Abstract-svarande frågor med hjälp av vyer har visat sig vara effektiva för att fråga relationella och halvstrukturerade data. Detta papper undersöker detta problem för graf mönster frågor baserat på graf simulering. Vi föreslår en uppfattning av mönster inneslutning för att karakterisera graf mönster matchning med hjälp av graf mönster vyer. Vi visar att en mönsterfråga kan besvaras med hjälp av en uppsättning vyer om och endast om den finns i vyerna. Baserat på denna karakterisering utvecklar vi effektiva algoritmer för att svara på grafmönsterfrågor. Vi studerar också problem för att bestämma (minimal, minimum) inneslutning av mönsterfrågor. Vi etablerar deras komplexitet (från kubiktid till NPfullständig) och ger effektiva kontrollalgoritmer (ungefär när problemet är intractable). Dessutom, när en mönsterfråga inte finns i vyerna, studerar vi maximalt innehöll omskrivning för att hitta ungefärliga svar; vi visar att det är i kubik-tid att beräkna sådan omskrivning, och presentera en omskrivning algoritm. Vi verifierar experimentellt att dessa metoder effektivt kan besvara mönsterfrågor på stora verkliga grafer.
Fläkt et al. REF föreslår att grafmönsterfrågor besvaras med hjälp av vyer.
Answering Pattern Queries Using Views
{'venue': 'IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering', 'journal': 'IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}