Omfattningen av det informationsinnehåll som är förknippat med ett särskilt genomförande av en fysisk Unclonable Function (PUF) är av avgörande betydelse för säkerheten och förtroendet för nya Internet of Things (IoT) applikationer. Autentisering, i synnerhet, kräver att PUF att producera ett mycket stort antal utmaning-respons-par (CRP) och, av ännu större betydelse, kräver PUF att vara resistent mot kontradiktoriska attacker som försöker modellera och klona PUF (modell-building attacker). Entropi är av avgörande betydelse för PUF:s modellbyggande motstånd. En mängd olika mätvärden har föreslagits för rapportering av Entropy, där var och en mäter slumpmässigheten hos information inbäddad i PUF-genererade bitsträngar. I detta dokument rapporterar vi Entropy, MinEntropy, villkorlig MinEntropy, Interchip hamming avstånd och National Institute of Standards and Technology (NIST) statistiska testresultat med hjälp av bitsträngar som genereras av en Hardware-Embended Delayy PUF kallas HELP. Bitsträngarna genereras från data som samlats in i hårdvaruexperiment på 500 kopior av HELP som implementerats på en uppsättning Xilinx Zynq 7020 SoC Field Programmerbar Gate Arrays (FPGAs) som utsätts för temperatur- och spänningsförhållanden på industriell nivå. Särskilda testfall är konstruerade som avsiktligt skapar värsta fall korrelationer för bitstring generering. Våra resultat visar att de processer som föreslås inom HELP för att generera bitsträngar bidrar avsevärt till deras Entropy, och visar att klassisk återanvändning av PUF-komponenter, t.ex. banförseningar, inte resulterar i stora Entropy förluster som ofta rapporteras för andra PUF-arkitekturer.
Tid och resursutnyttjande av en typisk implementering av HELP redovisas i REF.
Analysis of Entropy in a Hardware-Embedded Delay PUF
{'venue': 'Cryptography', 'journal': 'Cryptography', 'mag_field_of_study': ['Engineering', 'Computer Science']}