Abstract-Negative Bias Temperature Iostabile (NBTI) är ett betydande tillförlitlighetsproblem för CMOS-kretsar i nanoskala. Dess effekter på kretstidpunkten kan vara särskilt uttalade för kretsar med standby-utrustade funktionella enheter eftersom dessa enheter kan utsättas för statisk NBTI-stress under längre tidsperioder. I detta dokument föreslås intern nodkontroll, där ingångarna till enskilda portar direkt manipuleras för att förhindra denna statiska NBTI-trötthet. Vi ger ett blandat heltal linjär program formulering för en optimal lösning på detta problem. Den optimala placeringen av intern nodkontroll ger en genomsnittlig minskning på 26,7 % av NBTI-inducerad fördröjning under en tioårsperiod för ISCAS85-riktmärkena. Vi finner att problemet är N P-komplett och presenterar en linjär-tids heuristisk som kan användas för att snabbt hitta nära-optimala lösningar. De heuristiska lösningarna ligger i genomsnitt inom 0,17 % av det optimala och alla var inom 0,60 % av det optimala.
Ett linjärt programmeringsbaserat tillvägagångssätt har föreslagits i REF, för att optimalt driva ingångarna till enskilda grindar för att förhindra statisk NBTI trötthet.
Minimization of NBTI performance degradation using internal node control
{'venue': "DATE '09", 'journal': None, 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}