Elektrische Diagnoseschaltung sowie Verfahren zum Testen und/oder zur Diagnose einer integrierten Schaltung
Steuerbares modifiziertes Multi-Input Signaturregister zum Testen oder zur Diagnose einer integrierten Schaltung mit den folgenden Merkmalen: – mehrere externe Dateneingänge (En) zum Empfang von digitalen Werten, – mehrere gleichartige, hintereinander angeordnete Speicherelemente mit den folgenden Merkmalen: – jedes Speicherelement weist einen externen Dateneingang (En) zum Empfang eines Test- oder Diagnosesignals einer integrierten Schaltung (14) auf, – jedes Speicherelement weist jeweils einen internen Dateneingang für ein Ausgangssignal von einem davor oder dahinter angeordneten Speicherelement auf, – die Speicherelemente sind derart steuerbar ausgebildet, dass ein am internen Dateneingang eines Speicherelements anliegendes Signal in Abhängigkeit eines Steuersignals (cn) des Speicherelements – entweder unverändert an den internen Dateneingang des jeweils dahinter angeordneten Speicherelements oder an den Schaltungsausgang weiterleitbar und auf einen oder mehrere interne Dateneingänge eines oder mehrerer davor angeordneter Speicherelemente, insbesondere über XOR-Gatter (XOR'1, XOR'3) rückkoppelbar ist, – oder mit dem jeweils am externen Dateneingang (En) anliegenden Test- oder Diagnosesignal verknüpfbar und der aus dieser Verknüpfung ermittelte Verknüpfungswert an den internen Dateneingang des jeweils dahinter angeordneten Speicherelements oder an den Schaltungsausgang weiterleitbar und auf einen oder mehrere interne Dateneingänge eines oder mehrerer davor angeordneter Speicherelemente, insbesondere über XOR-Gatter (XOR'1, XOR'3) rückkoppelbar ist, – einen Schaltungsausgang (116) zur Ausgabe eines Ausgabewerts, dadurch gekennzeichnet, dass das steuerbare modifizierte Multi-Input Signaturregister (10–13, 15, 16) eine mit dem Schaltungsausgang (116) verbundene, steuerbare Rückkopplungseinheit (115, 214, 314) aufweist, die so ausgebildet ist, dass der Ausgabewert auf wenigstens einen internen Dateneingang eines Speicherelements rückkoppelbar ist.