Title: 반도체 불량칩 탐지 기술로 생산성 높인다 / YTN 사이언스 Description: 앵커 반도체 산업이 하루가 다르게 발전하고 있습니다. 국내 연구진이 반도체 기판의 다양한 불량 칩을 효과적으로 탐지하고, 군집화하는 기술을 개발했습니다. 이정우 기자입니다. 기자 반도체 공정에서 나타나는 불량품. 제조 공정이 점점 복잡해지면서 한 기판 안에 여러 형태의 불량 칩 패턴이 섞이는 사례가 늘고 있습니다. 불량 칩이 나타나는 원인을 Tags: YTN사이언스, 사이언스투데이, 과학, 뉴스, 사이언스 Category: News
News & Politics > Technology News > 반도체 불량칩 탐지