Độ phản xạ nào được đo từ bề mặt của một chiều tới hạn?
Trong ngành công nghiệp bán dẫn, ánh sáng hồng ngoại có thể được sử dụng để mô tả các vật liệu như màng mỏng và cấu trúc rãnh định kỳ. Bằng cách đo độ phản xạ của ánh sáng từ bề mặt của wafer bán dẫn, chỉ số khúc xạ (n) và Hệ số tuyệt chủng (k) có thể được xác định thông qua các phương trình phân tán Forouhi-Bloomer. Độ phản xạ từ ánh sáng hồng ngoại cũng có thể được sử dụng để xác định kích thước, độ sâu và góc cạnh tới hạn của các cấu trúc rãnh tỷ lệ khung hình cao.