Abstract-Vi presenterar en HW/SW-plattform för upptäckt av fel och svagheter i entropikällor. Genom att dela upp verksamheten mellan hårdvara och programvara uppnår vi tillräcklig flexibilitet för att kontrollera testernas betydelsenivå. Detta tillvägagångssätt gör det också möjligt att dela resurser mellan olika tester och därigenom minska området och makten. Statistiska tester valdes ut från NIST testsviten. Vi föreslår flera versioner av hårdvara medprocessorer för övervakning av slumpmässiga bitsekvenser, från 52 skivor (5 tester) till 552 skivor (9 tester) på Spartan-6 FPGA. Vi är de första som genomför det seriella testet och det ungefärliga entropitestet för övervakning i luften.
REF genomför nio tester från NIST-sviten för on-the-fly-testning av verkliga slumptalsgeneratorer.
Embedded HW/SW platform for on-the-fly testing of true random number generators
{'venue': '2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)', 'journal': '2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}