuhauser Str. 1f, 83727 Schliersee\nParkplatz LidoWesterbergstr. 25, 83727 Schliersee\nParkplatz SchlierachPerfallstr. 36b, 83727 Schliersee\nParkplatz Friedhof WestenhofenBreitenbachstr. 2, 83727 Schliersee\nParkplatz Bahnhof Fischhausen-NeuhausWendelsteinstr. 2, 83727 Schliersee\nFlyer Weihnachtsmarktl 2016\nMit freundlicher Unterstützung Kontakt


Coenzym Q10 gegen Falten: wie wirkt Q10 als Nahrungsergänzung? - Vitamine Ratgeber\nCoenzym Q10 gegen Falten: wie…\nDurch die Einnahme von Coenzym Q10 verschwinden Falten im Gesicht – die Haut wird glatter und fester. So das Ergebnis einer slowenischen Studie, die 2016 veröffentlicht wurde.\nDas in jeder Zelle des Organismus vorhandene Coenzym Q10 leistet einen wichtigen Beitrag zur zellulären Energieerzeugung. Leider nimmt der Q10-Anteil im Körper mit zunehmendem Alter ab. Dieser Rückgang tritt insbesondere dann auf, wenn Statine eingenommen werden, die zur Senkung des Cholesterinspiegels verschrieben werden. Dies erklärt unter anderem Muskelschmerzen und Schwächegefühle, die als Nebenwirkungen von Statinen auftreten können.\nAußerdem hat sich das Coenzym Q10, dass übrigens strukturelle Ähnlichkeiten mit den Vitaminen E und K aufweist, als Anti-Aging-Substanz in zahlreichen kosmetischen Produkten bewährt. So wird es schon seit längerem in Hautcremes und anderen Anti-Aging-Produkten erfolgreich eingesetzt. Dass Q10 auch von innen verjüngt, hat nun eine Untersuchung von Wissenschaftlern des Instituts für Kosmetik in Ljubljana, Slowenien, belegt.\nWas bringt eine 12wöchige Einnahme von 50 oder 150 Milligramm Q10?\nGezeigt wurde dies im Rahmen einer randomisierten, Placebo-kontrollierten Interventionsstudie, an der 32 gesunde Testpersonen im Durchschnittsalter von 53 Jahren teilnahmen. Sie wurden in drei Gruppen eingeteilt. In der einen erhielten die Teilnehmer täglich 50 Milligramm Q10. In der zweiten wurde mit 150 Milligramm pro Tag eine höhere Dosierung eingenommen. Die Personen in der dritten Gruppe schließlich bekamen nur ein Placebo. Die Einnahmedauer betrug in jeder Gruppe 12 Wochen und erstreckte sich über die drei Wintermonate.\n150-Milligramm-Dosis zeigt deutlichere Verbesserungen\nDanach wurde die Wirksamkeit in den einzelnen Gruppen beurteilt. Hierbei kam heraus, dass bereits die Einnahme von 50 Milligramm Q10 mit Vorteilen verbunden ist. In dieser Gruppe zeigte die Haut um die Augen herum weniger Falten als in der Placebo-Gruppe. Noch deutlicher war der Q10-Effekt allerdings bei einer täglichen Zufuhr von 150 Milligramm. Sie sorgte dafür, dass die Faltenbildung auch um den Mund, die Nase und auf den Lippen deutlich nachließ.\nDies schloss eine verbesserte Glätte und Festigkeit der Haut ein sowie die Erhaltung eines jugendlicheren Mikroreliefs. Mit letzterem sind die Linien und Furchen in der Hautoberfläche gemeint, die sich altersbedingt verändern. Ein nennenswerter Erfolg gegen eine UVB-bedingte beschleunigte Hautalterung konnte jedoch ebensowenig festgestellt werden wie ein Einfluss auf die Hautfeuchtigkeit.\nLangzeitstudie zu Q10 und Faltenbildung wünschenswert\nProblematisch an der Studie blieb, dass einige Parameter zur Bewertung der Haut sehr variabel sind. Es war also schwierig eindeutige Schlussfolgerung zu treffen, zumal Faktoren wie beispielsweise die Dicke der Haut zu gering in die Beurteilung eingegangen sind. Darüber hinaus wäre eine Einnahmedauer, die mehrere Jahreszeiten umfasst, sinnvoller. Ein so gewählter längerer Beobachtungszeitraum würde aussagekräftigere Ergebnisse liefern, auch da Hautveränderungen über eine höhere Anzahl an Regenerationszyklen sowie zu unterschiedlichen Bedingungen berücksichtigt werden könnten. Außerdem könnten hierbei genauere Aussagen zur Wirkung bei unterschiedlichen Dosierungen gemacht werden.\nQuelle: Zmitek K., et al., The effect of dietary intake of coenzyme Q10 on skin parameters and condition: Results of a randomised, placebo-controlled, double-blind study, Biofactors. 2016 Aug 22., Epub published ahead of print.\nZurückVorheriger Beitrag:Kakao Polyphenole: verringern FaltenNächstesNächster Beitrag:Haarausfall nach der Schwangerschaft