Abstruct-teknik trender och särskilt bärbara applikationer driver strävan efter låg effekt VLSI design. Lösningar som innefattar algoritmiska, strukturella eller fysiska omvandlingar söks. Fokus ligger på att utveckla lågeffektkretsar utan att påverka prestandan för mycket (område, latens, period). För CMOS-kretsar försvinner mest effekt som dynamisk effekt för laddning och urladdning av nodkapacitanser. Det är därför många lovande resultat i låg effekt design uppnås genom att minimera antalet övergångar inom CMOS krets. Även om det är allmänt accepterat att på grund av de stora kapacitanser inblandade mycket av den ström som avleds av en IC är vid U 0 lite har gjorts specifikt för att minska U 0 strömavledning. Vi föreslår Bus-Znvert-metoden för kodning av U0 som sänker bussaktiviteten och därmed minskar U0-toppeffekten med 50 % och U0-medelvärdet för strömavtagning med upp till 25 %. Metoden är allmän men gäller bäst för hantering av bussar. Detta är lyckosamt eftersom bussar är verkligen mest sannolikt att ha mycket stora kapacitanser i samband med dem och följaktligen skingra en hel del makt.
I REF föreslogs begränsad viktkodning för lågeffektbuss som begränsar antalet övergångar i bussen och därmed minskar den dynamiska effektavledning som orsakas av dessa övergångar.
Bus-Invert Coding for Low-Power I/O
{'venue': 'IEEE Transactions on VLSI systems', 'journal': None, 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}