Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet transform measurement, Volume 31, Issue 2, March 2002, Pages 77–91, L. Angrisani, L. Bechou, D. Dallet, P. Daponte, Y. Ousten وصلات خارجية     تصنيف:اختبارات لاإتلافية تصنيف:سباكة تصنيف:صب تصنيف:فوق صوتي