Illumination spelar en viktig roll i optisk mikroskopi. Köhler belysning, infördes för mer än hundra år sedan, har varit ryggraden i optiska mikroskop. De senaste decennierna har sett utvecklingen av nya belysningstekniker som syftar till att förbättra vissa avbildningsfunktioner i mikroskopet. De flesta av dem är dock inte möjliga för bredfältsobservation och har därför begränsad användning i mikroskopi tillämpningar som cellbiologi och mikroskala profilmätningar. Metoden för strukturerad belysningsmikroskopi har utvecklats som bredfältsteknik för att uppnå högre prestanda. Dessutom är det också kompatibelt med befintliga mikroskop. Denna metod består av att ändra belysningen genom att överlägga med ett väldefinierat mönster, antingen på själva provet eller på dess bild. Beräkningstekniker tillämpas på de resulterande bilderna för att ta bort effekten av strukturen och för att få önskad prestandaförbättring. Denna metod har utvecklats under de senaste två decennierna och har framgått som en viktig belysningsteknik för optisk sektions-, super-upplösnings-avbildning, ytprofilering och kvantitativ fasavbildning av mikroscale objekt i cellbiologi och teknik. I denna genomgång beskriver vi olika strukturerade belysningsmetoder i optisk mikroskopi, och förklarar de principer och tekniker som ingår i den.
Den strukturerade belysningsmikroskopi (SIM) är också en teknik som använder belysningsmönster för olika ändamål såsom super-upplösning, ytprofilering och fasavbildning REF.
Structured illumination microscopy
{'venue': None, 'journal': 'Advances in Optics and Photonics', 'mag_field_of_study': ['Physics']}