Abstract-Physical unclonable funktioner (PUFs) kan extrahera chip-unique signaturer från integrerade kretsar (ICs) genom att utnyttja den okontrollerbara slumpmässighet på grund av variationer i tillverkningsprocessen. Dessa signaturer kan sedan användas för många hårdvarusäkerhetsprogram inklusive autentisering, antiförfalskning, IC-mätning, signaturgenerering och obfuscation. De flesta av dessa tillämpningar kräver dock felkorrigeringsmetoder för att producera konsekventa PUF-svar över olika miljöförhållanden. Detta papper presenterar en ny metod för att möjliggöra lätt, säker och tillförlitlig PUF-baserad autentisering. En maskin på två nivåer (FSM) föreslås för att korrigera felaktiga bitar som genereras av miljövariationer (t.ex. temperatur, spänning och åldersvariationer). I den föreslagna metoden kartläggs varje PEF-svar till en nyckel under designfasen. Den faktiska nyckeln kan bestämmas från PEF-svaret först efter chipet är fabricerad. Eftersom gjuteriet inte känner till nyckeln förhindrar det föreslagna tillvägagångssättet varumärkesförfalskning. Resultaten av den föreslagna metoden och andra tillämpningar diskuteras också. Våra experimentella resultat visar att kostnaden för den föreslagna självkorrigerande FSM på två nivåer är betydligt lägre än kostnaden för de vanliga felkorrigeringskoderna. Det visas att den föreslagna självkorrigerande FSM förbrukar ca 2× till 10× mindre yta och ca 20× till 100× mindre effekt än Bose-Chaudhuri-Hochquenghem koder.
En två-nivå FSM för PUF föreslås för att korrigera felaktiga bitar som genereras av miljövariationer (t.ex., temperatur, spänning och åldersvariationer) REF.
Reliable PUF-Based Local Authentication With Self-Correction
{'venue': 'IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems', 'journal': 'IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems', 'mag_field_of_study': ['Computer Science']}