Abstract-I detta dokument rapporterar vi totala dostestresultat för COTS-komponenter som vanligen används på CubeSats. Vi undersöker en mängd analoga integrerade kretsar, populära microcontrollers (PIC24), SD-minneskort och en TCXO.
Detta beslut träder i kraft dagen efter det att det har offentliggjorts i Europeiska unionens officiella tidning. REF testade effekten av TID på COTS-komponenter som vanligen används på CubeSats.
TID Tolerance of Popular CubeSat Components
{'venue': '2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)', 'journal': '2013 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)', 'mag_field_of_study': ['Engineering']}