Abstract-Power elektronik spelar en allt viktigare roll i energitillämpningar som en del av deras strömomvandlare kretsar. Förstå beteendet hos dessa enheter, särskilt deras fellägen när de åldras med nominell användning eller plötslig felutveckling är avgörande för att säkerställa effektivitet. I detta papper, en prognostics baserad hälsa hantering av makt MOSFETs som genomgår accelererat åldrande genom elektrisk overstress vid grinden område presenteras. Detaljer om den accelererade åldrande metod, modellering av nedbrytningsprocessen av enheten och prognostics algoritm för förutsägelse av det framtida tillståndet för hälsa av anordningen presenteras. Experiment med flera enheter visar modellens prestanda och prognostikalgoritmen samt tillämpningsområdet.
En prognostik för power MOSFETs presenterades i REF.
Accelerated aging with electrical overstress and prognostics for power MOSFETs
{'venue': 'IEEE 2011 EnergyTech', 'journal': 'IEEE 2011 EnergyTech', 'mag_field_of_study': ['Engineering']}