AFMimageRoughGlass20x20.JPG
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AFMimageRoughGlass20x20, Atomic force micrographs
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AFMimageRoughGlass20x20, Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM used was the Veeco di CP-II, scanned in contact mode.  Constructed at the Nanorobotics Laboratory at Carnegie Mellon University ( Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20 µm × 20 µm × 420 nm).
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AFMimageRoughGlass20x20、原子間力顕微鏡写真
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AFMimageRoughGlass20x20、ガラス表面の原子間力顕微鏡地形スキャン。ガラスの微小なスケールとナノスケールの特徴は、材料の粗さを描写することで観察することができる。画像空間は(x,y,z) =(20um x 20um x 420nm)である。使用されたAFMは、コンタクトモードでスキャンされたVeeco di CP-IIであった。カーネギーメロン大学のナノロボティクス研究所で製造された。ガラスの微小なスケールとナノスケールの特徴は、材料の粗さを描写することで観察することができる。画像空間は(x,y,z) =(20μm×20μm×420nm)である。
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carnegie mellon university