Inbyggd RF-test är ett utmanande problem på grund av behovet av att mäta värdena för komplexa provningsspecifikationer på chip med precision för extern RF-testutrustning. BIT-teknik är nödvändig för att styra systemanpassningen under fältdriften. Tidigare forskning har visat att inbäddade RF-sensorer kan generera betydande information om RF-kretsprestanda. I detta dokument föreslår vi en testmetod som möjliggör effektiv BIT- och BIT-aktiverad inställning av RF-system. En testgenereringsmetod utvecklas som samoptimerar den tillämpade teststimulansen, typen av inbyggda sensorer, och systemsvarsmekanismerna för maximal noggrannhet av BIT-proceduren. Denna BIT-teknik används också för att utföra diagnostiska tester av sändaren. Den information som samlats in från diagnosen används för att ställa in sändaren för bättre prestanda. Simuleringsresultat visar att BIT-stödd diagnos och inställning kan utföras med god noggrannhet med den föreslagna metoden.
Ett annat paradigm för on-line-test och inställning av RF-system har införts i REF.
Built-in test enabled diagnosis and tuning of RF transmitter systems
{'venue': 'VLSI Design', 'journal': 'VLSI Design', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}