Mängden anslutna enheter i den industriella miljön ökar kontinuerligt, på grund av de pågående kraven på nya funktioner som prediktivt underhåll. Nya affärsmodeller kräver mer data, som samlas in av IIoT kantnodsensorer baserade på billiga och låga prestanda Microcontroller Units (MCUs). En negativ bieffekt av denna ökning av sammanlänkningar är den ökade anfallsytan, som möjliggörs av ett större nätverk med fler nätverkstjänster. Att koppla dåligt dokumenterade och billiga enheter till industriella nätverk ofta utan tillstånd av administratören ytterligare ökar säkerhetsrisken. En anständig metod för att övervaka nätverket och upptäcka "oönskade" enheter är nätverksskanning. Vanligtvis utförs detta skanningsförfarande av en dator eller server i varje delnätverk. I den här artikeln introducerar vi nätverksskanning och kartläggning som en byggsten för att skanna direkt från Industrial Internet of Things (IIoT) edge node enheter. Denna modul skannar nätverket på ett pseudo-slumpvis sätt för att upptäcka enheter och upptäcka förändringar i nätverksstrukturen. Dessutom validerar vi vårt tillvägagångssätt i en industriell testbädd för att visa genomförbarheten av detta tillvägagångssätt.
Niedermier m.fl. REF föreslog att man skulle använda nätverksskanning och kartläggning som ett byggblock för att skanna direkt från IIoT edge node-enheter.
Network Scanning and Mapping for IIoT Edge Node Device Security
{'venue': '2019 International Conference on Applied Electronics (AE)', 'journal': '2019 International Conference on Applied Electronics (AE)', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}