Sammanfattning I Tester Den ökande komplexiteten hos system-on-a-chip med den åtföljande ökningen av deras testdata storlek har gjort behovet av testdata minskning nödvändigt. I detta papper introducerar vi en ny och mycket efJicient förlustfri kompressionsteknik för att testa system-on-a-chip baserat på geometriska former. Tekniken utnyttjar omordning av testvektorer för att minimera antalet former som behövs för att koda testdata. Teknikens effektivitet för att uppnå hög kompressionskvot visas på de största ISCAS85- och fullscannade versionerna av ISCAS89-riktmärkeskretsar. I detta dokument antas att en inbäddad kärna kommer att användas för att utföra dekompressionsalgoritm och dekomprimera testdata.
I REF föreslås en testvektorkompressionsteknik baserad på geometriska primitiver.
A geometric-primitives-based compression scheme for testing systems-on-a-chip
{'venue': 'Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001', 'journal': 'Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}