för on-line-övervakning av mikrosfärer i en optisk pincettbaserad sammansättningscell. ASME Journal of Computing and Information Science in Engineering, 7.4:330-338, 2007. Läsarna uppmuntras att få den officiella versionen från tidskriftens webbplats eller genom att kontakta dr S.K. Gupta (skgupta@umd.edu).  Optiska pincetter har framträtt som ett kraftfullt verktyg för mikro- och nanomanipulering. Att använda optiska pincetter för att utföra automatisk montering kräver on-line övervakning av komponenter i monteringsarbetsytan. I detta dokument presenteras algoritmer för att uppskatta 3-dimensionella positioner av mikrosfärer i monteringsarbetsytan. Algoritmer som presenteras i detta papper använder bilder som erhållits genom optisk sektionsmikroskopi. Bilderna är först segmenterade för att lokalisera intressanta områden och sedan används information om bildgradienter från de berörda områdena för att lokalisera positionerna för enskilda mikrosfärer i XY-planet. Slutligen, signaturkurvor beräknas och används för att erhålla Z-lokaliseringar av sfärer. Vi har testat dessa algoritmer med glasmikrosfärer i två olika storlekar under olika belysningsförhållanden. Våra experiment visar att algoritmerna som beskrivs i detta papper ger tillräcklig beräkningshastighet och noggrannhet för att stödja driften av optiska pincetter.
I vårt tidigare arbete REF beskrev vi algoritmer för att uppskatta 3D-positioner av mikrosfärer i monteringsarbetsytan.
Algorithms for On-Line Monitoring of Micro-Spheres in an Optical Tweezers-Based Assembly Cell
{'venue': None, 'journal': 'Journal of Computing and Information Science in Engineering', 'mag_field_of_study': ['Engineering']}