Med halvledarteknik avancerar mot djup submikron, läckageenergi är av ökande oro, särskilt för stora on-chip array strukturer såsom caches och gren prediktorer. Nyligen gjorda arbeten har föreslagit att större, aggressiva gren prediktorer kan och bör användas för att förbättra mikroprocessor prestanda. Ett ytterligare övervägande är att mer aggressiva gren prediktorer, särskilt multiported prediktorer för flera grenar förutsägelser, kan vara termiska heta fläckar, vilket ytterligare ökar läckage. Dessutom, eftersom grenförutsägaren har tillstånd som är övergående och prediktivt, kan element kasseras utan negativa effekter. Av dessa skäl är det naturligt att överväga att tillämpa sönderfall tekniker-redan visat för att minska läckage energi för cache-till gren-prediction strukturer. På grund av den strukturella skillnaden mellan caches och gren prediktorer, tillämpa sönderfall tekniker till gren prediktorer är inte enkelt. I detta dokument undersöks strategierna för att utnyttja den rumsliga och tidsmässiga lokaliseringen för att göra nedbrytningen effektiv för bimodala, gshare- och hybridförutsägare samt bufferten för grenens mål (BTB). Dessutom styr det prediktiva beteendet hos förgrenade prediktorer dem mot förfall baserat inte på tillståndsbevarande, statiska lagringsceller, utan snarare kvasistatiska, dynamiska lagringsceller. Detta dokument kommer att undersöka resultaten av genomförandet Tillstånd att göra digital / hård kopia av hela eller delar av detta material utan avgift för personligt eller klassrum användning, förutsatt att kopiorna inte görs eller distribueras för vinst eller kommersiella fördelar, ACM copyright / server meddelande, titeln på publikationen, och dess datum visas, och meddelande ges att kopiering är med tillstånd av ACM, Inc. Att kopiera på annat sätt, att publicera, att posta på servrar, eller att omfördela till listor kräver tidigare specifika tillstånd och / eller en avgift.  • 181 ruttnande grenprediktorstrukturer med dynamiska, sönderfallande celler snarare än standardstatisk SRAM-cell. Sammantaget visar detta dokument att sönderfallsteknik kan tillämpas på mer än bara cacheminnen, med filialförutsägaren och BTB som exempel. Vi visar sönderfall kan antingen genomföras på arkitektonisk nivå, eller med en grossistersättning av statiska lagringsceller med kvasistatiska lagringsceller, som naturligt genomför sönderfall. Viktigare är att sönderfallsteknik kan tillämpas och bör tillämpas på andra sådana övergående och/eller prediktiva strukturer.
I REF föreslogs att man skulle tillämpa sönderfallsteknik på förgrenade prediktorer genom att använda 4T-celler.
Implementing branch-predictor decay using quasi-static memory cells
{'venue': 'TACO', 'journal': None, 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}