Modellbaserad testfallsgenerering håller på att bli accepterad av programvaruutövarna. Fördelar med detta är tidig upptäckt av fel, minska programutveckling tid etc. På senare tid har forskare övervägt olika UML diagram för att generera testfall. Få arbeten på testfallsgenereringen med aktivitetsdiagram rapporteras i litteraturen. Det befintliga arbetet tar dock hänsyn till aktivitetsdiagram i metodomfång och följer främst UML 1.x för modellering. I detta dokument presenterar vi en metod för att generera testfall från aktivitetsdiagram med UML 2.0 syntax och med användningsfalls omfattning. Vi överväger ett test täckningskriterium, som kallas aktivitetsbana täckningskriterium. De testfall som genereras med vårt tillvägagångssätt är kapabla att upptäcka fler fel som synkroniseringsfel, loopfel till skillnad från de befintliga tillvägagångssätten.
Det hävdades att den genererade testsviten baserad på aktivitetsbanans täckningskriterium kunde avslöja fler synkroniserings- och loopfel än befintliga arbeten, men inga utvärderingsexperiment rapporterades.
A NOVEL APPROACH TO GENERATE TEST CASES FROM UML ACTIVITY DIAGRAMS
{'venue': 'Journal of Object Technology', 'journal': 'Journal of Object Technology', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}