Den största utmaningen i post-silikon felsökning är bristen på observerbarhet för interna signaler av ett chip. Trace buffer-teknik ger en plats för att ta itu med denna utmaning genom onlinespårning av några utvalda delstater. På grund av den begränsade bandbredden hos spårbufferten kan endast ett fåtal tillståndselement väljas för spårning. Den senaste forskningen har fokuserat på automatiserade spårsignalselektionsproblem för att maximera restaureringen av ospårade tillståndselement med hjälp av de få spårade signalerna. Befintliga tekniker kan kategoriseras i hög kvalitet men långsam "simuleringsbaserad" och lägre kvalitet men mycket snabbare "metrisk-baserade" tekniker. Detta arbete presenterar en ny spårsignalvalsteknik som har jämförbar eller bättre kvalitet än simuleringsbaserad samtidigt som den har en snabb körtid, jämförbar med de metriskbaserade teknikerna.
Löjtnant m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m för m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m m. I REF föreslogs en hybrid (metrisk-baserad och simuleringsbaserad) signalvalsteknik.
A Hybrid Approach for Fast and Accurate Trace Signal Selection for Post-Silicon Debug
{'venue': 'IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems', 'journal': 'IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}