Spektrumbaserad fellokalisering (SBFL) har studerats som en felsökningsteknik för att minska tid och ansträngning för att lokalisera felaktig kod i programvara. I SBFL, exekveringsprofiler (spectra) av godkänt och fel test fall analyseras med SBFL metrisk för att rangordna programvara kod enligt deras likhet att vara felaktig. Det finns dock betydligt fler godkända testfall än underkända testfall i typiska testsviter för felaktiga program. Dominansen av pass test fall skapar obalans test sviter som har en negativ inverkan på prestanda SBFL. Detta tillskrivs det faktum att genomförandeprofilerna för provfall vid fel ger den väsentliga informationen om var felaktig kod finns. I detta dokument föreslår vi att man klonar spektra av feltestfall bortom balanserad testsvit för att förbättra SBFL:s prestanda. Vår empiriska studie visar att den föreslagna kloningsmetoden avsevärt förbättrar prestandan hos vanliga SBFL-mått. Dessutom försöker vi identifiera den mängd kloning som krävs för att uppnå bästa möjliga prestanda för den föreslagna kloningsmetoden.
Daniel och Al. REF ] undersökte en förbättrad teknik för att klona utförande proles av feltester bortom balanserad testsvit för att förbättra prestanda spektrum-baserade fel lokalisering.
Improving spectrum-based fault-localization through spectra cloning for fail test cases beyond balanced test suite
{'venue': None, 'journal': 'Contemporary engineering sciences', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}