Abstract Dagens analoga/RF design och verifiering står inför stora utmaningar på grund av kretsens komplexitet, processvariationer och korta marknadsfönster. Framför allt är de tekniska parametrarnas inverkan på kretsarna och de frågor som rör bullermodellering och kontroll fortfarande en prioriterad fråga för många tillämpningar. Buller kan bero på oönskad interaktion mellan kretselementen eller ärvs från kretselementen. Dessutom, tillverkningsskillnader påverkar det karakteristiska beteendet hos de tillverkade kretsarna. I detta dokument föreslår vi en metod för modellering och verifiering av analoga/RF-konstruktioner i närvaro av buller- och processvariationer. Vår strategi bygger på modellering av konstruktioner med hjälp av stokastiska differentialekvationer (SDE) som kommer att göra det möjligt för oss att införliva den statistiska karaktären av buller. Vi integrerar även enhetsvariationen på grund av 0,18μm tillverkningsprocess i ett SDE-baserat simuleringsramverk för övervakning av intressanta egenskaper för att snabbt upptäcka fel. Vårt tillvägagångssätt är illustrerat på ickelinjär Tunnel-Diode och en Colpitts oscillator kretsar.
I ett liknande numeriskt tillvägagångssätt REF, författarna har använt SDEs för att modellera konstruktionen med termiskt buller i additiv form och sedan kombinera enheten variation på grund av 0,18-μm tillverkningsprocessen i en påstående-baserad körtid verifiering miljö.
Using Stochastic Differential Equation for Verification of Noise in Analog / RF Circuits
{'venue': None, 'journal': 'Journal of Electronic Testing', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}