Överdriven avledning i integrerade kretsar orsakar överhettning och kan leda till mjuka fel och eller permanenta skador. Problemets svårighetsgrad ökar i proportion till integrationsnivån, så att verktyg för att beräkna strömförbrukningen är välbehövliga för dagens teknik. T strålningssimuleringsbaserade inflygningar simulerar kretsen med hjälp av provfunktionella ingångar. Detta är dyrt och garanterar inte ett meningsfullt maktvärde. Andra metoder på senare tid har använt probabilistiska tekniker för att täcka en stor uppsättning inmatningsmönster. Men de handlar-o noggrannhet för hastighet på sätt som inte alltid är acceptabla. I detta papper, vi i n v estigate en alternativ teknik som kombinerar noggrannheten av simuleringsbaserade tekniker med hastigheten av de probabilistiska teknikerna. Den resulterande metoden är statistisk till sin natur; den består av att tillämpa slumpmässigt genererade inmatningsmönster på kretsen och övervakning, med en simulator, det resulterande effektvärdet. Detta fortsätter tills ett kraftvärde erhålls med önskad noggrannhet, på en bestämd nivå. Vi presenterar algoritmen och experimentella resultat, och diskuterar överlägsenheten av denna nya strategi. Inlämnad till IEEE Transaktioner på VLSI Systems, 1993.
Burch m.fl. REF ta en Monte Carlo metod, simulera kraften i olika ingångsmönster till en krets.
A Monte Carlo approach for power estimation
{'venue': 'IEEE Transactions on VLSI Systems', 'journal': None, 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}