Abstrakt. I dokumentet presenteras funktionsfördröjningstestgenereringsmetod för icke-skanniska synkrona sekventiella kretsar. Den icke-scan sekventiella kretsen representeras som den iterativa logikmatrismodellen bestående av k-kopior av kretsens kombinationslogik. Värdet k definierar antalet klockcykler. Programvaruprototypen används för att representera kretsens funktion. Felen beaktas endast på indata och på resultaten av modellen. Den slumpmässiga input stimuli genereras och väljs sedan enligt den föreslagna metoden. De experimentella resultaten visar överlägsenheten hos de stimuli för delay test som genereras på funktionell nivå med hjälp av det införda tillvägagångssättet mot de övergångsteststimuli som erhålls på grindnivå genom deterministisk testgenerator. Den funktionella delay-testgenereringsmetoden är särskilt användbar för kretsarna, när de långa testsekvenserna behövs för att upptäcka övergångsfel.
För att förbättra prestandan hos testgenerationen Bareisa et al. I REF föreslogs en metod för funktionsfördröjningstestgenerering.
Functional delay test generation approach using a software prototype of the circuit
{'venue': 'Comput. Sci. Inf. Syst.', 'journal': 'Comput. Sci. Inf. Syst.', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}