Framsteg inom teknik möjliggör integrering av ett stort antal kärnor på en enda kisel dö. Samtidigt har aggressiv teknikskalning en allt större negativ inverkan på livstidens tillförlitlighet för sådana stora integrerade kretsar. I detta arbete modellerar vi livslängden för homogena mångakärniga system med hjälp av en lastdelning icke-reparerbar k-out-of-n:G-system med allmänna felfördelningar för inbyggda kärnor. I många kärnsystem kan en inbäddad kärna vara i drift, kallt standbyläge eller varmt standbyläge beroende på systemets redundans och arbetsbelastning. Vi använder sedan den föreslagna modellen för att analysera inverkan av olika redundanta system och konfigurationer på livslängden på mångakärnsystem.
En analytisk modell för livslängden på homogena mångakärnsystem föreslogs i REF.
On Modeling the Lifetime Reliability of Homogeneous Manycore Systems
{'venue': '2008 14th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing', 'journal': '2008 14th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}