Även om konstant teknisk skalning har resulterat i betydande fördelar, mindre enheter dimensioner, högre driftstemperaturer och elektriska fält har också bidragit till snabbare åldrande av enheten på grund av utslitning. Detta resulterar inte bara i kortare processorlivslängder, det leder till snabbare utslitning resulterande prestandanedbrytning med drifttid. I stället för att ta ett reaktivt tillvägagångssätt för att öka medvetenheten om tillförlitlighet föreslår vi en förebyggande väg mot begränsning av utslitning. Med tanke på den betydande värme- och stressvariationen mellan mikroprocessorernas komponenter fokuserar vi i detta arbete på en av de mest sannolika kandidaterna för överhettning och därmed tillförlitlighetsfel, registerfilen. Vi föreslår olika swearout-aware kompilator-directed register tilldelning tekniker som distribuerar stress framkallade utslitning i hela registret fil, i syfte att förbättra livslängden för registerfilen, med försumbar prestanda overhead. Vi jämför våra resultat med ett state-of-the-art termiskt medvetna sammanställningssystem för att visa den tydliga fördelen vår föreslagna utslitning-aware system har över värme-aware system när det gäller livstidsförbättring som kan nå upp till 20% för Bias Temperature Ostabil.
Wearout-aware kompilator-directed register tilldelning tekniker har föreslagits i REF som försöker distribuera stress-inducerad utslitning i registret fil.
Wearout-aware compiler-directed register assignment for embedded systems
{'venue': 'Thirteenth International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)', 'journal': 'Thirteenth International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}