Abstract-I detta papper, urval av test noder har studerats i stor utsträckning och effektiva tekniker föreslås. Två breda kategorier av metoder som kallas integrationsmetoder och uteslutningsmetoder föreslås. Strategier presenteras för att välja eller ta bort en test nod utan att påverka diagnos kapacitet. Exempel visar att dessa strategier ger mindre antal testnoder ibland. Fr.o.m. den felaktiga heltalskodade tabellen över testkretsen används sortering för att generera giltiga uppsättningar och minimala uppsättningar. Beräkningsordningen för dessa metoder visas vara linjärt beroende av antalet testnoder. Det är också proportionellt mot (/ log f) där "" är antalet fel. Detta är mycket snabbare än välkända metoder. Begreppet minimal uppsättning testnoder är nytt i analog krets feldiagnos. Polynom tid algoritmer föreslås i detta dokument för första gången att generera sådana uppsättningar.
Prasad och Babu REF föreslog begreppet minimal uppsättning testnoder i analog krets feldiagnos, och föreslagna polynom tid algoritmer för första gången för att generera sådana uppsättningar.
Selection of Test Nodes for Analog Fault Diagnosis in Dictionary Approach
{'venue': None, 'journal': None, 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}