Abstract-As nätverkade inbyggda system blir mer allmänt förekommande, deras säkerhet blir avgörande för vårt dagliga liv. Medan manuell eller automatiserad storskalig analys av dessa system regelbundet avslöja nya sårbarheter, det sätt som dessa system analyseras följer ofta samma metoder som används på stationära system. Mer specifikt, traditionella testmetoder bygger på observerbara krascher av ett program, och binära instrumentering tekniker används för att förbättra upptäckten av dessa felaktiga tillstånd. I detta dokument visar vi att minneskorruption, en vanlig klass av säkerhetssårbarheter, ofta resulterar i olika beteende på inbyggda enheter än på stationära system. Särskilt på inbyggda enheter är effekterna av minneskorruption ofta mindre synliga. Detta minskar avsevärt effektiviteten hos traditionella dynamiska testmetoder i allmänhet, och fuzzing i synnerhet. Dessutom analyserar vi dessa skillnader i flera kategorier av inbyggda enheter och visar den resulterande effekten på firmware analys. Vi beskriver och utvärderar vidare relativt enkla heuristiker som kan appliceras vid körning (på en exekveringsspårning eller i en emulator) under analysen av en inbäddad enhet för att upptäcka tidigare oupptäckta minneskorruptioner.
Muench, och så vidare. REF påpekade att minneskorruption i inbyggda enheter ofta resulterar i ett annat beteende än i stationära system.
What You Corrupt Is Not What You Crash: Challenges in Fuzzing Embedded Devices
{'venue': 'NDSS', 'journal': None, 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}