För en forskare inom ett område med hög industriell relevans har insamling och analys av forskningsrapporter och patent blivit en viktig aspekt för att bedöma områdets omfattning. Vi föreslår en metod för att skapa en teknisk trendkarta automatiskt från både forskningspapper och patent. För konstruktionen av den tekniska trendkartan fokuserar vi på den elementära (underliggande) teknik som används inom ett visst område och dess effekter. Kunskap om historia och effekter av den elementära teknik som används inom ett visst område är viktig för att förstå den tekniska utvecklingen på området. Därför har vi konstruerat en metod som kan känna igen tillämpningen av elementär teknik och deras effekter inom alla forskningsområden. För att undersöka effektiviteten i vår metod utförde vi ett experiment med hjälp av data i NTCIR-8 Patent Mining Task. Av våra experimentella resultat fick vi recall och precisionspoäng på 0,254 respektive 0,496 för analys av forskningsrapporter. Vi fick också recall- och precisionspoäng på 0,455 respektive 0,507 för analys av patent. Slutligen har vi konstruerat ett system som skapar en effektiv teknisk trendkarta för ett givet fält.
REF utvecklade en metod för teknisk trendanalys som kan tillämpas både på patentansökningar och akademiska uppsatser, med hjälp av distribution av namngivna enheter.