Probes on bevel.jpg
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Probes on bevel, Microtechnology, Manufacture of electronics, Semiconductor analysis
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Probes on bevel, Illustration of the probing of a beveled piece of silicon.  (Typically, 60 to 100 or more measurements are made.)
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ベベルの証明、マイクロテクノロジー、エレクトロニクスの製作、半導体分析
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ja
ベベルの証明、ベベルのついたシリコン片の試し読みの図。(60～100個以上の測定を行う。)
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bevel probe