Sammanfattning av denna webbsida: Fasmätning av deflektormetri (PMD) förvärvar de två komponenterna i den lokala ytgradienten via en sekvens av två ortogonala sinusformade fransar som måste visas och fångas separat. Vi kommer att visa att den sekventiella processen (olika fransriktningar, fasskiftning) kan helt undvikas genom att använda ett korsfransmönster. Med en optimerad Fourier-utvärdering kan data av hög kvalitet på släta optiska ytor förvärvas inom ett enda skott. Korskantsmönstret möjliggör ytterligare en förbättring av PMD: vi kommer att demonstrera en ny fasskiftningsteknik, där ett endimensionellt N-fasskifte möjliggör förvärv av de två ortogonala faserna, med endast N-exponeringar istället för 2N-exponeringar. Därför kan PMD implementeras genom en endimensionell översättning av yttermönstret, i stället för den gemensamma tvådimensionella översättningen, som är ganska användbar för vissa tillämpningar.
Till exempel, några av de tekniker som använder ett statiskt mönster i stället för en fas skiftade sinusoid kan "single-shot" förvärv REF.
Fast and accurate deflectometry with crossed fringes
{'venue': None, 'journal': 'Advanced Optical Technologies', 'mag_field_of_study': ['Materials Science', 'Physics']}