Vi härleder exakta förhållanden under vilka materialreflektionsegenskaper kan uppskattas från en enda bild av en homogen böjd yta (kanoniskt en sfär), upplyst av en riktningskälla. Baserat på observationen att ljuset reflekteras längs vissa (ett tidigare okänt) föredragna riktningar såsom halvvinkeln, föreslår vi en semiparametrisk BRDF-abstraction som ligger mellan rent parametriska och rent datadrivna modeller. Beräkning av BRDF som en särskild typ av semiparametrisk regression, både de rekommenderade riktningarna och formen av BRDF variation längs dem kan beräknas från data. Vår strategi har betydande teoretiska, algoritmiska och empiriska fördelar, ger insikter i materiellt beteende och möjliggör nya tillämpningar. Även om det är välkänt att montering av multilob BRDF kan vara illa placerade under vissa förhållanden, innan detta arbete, exakta resultat för den välplacerade BRDF uppskattning hade förblivit svårfångad. Eftersom vår BRDF-representation är härledd från fysisk intuition, men är beroende av data, undviker vi fallgropar av både parametrisk (låg generalisering) och icke-parametrisk regression (låg tolkningsförmåga, dimensionalitetens förbannelse). Slutligen diskuterar vi flera applikationer som enkelbildsrelighting, ljuskälleuppskattning och fysiskt meningsfull BRDF-redigering.
Vissa verk som REF härled villkor på välplacerad BRDF uppskattning med hjälp av en enda bild, med känd form.
What an image reveals about material reflectance
{'venue': '2011 International Conference on Computer Vision', 'journal': '2011 International Conference on Computer Vision', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}