Abstract-Soft fel tillförlitlighet blir alltmer en första-order design oro för mikroprocessorer, som ett resultat av högre transistortal, krympande enheter geometrier och sänkning av driftspänningar. Det är viktigt för designers att kunna validera om Soft Error Rate (SER) mål för sin design har uppnåtts, och hjälpa slutanvändare att välja processorn bäst lämpad för deras tillförlitlighet mål. Kunskapen om den observerbara värsta-fall SER gör det möjligt för designers att välja sin designpunkt, och bundna den värsta-fall sårbarhet vid den designpunkten. Vi betonar bristen på en metod för utvärdering av den övergripande observerbara värsta-fall SER. Därför finns det ett tydligt behov av ett så kallat stressmärke som bevisligen kan närma sig det observerbara värsta fallet SER. Det värsta tänkbara fallet kan användas för att identifiera flaskhalsar i tillförlitligheten, validera säkerhetsmarginaler som används för tillförlitlighetsdesign och identifiera brister i referenssviter som används för att utvärdera SER. Med utgångspunkt i en omfattande studie om hur mikroarkitekturberoende programegenskaper påverkar mjuka fel, tar vi fram de insikter som behövs för att utveckla en automatiserad och flexibel metodik för att generera ett strestecken som närmar sig maximal SER för en oordnad processor. Vi visar hur vår metodik gör det möjligt för arkitekter att kvantifiera effekterna av SERmitigation mekanismer på den värsta-fall SER av processorn. Stressmarken uppnår 1,4× högre SER i kärnan, 2,5× högre SER i DL1 och DTLB, och 1,5× högre SER i L2 jämfört med den högsta SER inducerad av SPEC CPU2006 och MiBench program.
Eftersom processorns sårbarhet beror på applikationen, fokuserar REF på att uppfylla behovet av ett strestecken som kan mäta den observerbara värsta fall mjuka felfrekvensen (SER).
AVF Stressmark: Towards an Automated Methodology for Bounding the Worst-Case Vulnerability to Soft Errors
{'venue': '2010 43rd Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture', 'journal': '2010 43rd Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}