Abstract-Software Product Lines (SPL) är svåra att validera på grund av kombinatorik inducerad av variabilitet mellan deras funktioner. Detta leder till kombinatorisk explosion av antalet härledda produkter. Uttömmande tester i ett så stort utrymme av produkter är ogenomförbara. Ett möjligt alternativ är att testa SPL genom att generera testfall som täcker alla möjliga T-funktionsinteraktioner (T-wise). T-vis minskar antalet testprodukter dramatiskt samtidigt som man säkerställer en rimlig SPL-täckning. Men automatisk generering av testfall som tillfredsställer T -wise med hjälp av SAT-lösare väcker två frågor. Kodningen av SPL-modeller och Twise-kriterier i en uppsättning formler som är godtagbara för lösaren och deras tillfredsställelse och som misslyckas vid bearbetningen "all-at-once". Vi föreslår en skalbar verktygsuppsättning med legering för att automatiskt generera testfall som uppfyller T -wise från SPL-modeller. Vi definierar strategier för att dela upp T-wise kombinationer i solvable undergrupper. Vi utformar och beräknar mätvärden för att utvärdera strategier för AspectOPTIMA, ett konkret transaktionsmässigt SPL.
I REF föreslår författarna en skalbar verktygsuppsättning med legering för att automatiskt generera testfall som uppfyller T-vis från SPL-modeller.
Automated and Scalable T-wise Test Case Generation Strategies for Software Product Lines
{'venue': '2010 Third International Conference on Software Testing, Verification and Validation', 'journal': '2010 Third International Conference on Software Testing, Verification and Validation', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}