Abstract-Software testing är en kritisk del av mjukvaruutvecklingen. Eftersom nya testfall genereras med tiden på grund av programvarumodifieringar, kan teststorlekarna växa avsevärt. På grund av tids- och resursbegränsningar för testning, test svit minimering tekniker behövs för att ta bort dessa test fall från en svit som, på grund av kodändringar över tid, har blivit överflödig med avseende på täckningen av testningskrav för vilka de genererades. Tidigare arbete har visat att testsvit minimering med avseende på ett givet testkriterium avsevärt kan minska feldetekteringseffektiviteten (FDE) i sviter. Vi presenterar en ny metod för att minska testsviten som försöker använda ytterligare täckningsinformation om testfall för att selektivt behålla några ytterligare testfall i de reducerade sviterna som är överflödiga med avseende på de testkriterier som används för svitminimering, med målet att förbättra FDE-behållningen av de reducerade sviterna. Vi implementerade vårt tillvägagångssätt genom att modifiera en befintlig heurist för testsvitsminimering. Våra experiment visar att vårt tillvägagångssätt avsevärt kan förbättra FDE för reducerade testsviter utan att allvarligt påverka omfattningen av svitens storleksminskning.
I REF Jeffrey och Gupta producera representativ uppsättning för test svit minskning med hjälp av selektiv redundans.
Improving Fault Detection Capability by Selectively Retaining Test Cases during Test Suite Reduction
{'venue': 'IEEE Transactions on Software Engineering', 'journal': 'IEEE Transactions on Software Engineering', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}